Abstract:
리소그래피 장치를 제어하는 방법이 제공되며, 상기 방법은, 선택된 조명 모드를 유도하도록 상기 조명 시스템을 설정하는 단계; 상기 장치의 제 1 파라미터의 값을 측정하는 단계; 상기 제 1 파라미터의 측정된 값, 그리고 상기 리소그래피 장치의 모델을 이용하여 복수의 피처들을 포함하는 테스트 패턴의 일 피처의 투영된 이미지의 제 2 파라미터의 값을 계산하는 단계; 및 상기 제 2 파라미터의 계산된 값을 참조하여 상기 리소그래피 장치를 제어하는 단계를 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A method for controlling a lithography device, a method for manufacturing a device, the lithography device, a computer program product and a method for improving a mathematical model of a lithographic process are provided to predict an effect of imaging conditions for features or feature parameters by using a model. CONSTITUTION: A lighting system is set for inducing a selected lighting mode(S2). A first parameter value of a device is measured(S4). The measured first parameter value, and a second parameter value of a reflected image of a task feature of a test pattern including a plurality of features by using a model of the lithography device are calculated(S5). The lithography device is controlled with the calculated second parameter value(S6).
Abstract:
디바이스 제조 방법은 조명 시스템을 이용하여 방사선 빔을 컨디셔닝하는 단계를 포함한다. 컨디셔닝하는 단계는 방사선 빔을 원하는 조명 모드로 전환하도록 조명 시스템의 개별적으로 제어가능한 요소들의 어레이 및 연계된 광학 구성요소들을 제어하는 단계를 포함하고, 제어하는 단계는 할당 기법에 따라 조명 모드의 상이한 부분들에 대해 상이한 개별적으로 제어가능한 요소들을 할당하는 단계를 포함하며, 할당 기법은 조명 모드, 방사선 빔 또는 둘 모두의 1 이상의 특성에 있어서 원하는 수정을 제공하도록 선택된다. 또한, 상기 방법은 패터닝된 방사선 빔을 형성하기 위해 방사선 빔의 단면에 패턴을 패터닝하는 단계, 및 기판의 타겟부 상에 패터닝된 방사선 빔을 투영하는 단계를 포함한다.
Abstract:
A lithographic apparatus and a lithographic method are provided to perform rapidly a switching operation between two or more masks or patterns formed on a controllable patterning device. A radiation beam(PB) is irradiated by an illumination system(IL). A pattern is imparted in a cross-section of the radiation beam by using a patterning device(MA). The patterned radiation beam is projected onto a target part of a substrate(W). The illumination system includes an array of individually controllable elements and related optical components arranged to convert the radiation beam into a desired illumination mode. An allocation scheme is used to allocate differently the individually controllable elements to different parts of the illumination mode. The allocation scheme is selected to provide a desired modification of one or more properties of the illumination mode or of the radiation beam.