아날로그 지연 고정 루프를 이용한 ADC 비교기
    1.
    发明授权
    아날로그 지연 고정 루프를 이용한 ADC 비교기 有权
    使用模拟延迟锁定环的ADC比较器

    公开(公告)号:KR101515345B1

    公开(公告)日:2015-04-27

    申请号:KR1020130120241

    申请日:2013-10-10

    Inventor: 김재준 박경환

    Abstract: 본 발명의 아날로그 지연 고정 루프를 이용한 ADC 비교기는, 입력 신호의 레벨과 n비트의 아날로그 출력신호의 레벨을 비교하여 하이 또는 로우 레벨의 비교신호를 출력하는 비교기와, 출력되는 상기 비교신호를 입력으로 하여 그 위상차를 검출하는 위상 검출기와, 상기 위상 검출기로부터 제공되는 위상차 검출신호에 대한 전류 소오스의 제어를 통해 출력 전압을 업 또는 다운시킴으로써, 상기 비교기에서의 오프셋을 보정하기 위한 제어신호를 발생하여 상기 비교기로 공급하는 전하 펌프를 포함할 수 있다.

    Abstract translation: 使用本发明的模拟延迟锁定环ADC比较器,所述比较信号的输入和用于比较的水平和信号的n比特的输入模拟输出信号的电平的比较器输出高电平或低电平的比较信号,输出 所产生的相位差的相位检测器,用于检测用于校正通过电流源从相位检测器所提供的相位差检测信号的控制在比较器的偏移量通过向上或向下的输出电压的控制信号,其中,所述 并且可能包括一个给比较器供电的电荷泵。

    아날로그 지연 고정 루프를 이용한 ADC 비교기
    2.
    发明公开
    아날로그 지연 고정 루프를 이용한 ADC 비교기 有权
    ADC比较器使用模拟延时锁定环路

    公开(公告)号:KR1020150041819A

    公开(公告)日:2015-04-20

    申请号:KR1020130120241

    申请日:2013-10-10

    Inventor: 김재준 박경환

    Abstract: 본발명의아날로그지연고정루프를이용한 ADC 비교기는, 입력신호의레벨과 n비트의아날로그출력신호의레벨을비교하여하이또는로우레벨의비교신호를출력하는비교기와, 출력되는상기비교신호를입력으로하여그 위상차를검출하는위상검출기와, 상기위상검출기로부터제공되는위상차검출신호에대한전류소오스의제어를통해출력전압을업 또는다운시킴으로써, 상기비교기에서의오프셋을보정하기위한제어신호를발생하여상기비교기로공급하는전하펌프를포함할수 있다.

    Abstract translation: 使用本发明的模拟延迟锁定环的ADC比较器包括:比较器,用于通过将输入信号的电平与n位的模拟信号的输出电平的电平进行比较来输出高电平或低电平的比较信号; 相位检测器,用于通过输入输出比较信号来检测相位差; 通过对从相位检测器提供的相位差检测信号的电流源的控制,上下输出电压; 以及电荷泵,用于通过产生用于向比较器提供控制信号以校正比较器的偏移。

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