公开(公告)号：KR100345322B1

公开(公告)日：2002-07-24

申请号：KR1020000001334

申请日：2000-01-12

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 이문호 ,  왕샤오동 ,  신태주 ,  이병두 ,  이한섭 ,  송현훈 ,  조길원

IPC: G01N23/00

Abstract: 본 발명은 방사광 소각산란 측정장치에 관한 것으로서, 방사광 소각산란 측정장치는, 입력 방사광이 통과하면서 그 구조를 분석할 소정 시료와 반응하여 산란되고 그 산란된 신호가 출력되는 빔 라인; 빔 라인을 통과하는 방사광을 제어하기 위해 빔 라인의 소정 부분들을 제어하는 빔 라인 통제부; 빔 라인을 통과한 산란된 방사광 신호를 검출하는 신호 검출부; 빔 라인 통제부와 통신하고, 신호 검출부로부터 수신한 신호를 저장 및 디스플레이하는 주제어부를 포함한다.
본 발명에 의하면, 주제어부에서 측정과 관련된 모든 장치를 일괄적으로 제어하고 산란 데이터 분석에 필요한 데이터를 실시간으로 측정함으로써 실험의 정확도를 높이고 고분자의 구조분석에 필요한 소각산란 실험을 용이하게 실시할 수 있다.

公开(公告)号：KR1020010069086A

公开(公告)日：2001-07-23

申请号：KR1020000001334

申请日：2000-01-12

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 이문호 ,  왕샤오동 ,  신태주 ,  이병두 ,  이한섭 ,  송현훈 ,  조길원

IPC: G01N23/00

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N2223/054 ,  G01N2223/203 ,  G01N2223/306 ,  G01N2223/3103 ,  G01N2223/502

Abstract: PURPOSE: A small-angle scattering measuring device for radiate light is provided to increase the precision of experiments by integrally controlling all parts relating to the measurement and measuring data required for analyzing scattering data by a main control part, and conveniently carry out the small-angle scattering experiments required for analyzing the structure of a high molecule. CONSTITUTION: A small-angle scattering measuring method for radiate light includes a beam line(100), through which input radiate light passes and is scattered by the reaction with a predetermined sample for analyze the structure of the sample, for outputting a signal indicating the scattering, a beam line control part(110) for controlling predetermined parts of the beam line to control the radiate light passing through the beam line, a signal detection part(120) for detecting a signal of the scattered radiate light which passes the beam line, and a main control part(130) for communicating with the beam line control part and storing and displaying the signals received from the signal detection part.

Abstract translation: 目的：提供一种用于辐射光的小角度散射测量装置，通过整体控制与主控部分分析散射数据所需的测量和测量数据相关的所有部分，提高实验精度， 分析高分子结构所需的角散射实验。 构成：用于辐射光的小角度散射测量方法包括光束线（100），输入辐射光通过该线束通过并通过与预定样本的反应而散射，用于分析样本的结构，以输出指示 用于控制光束线的预定部分以控制通过光束线的辐射光的光束线控制部分（110），用于检测通过光束线的散射辐射光的信号的信号检测部分（120） 以及用于与光束线控制部进行通信并存储并显示从信号检测部接收的信号的主控制部（130）。