전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법
    2.
    发明授权
    전자소자가 실장된 전자모듈의 수명정량평가방법 有权
    一种评估安装有电子装置的电子模块的使用寿命的方法

    公开(公告)号:KR101779707B1

    公开(公告)日:2017-09-19

    申请号:KR1020160039095

    申请日:2016-03-31

    Abstract: 자동차나원자력발전소등의구동에사용되는전자소자가실장된전자모듈의수명정량평가방법이제안된다. 본발명에따른전자소자가실장된전자모듈의수명정량평가방법은전자모듈에포함되는전자소자에고장유발원인을인가하는고장유발원인인가단계; 전자소자의수명과관련된특성값을획득하는특성값획득단계; 전자모듈이고장상태가될 때까지단계들을반복하는단계; 및전자소자의평균수명을, 고장유발원인이인가되지않은초기전자소자의특성값인초기특성값과전자모듈이고장상태가된 때의최후전자소자의최후특성값의차이에대한특성값의비율을연산하여전자소자의수명을획득하는수명획득단계; 및전자소자의수명을전자모듈의수명과매칭시키는단계;를포함한다.

    Abstract translation: 不再需要用于评估安装有用于驱动汽车或核电站的电子装置的电子模块的寿命的方法。 根据本发明的用于评估安装有电子设备的电子模块的寿命的方法包括以下步骤:使故障原因被应用于包括在电子模块中的电子设备; 特征量取得步骤,取得与所述电子设备的寿命相关的特性值; 重复这些步骤直到电子模块处于失败状态; 并且当电子模块变为故障状态时,特征值与初始特征值与作为未引起故障原因的初始电子设备的特征值之间的差异与最后电子设备的最终特征值之间的比率, 寿命获取步骤,获取电子设备的寿命; 并将电子设备的使用寿命与电子模块的使用寿命相匹配。

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