기계학습을 이용한 페로브스카이트의 구조 분석 방법

    公开(公告)号:KR102224466B1

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:KR1020180136190

    申请日:2018-11-07

    Abstract: 본발명은주사투과전자현미경(STEM)을통해얻어진데이터의특징들을 CNN 기법을이용하여, 원자배열위치, 특히산소팔면체구조를수 피코미터(picometer) 단위의수준까지분석하는방법에관한것이다. 본발명에따른방법은, (a) 원자구조시뮬레이터로원자이미지를얻는단계; (b) CNN 모델에상기원자이미지를학습시키는단계; 및 (c) TEM 또는 STEM을사용하여실제물질에대해원자이미지를획득한후, 상기학습된 CNN 모델에적용하는단계;를포함한다.

    저차원 재료의 원자 이미지 분석 방법

    公开(公告)号:KR102253227B1

    公开(公告)日:2021-05-18

    申请号:KR1020190158224

    申请日:2019-12-02

    Abstract: 본발명은주사투과전자현미경을통하여얻어진이미지의특징을인공지능학습법중의하나인지도학습을통하여학습하고, 이미지에서저차원재료가가질수 있는결함, 특히원자가본래자리에비어있거나원자위치에추가되는등의점 결함의구조적인정보를얻어내는분석기술에관한것이다. 본발명에따른분석방법은, (a) 시뮬레이션을통해결함이포함된저차원재료의주사투과전자현미경이미지를제작하여훈련데이터를만드는단계; (b) 상기훈련데이터를사용한머신러닝을통해예측모델을도출하는단계; 및 (c) 주사투과전자현미경을이용하여저차원재료에대한이미지를얻고, 상기예측모델을사용하여결함을분석하는단계;를포함하며, 상기훈련데이터는상기시뮬레이션에의한주사투과전자현미경이미지중에서, 상기저차원재료의유닛셀(unit cell) 보다작은프리미티브유닛셀(primitive unit cell)을선택하여만드는것을특징으로한다.

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