公开(公告)号：KR101090448B1

公开(公告)日：2011-12-06

申请号：KR1020100017207

申请日：2010-02-25

Applicant: 충남대학교산학협력단

Inventor： 이희덕 ,  박상욱

IPC: G01R27/26

Abstract: 커패시턴스 측정 장치는 내부에 온칩 형태로 구현된 내부 펄스 발생부를 포함하며, 내부 펄스 발생부는 제1 제어 신호 및 제2 제어 신호를 각각 생성하여 출출력한다. 제1 제어 신호에 따라 제1 및 제3 트랜지스터가 동작하고, 제2 제어 신호에 따라 제1 트랜지스터와 직렬로 연결된 제2 트랜지스터가 동작하고, 제2 제어 신호에 따라 제3 트랜지스터와 직렬로 연결된 제3 트랜지스터가 동작하면서, 제3 트랜지스터와 제4 트랜지스터 사이의 노드에 연결된 측정 커패시터의 충전 상태가 가변되며, 측정 커패시터의 커패시턴스가 측정된다.

公开(公告)号：KR1020110087186A

公开(公告)日：2011-08-02

申请号：KR1020100017207

申请日：2010-02-25

Applicant: 충남대학교산학협력단

Inventor： 이희덕 ,  박상욱

IPC: G01R27/26

CPC classification number: G01R27/2605 ,  G01R29/02 ,  G01R31/2879

Abstract: PURPOSE: An apparatus for measuring capacitance using an on-chip pulse generator is provided to precisely measuring minute capacitance by reducing the distortion of a signal which activates a transistor. CONSTITUTION: An inside pulse generating unit(30) outputs a first control signal and a second controlling signal. A comparison unit(10) comprises a first and a second transistor which are operated according to the first and the second controlling signal. A measuring unit(20) comprises a third transistor and a fourth transistor which are operated according to the first and the second controlling signal. A measurement capacitor(C1) is connected to the measuring unit. The state of charge is varied by the operation of the third and fourth transistor.

Abstract translation: 目的：提供使用片上脉冲发生器测量电容的装置，通过减少激活晶体管的信号的失真来精确测量微小电容。 构成：内部脉冲发生单元（30）输出第一控制信号和第二控制信号。 比较单元（10）包括根据第一和第二控制信号操作的第一和第二晶体管。 测量单元（20）包括根据第一和第二控制信号操作的第三晶体管和第四晶体管。 测量电容器（C1）连接到测量单元。 通过第三和第四晶体管的操作来改变充电状态。