公开(公告)号：KR1020180072954A

公开(公告)日：2018-07-02

申请号：KR1020160176263

申请日：2016-12-22

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 천성일 ,  오원욱 ,  강소연

IPC: H02S50/10 ,  H01L31/042 ,  G01R22/06

CPC classification number: Y02E10/50 ,  H02S50/10 ,  G01R22/06 ,  H01L31/042 ,  Y02E10/56

Abstract: 보다정확한태양전지모듈발전량예측이가능하고, 이와함께열화율판단이가능한태양전지모듈발전량예측방법및 예측장치가제안된다. 본발명에따른태양전지모듈발전량예측방법은태양전지모듈로부터측정된일사량(A), 모듈온도(B) 및발전량(C)를포함하는측정데이터를얻는제1단계; 측정데이터중 제1구간에서얻은측정데이터로부터일사량(A1) 및모듈온도(B1)와발전량(C1)의상관관계를복수개획득하는제2단계; 제1구간에서획득한상관관계에따라제2구간에서측정된일사량(A2) 및모듈온도(B2)를이용하여예측된예측발전량(Cp)을획득하는제3단계; 제2구간에서측정된측정발전량(Cm2)과예측발전량(Cp)을비교하여상관관계중 가장정확한최적상관관계를획득하는제4단계; 및예측발전량(Cp) 중최적상관관계에따라예측된예측발전량(Cp)을선택하는제5단계;를포함한다.

公开(公告)号：KR1020170023428A

公开(公告)日：2017-03-06

申请号：KR1020150118531

申请日：2015-08-24

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 천성일 ,  박노창 ,  오원욱 ,  김동환 ,  배수현 ,  손유승

IPC: H02S50/10 ,  G01R31/40 ,  B32B27/30 ,  H01L31/0392 ,  H01L31/18 ,  H01L31/048

CPC classification number: Y02E10/50

Abstract: 본발명은태양전지 PID 특성시험방법에관한것이다. 본발명은태양전지에 PID(Potential Induced Degradation)를추정하기위한오염물질을증착하여상기태양전지를열화시키는태양전지열화단계, 상기오염물질이증착되어있는태양전지의일면에제1 도전막을형성하는제1 도전막형성단계, 상기오염물질이증착되어있는태양전지의타면에제2 도전막을형성하는제2 도전막형성단계및 상기제1 도전막과상기제2 도전막을매개로상기오염물질이증착되어있는태양전지에시험전압을인가하여 PID 특성을추출하는 PID 특성추출단계를포함한다. 본발명에따르면, 태양전지모듈이아닌태양전지자체에대하여 PID 특성을시험함으로써 PID 시험과정을간략화할수 있고비용측면에서의효율성을향상시킬수 있으며, PID 특성시험을위해소요되는시간을크게단축하면서도 PID 특성을신뢰성있게시험할수 있는효과가있다.

公开(公告)号：KR101882106B1

公开(公告)日：2018-08-24

申请号：KR1020160176263

申请日：2016-12-22

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 천성일 ,  오원욱 ,  강소연

IPC: H02S50/10 ,  H01L31/042 ,  G01R22/06

CPC classification number: Y02E10/50

Abstract: 보다정확한태양전지모듈발전량예측이가능하고, 이와함께열화율판단이가능한태양전지모듈발전량예측방법및 예측장치가제안된다. 본발명에따른태양전지모듈발전량예측방법은태양전지모듈로부터측정된일사량(A), 모듈온도(B) 및발전량(C)를포함하는측정데이터를얻는제1단계; 측정데이터중 제1구간에서얻은측정데이터로부터일사량(A1) 및모듈온도(B1)와발전량(C1)의상관관계를복수개획득하는제2단계; 제1구간에서획득한상관관계에따라제2구간에서측정된일사량(A2) 및모듈온도(B2)를이용하여예측된예측발전량(Cp)을획득하는제3단계; 제2구간에서측정된측정발전량(Cm2)과예측발전량(Cp)을비교하여상관관계중 가장정확한최적상관관계를획득하는제4단계; 및예측발전량(Cp) 중최적상관관계에따라예측된예측발전량(Cp)을선택하는제5단계;를포함한다.

