-
公开(公告)号：KR101552440B1
公开(公告)日：2015-09-10
申请号：KR1020140077534
申请日：2014-06-24
Applicant: 성균관대학교산학협력단
Abstract: 프로브 시스템이 개시된다. 프로브 시스템은 베이스 플레이트의 상부에 배치되고, 회로기판을 베이스 플레이트에 대해 수직하게 파지할 수 있는 지지부재; 회로기판에 형성된 도전성 패턴과 접촉하는 탐침을 구비하는 적어도 하나 이상의 프로브팁 부재; 제1 수평방향을 따라 왕복 운동이 가능하게 베이스 플레이트에 결합된 제1 수평운동부, 제2 수평방향을 따라 왕복 운동이 가능하게 제1 수평운동부에 결합된 제2 수평운동부, 제2 수평운동부의 측면에 결합되고 회전운동이 가능한 회전운동부 및 회전운동부 및 프로브팁 부재와 결합하는 가이드부를 구비하는 가이드팔 부재; 및 프로브팁 부재의 탐침에 전기적으로 연결되어 상기 도전성 패턴의 전자기적 특성을 분석하는 네트워크 분석 장치를 포함한다.
Abstract translation: 公开了一种探针系统。 探针系统包括：支撑构件，其布置在基板的上侧并且夹持电路板垂直于基板;至少一个探针尖端构件，其包括与形成在基板上的导电图案相接触的探针 引导臂构件，其包括与所述基板组合以在第一水平方向上往复运动的第一水平运动单元，与所述基板组合以在第二水平方向上往复运动的第二水平运动单元， 旋转运动单元，其与第二水平运动单元的侧面结合并且可以旋转;以及引导单元，其与旋转运动单元和探针末端构件组合，以及网络分析装置，其与 探针头部件的探针，并分析导电图案的电磁特性。
-
Patent Agency Ranking
-
公开(公告)号：KR101622827B1
公开(公告)日：2016-05-19
申请号：KR1020140045189
申请日：2014-04-16
Applicant: 성균관대학교산학협력단
IPC: H03K19/20 , H03K3/3565
CPC classification number: H03K19/0016 , H03K3/3565 , H03K19/018507 , H03K19/018521 , H03K19/20
Abstract: 슈미트트리거회로를이용한 AND 게이트및 OR 게이트를개시한다. 슈미트트리거회로를이용한 AND 게이트는두 개의입력신호들을입력받아 NAND 논리연산을수행하여제1 출력신호를출력하는 NAND 게이트; 및상기제1 출력신호를인버팅하여제2 출력신호를출력하는 DTMOS 인버터를포함하고, 상기제2 출력신호를이용하여상기 NAND 게이트의문턱전압을조절할수 있다. 슈미트트리거회로를이용한 OR 게이트는두 개의입력신호들을입력받아 NOR 논리연산을수행하여제1 출력신호를출력하는 NOR 게이트; 및상기제1 출력신호를인버팅하여제2 출력신호를출력하는 DTMOS 인버터를포함하고, 상기제2 출력신호를이용하여상기 NOR 게이트의문턱전압을조절할수 있다.
-
公开(公告)号：KR1020150045022A
公开(公告)日：2015-04-28
申请号：KR1020130123855
申请日：2013-10-17
Applicant: 성균관대학교산학협력단
Abstract: 프로브시스템이개시된다. 프로브시스템은검사대상인회로기판을상기베이스플레이트에대해수직하게파지할수 있는지지부재, 회로기판의도전성패턴과접촉하는탐침을구비하는프로브팁부재, 프로브팁부재와결합하여프로팁부재를원하는위치로이동시킬수 있는가이드팔부재및 프로브팁부재의탐침에전기적으로연결되어회로기판에형성된도전성패턴의전자기적특성을분석하는네트워크분석장치를포함한다. 또한, 이프로브시스템을이용한네트워크분석장치의멀티포트보정시에유용한캘리브레이션키트가개시된다.
Abstract translation: 公开了一种探针系统，其包括：支撑构件，其垂直地抓住要检查的电路板抵靠基板; 具有与所述电路板的导电图案接触的探针的探针尖端部件; 引导臂构件，其通过与探针头构件组合而将探针移动到期望位置; 网络分析装置，其通过电连接到所述探针末端构件的探针来分析形成在所述电路板上的导电图案的电磁特性。 此外，公开了一种校准套件，其在使用该探针系统执行网络分析装置的多端口校准时是有用的。
-
公开(公告)号：KR1020150119618A
公开(公告)日：2015-10-26
申请号：KR1020140045189
申请日：2014-04-16
Applicant: 성균관대학교산학협력단
IPC: H03K19/20 , H03K3/3565
CPC classification number: H03K19/0016 , H03K3/3565 , H03K19/018507 , H03K19/018521 , H03K19/20
Abstract: 슈미트트리거회로를이용한 AND 게이트및 OR 게이트를개시한다. 슈미트트리거회로를이용한 AND 게이트는두 개의입력신호들을입력받아 NAND 논리연산을수행하여제1 출력신호를출력하는 NAND 게이트; 및상기제1 출력신호를인버팅하여제2 출력신호를출력하는 DTMOS 인버터를포함하고, 상기제2 출력신호를이용하여상기 NAND 게이트의문턱전압을조절할수 있다. 슈미트트리거회로를이용한 OR 게이트는두 개의입력신호들을입력받아 NOR 논리연산을수행하여제1 출력신호를출력하는 NOR 게이트; 및상기제1 출력신호를인버팅하여제2 출력신호를출력하는 DTMOS 인버터를포함하고, 상기제2 출력신호를이용하여상기 NOR 게이트의문턱전압을조절할수 있다.
Abstract translation: 公开了使用施密特触发电路的与门和或门。 使用施密特触发电路的与门包括：与非门，其通过在接收到两个输入信号之后执行NAND逻辑运算而输出第一输出信号;以及DTMOS反相器，其通过反相第一输出信号输出第二输出信号，并且可以调整 使用第二输出信号的NAND门的阈值电压。 使用施密特触发电路的或门包括NOR门，其通过在接收到两个输入信号之后执行NOR逻辑运算而输出第一输出信号，并且DTMOS反相器通过反相第一输出信号输出第二输出信号，并且可以调整阈值 使用第二输出信号的NAND门的电压。
-
公开(公告)号：KR101569251B1
公开(公告)日：2015-11-16
申请号：KR1020130123855
申请日：2013-10-17
Applicant: 성균관대학교산학협력단
Abstract: 프로브시스템이개시된다. 프로브시스템은검사대상인회로기판을상기베이스플레이트에대해수직하게파지할수 있는지지부재, 회로기판의도전성패턴과접촉하는탐침을구비하는프로브팁부재, 프로브팁부재와결합하여프로팁부재를원하는위치로이동시킬수 있는가이드팔부재및 프로브팁부재의탐침에전기적으로연결되어회로기판에형성된도전성패턴의전자기적특성을분석하는네트워크분석장치를포함한다. 또한, 이프로브시스템을이용한네트워크분석장치의멀티포트보정시에유용한캘리브레이션키트가개시된다.
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.018 seconds)
