公开(公告)号：KR1020150045022A

公开(公告)日：2015-04-28

申请号：KR1020130123855

申请日：2013-10-17

Applicant: 성균관대학교산학협력단

Inventor： 나완수 ,  김태호 ,  김종현

IPC: G01R1/067 ,  G01R31/28

Abstract: 프로브시스템이개시된다. 프로브시스템은검사대상인회로기판을상기베이스플레이트에대해수직하게파지할수 있는지지부재, 회로기판의도전성패턴과접촉하는탐침을구비하는프로브팁부재, 프로브팁부재와결합하여프로팁부재를원하는위치로이동시킬수 있는가이드팔부재및 프로브팁부재의탐침에전기적으로연결되어회로기판에형성된도전성패턴의전자기적특성을분석하는네트워크분석장치를포함한다. 또한, 이프로브시스템을이용한네트워크분석장치의멀티포트보정시에유용한캘리브레이션키트가개시된다.

Abstract translation: 公开了一种探针系统，其包括：支撑构件，其垂直地抓住要检查的电路板抵靠基板; 具有与所述电路板的导电图案接触的探针的探针尖端部件; 引导臂构件，其通过与探针头构件组合而将探针移动到期望位置; 网络分析装置，其通过电连接到所述探针末端构件的探针来分析形成在所述电路板上的导电图案的电磁特性。 此外，公开了一种校准套件，其在使用该探针系统执行网络分析装置的多端口校准时是有用的。

公开(公告)号：KR101569251B1

公开(公告)日：2015-11-16

申请号：KR1020130123855

申请日：2013-10-17

Applicant: 성균관대학교산학협력단

Inventor： 나완수 ,  김태호 ,  김종현

IPC: G01R1/067 ,  G01R31/28

Abstract: 프로브시스템이개시된다. 프로브시스템은검사대상인회로기판을상기베이스플레이트에대해수직하게파지할수 있는지지부재, 회로기판의도전성패턴과접촉하는탐침을구비하는프로브팁부재, 프로브팁부재와결합하여프로팁부재를원하는위치로이동시킬수 있는가이드팔부재및 프로브팁부재의탐침에전기적으로연결되어회로기판에형성된도전성패턴의전자기적특성을분석하는네트워크분석장치를포함한다. 또한, 이프로브시스템을이용한네트워크분석장치의멀티포트보정시에유용한캘리브레이션키트가개시된다.

公开(公告)号：KR1020170000276A

公开(公告)日：2017-01-02

申请号：KR1020150089309

申请日：2015-06-23

Applicant: 삼성전자주식회사 ,  성균관대학교산학협력단

Inventor： 오경록 ,  원충연 ,  허석균 ,  신민호 ,  김도윤 ,  김종현 ,  김한석 ,  전재호 ,  최정아

IPC: H02J7/04 ,  H02J7/00 ,  H02J9/06

Abstract: 본발명의일 실시예에따른기지국의배터리의충전및 방전을제어하는시스템은배터리를충전또는방전하는충전부및 전기료순서대로하루의시간대를정렬하고, 상기정렬된시간대중에서상기전기료가가장싼 하나이상의시간대를충전시간으로선택하고, 상기정렬된시간대중에서상기전기료가가장비싼하나이상의시간대를방전시간으로선택하고, 상기선택된충전시간에상기충전부에서상기배터리를충전하도록제어하고, 상기선택된방전시간에상기충전부에서상기배터리를방전하도록제어하는제어부를포함하여, 기지국운용비용을절감할수 있다.

公开(公告)号：KR101552440B1

公开(公告)日：2015-09-10

申请号：KR1020140077534

申请日：2014-06-24

Applicant: 성균관대학교산학협력단

Inventor： 나완수 ,  김태호 ,  김종현

IPC: G01R1/073 ,  G01R31/28

Abstract: 프로브 시스템이 개시된다. 프로브 시스템은 베이스 플레이트의 상부에 배치되고, 회로기판을 베이스 플레이트에 대해 수직하게 파지할 수 있는 지지부재; 회로기판에 형성된 도전성 패턴과 접촉하는 탐침을 구비하는 적어도 하나 이상의 프로브팁 부재; 제1 수평방향을 따라 왕복 운동이 가능하게 베이스 플레이트에 결합된 제1 수평운동부, 제2 수평방향을 따라 왕복 운동이 가능하게 제1 수평운동부에 결합된 제2 수평운동부, 제2 수평운동부의 측면에 결합되고 회전운동이 가능한 회전운동부 및 회전운동부 및 프로브팁 부재와 결합하는 가이드부를 구비하는 가이드팔 부재; 및 프로브팁 부재의 탐침에 전기적으로 연결되어 상기 도전성 패턴의 전자기적 특성을 분석하는 네트워크 분석 장치를 포함한다.

Abstract translation: 公开了一种探针系统。 探针系统包括：支撑构件，其布置在基板的上侧并且夹持电路板垂直于基板;至少一个探针尖端构件，其包括与形成在基板上的导电图案相接触的探针 引导臂构件，其包括与所述基板组合以在第一水平方向上往复运动的第一水平运动单元，与所述基板组合以在第二水平方向上往复运动的第二水平运动单元， 旋转运动单元，其与第二水平运动单元的侧面结合并且可以旋转;以及引导单元，其与旋转运动单元和探针末端构件组合，以及网络分析装置，其与 探针头部件的探针，并分析导电图案的电磁特性。