公开(公告)号：KR101831048B1

公开(公告)日：2018-02-21

申请号：KR1020160036027

申请日：2016-03-25

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 천성일 ,  오원욱

IPC: H02S50/10 ,  H01L31/18 ,  G01R31/40

CPC classification number: Y02P70/521

Abstract: PID 시험과정을간략화할수 있고비용측면에서의효율성을향상시킬수 있으며, PID 특성시험을위해소요되는시간을크게단축하면서도 PID 특성을신뢰성있게시험할수 있는태양전지 PID 특성시험용시트및 그의제조방법이제안된다. 본발명에따른태양전지 PID 특성시험용시트는고분자수지층및 고분자수지층의적어도일면또는고분자수지층내에포함되는태양전지 PID 특성유발입자를포함한다.

公开(公告)号：KR1020170111147A

公开(公告)日：2017-10-12

申请号：KR1020160036027

申请日：2016-03-25

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 천성일 ,  오원욱

IPC: H02S50/10 ,  H01L31/18 ,  G01R31/40

CPC classification number: H02S50/10 ,  B32B27/306 ,  B32B2457/12 ,  G01R31/40 ,  H01L31/18 ,  Y02E10/50

Abstract: PID 시험과정을간략화할수 있고비용측면에서의효율성을향상시킬수 있으며, PID 특성시험을위해소요되는시간을크게단축하면서도 PID 특성을신뢰성있게시험할수 있는태양전지 PID 특성시험용시트및 그의제조방법이제안된다. 본발명에따른태양전지 PID 특성시험용시트는고분자수지층및 고분자수지층의적어도일면또는고분자수지층내에포함되는태양전지 PID 특성유발입자를포함한다.

Abstract translation: 可以简化PID测试程序，提高成本效率，大大减少PID特性测试所需的时间，并且不能可靠地测试PID特性。 根据本发明的太阳能电池PID特性测试片包括包含在聚合物树脂层和聚合物树脂层的至少一个表面中或聚合物树脂层中的太阳能电池PID特性感应粒子。

公开(公告)号：KR101779707B1

公开(公告)日：2017-09-19

申请号：KR1020160039095

申请日：2016-03-31

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 천성일 ,  김양섭 ,  오원욱 ,  김동신

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/00 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2642 ,  G01R31/003 ,  G01R31/2621 ,  G01R31/2632 ,  G01R31/2817 ,  G01R31/2837

Abstract: 자동차나원자력발전소등의구동에사용되는전자소자가실장된전자모듈의수명정량평가방법이제안된다. 본발명에따른전자소자가실장된전자모듈의수명정량평가방법은전자모듈에포함되는전자소자에고장유발원인을인가하는고장유발원인인가단계; 전자소자의수명과관련된특성값을획득하는특성값획득단계; 전자모듈이고장상태가될 때까지단계들을반복하는단계; 및전자소자의평균수명을, 고장유발원인이인가되지않은초기전자소자의특성값인초기특성값과전자모듈이고장상태가된 때의최후전자소자의최후특성값의차이에대한특성값의비율을연산하여전자소자의수명을획득하는수명획득단계; 및전자소자의수명을전자모듈의수명과매칭시키는단계;를포함한다.

Abstract translation: 不再需要用于评估安装有用于驱动汽车或核电站的电子装置的电子模块的寿命的方法。 根据本发明的用于评估安装有电子设备的电子模块的寿命的方法包括以下步骤：使故障原因被应用于包括在电子模块中的电子设备; 特征量取得步骤，取得与所述电子设备的寿命相关的特性值; 重复这些步骤直到电子模块处于失败状态; 并且当电子模块变为故障状态时，特征值与初始特征值与作为未引起故障原因的初始电子设备的特征值之间的差异与最后电子设备的最终特征值之间的比率， 寿命获取步骤，获取电子设备的寿命; 并将电子设备的使用寿命与电子模块的使用寿命相匹配。