公开(公告)号：KR100635558B1

公开(公告)日：2006-10-17

申请号：KR1020050046944

申请日：2005-06-01

Applicant: 학교법인 포항공과대학교 ,  포항공과대학교 산학협력단

Inventor： 조동우 ,  임종환 ,  이세진

IPC: G06F19/00

Abstract: A method for making a shape-based map for a mobile robot is provided to extract a line, point, or circular shape by associating trajectories of distance information reflecting an effective beam width of a sensor, and update shape information by associating the previously extracted shape and the trajectory of the new distance information. The distance information for the shape is received by using sensor parts. The distance information corresponding to the same distance area is selected among the distance information. The trajectories, which are generated from two different positions, for the distance information corresponding to the same distance area are associated with each other. It is checked whether the trajectories are corresponding to a line, a point, or an arc through association, and the checked shapes are clustered. The extracted line, point, or arc shapes are associated with the trajectories for the new distance information. The shape information is updated through the association.

Abstract translation: 提供一种用于制作用于移动机器人的基于形状的地图的方法，以通过将反映传感器的有效波束宽度的距离信息的轨迹相关联来提取线，点或圆形，并且通过将先前提取的形状 以及新的距离信息的轨迹。 通过使用传感器部件来接收形状的距离信息。 在距离信息中选择对应于相同距离区域的距离信息。 对于对应于相同距离区域的距离信息，从两个不同位置生成的轨迹彼此相关联。 通过关联来检查轨迹是否对应于线，点或弧，并且检查的形状是聚类的。 所提取的线，点或弧形与新距离信息的轨迹相关联。 形状信息通过关联进行更新。

公开(公告)号：KR1020050076058A

公开(公告)日：2005-07-26

申请号：KR1020040003851

申请日：2004-01-19

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 이승재 ,  이인환 ,  이진우 ,  강현욱 ,  조동우

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01R1/07314 ,  G01R1/06733

Abstract: 본 발명은 수직형 프로브(vertical type probe)에 관한 것이다.
본 발명은, 반도체 칩의 정상유무를 전기적으로 테스트하는데 사용되는 프로브에 있어서, 수직방향으로 세워져 상단측이 프로브카드측에 고정되고 그 하단측의 팁이 상기 반도체 칩의 패드와 수직으로 접촉되는 수직형으로, 양단의 중간부에 일정길이로 수직하중에 대해 수직상태를 유지하면서 먼저 변형을 일으켜 상기 팁으로 하중이 집중되는 것을 방지하는 3차원 형상으로 된 하중흡수부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
따라서, 자체 및 접촉손상을 방지하면서, 반도체 칩의 패드와 전체적으로 안정적인 접촉을 실현하고, 저비용으로 대량생산이 가능하며, 고밀도 배열이 가능한 프로브가 제공되게 되어, 전반적으로 검사비용을 절감시키고 검사효율을 향상시키는 효과가 있다.

公开(公告)号：KR100489562B1

公开(公告)日：2005-05-16

申请号：KR1020010088897

申请日：2001-12-31

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 조동우 ,  이인한

IPC: G01B11/00

Abstract: 본 발명은 광 조형 장치에 관한 것으로, 특히 광 조형 장치의 초점거리를 측정하는 장치에 있어서, 측정용 빛을 발생시키는 레이저와, 레이저에서 발생된 측정용 빛을 수직으로 반사시켜 초점 렌즈에 제공하여 측정용 빛을 광 경화성 수지에 제공하는 제 1 반사 미러와, 광 경화성 수지에 의해 반사되어 초점 렌즈를 경유한 측정용 빛을 수직으로 반사시키는 제 2 반사 미러와, 제 2 반사 미러에서 입사되는 측정용 빛을 감지하는 감지부가 적어도 둘 이상으로 분할되어 구성되며, 측정용 빛이 입사됨에 따라 각 감지부들에서 감지된 측정용 빛의 감지량으로 광 경화성 수지의 높이가 초점 거리에 부합되는지를 판단할 수 있는 측정용 빛의 입사 위치를 검출하는 광 검출기를 포함하며, 이를 이용하여 광 조형 장치의 초점 거리를 정확하게 측정하고, 이를 토� ��로 광 경화성 수지의 위치를 조정하여 초점 거리를 정확하게 맞출 수 있는 효과가 있다.

公开(公告)号：KR1020040088335A

公开(公告)日：2004-10-16

申请号：KR1020030022561

申请日：2003-04-10

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 김동성 ,  권태헌 ,  이인환 ,  조동우

IPC: B01F5/00

Abstract: PURPOSE: Provided is a Kenics micro mixer including a barrier in which a chaotic mixing is more effectively induced within a shorter length of time by a minute structure being a simple shape in the Kenics micro mixer. CONSTITUTION: The Kenics micro mixer comprises a first basic unit(133) having a helical structure twisted clockwise(131) and one or more barriers(132); and a second basic unit(134) having a helical structure twisted counterclockwise(135) and one or more barriers(136), wherein the two basic units are installed in turns to be split or reoriented by the helical flow, and the chaotic mixing of the micro level is induced by two chaotic mixing mechanisms such as being expanded/folded by the barriers. The barrier is formed on the helical structure.

Abstract translation: 目的：提供了一种Kenics微型混合器，其包括在Kenics微型混合器中通过简单形状的微小结构在更短的时间内更有效地诱导混沌混合的屏障。 构成：Kenics微型混合器包括具有顺时针扭转的螺旋结构（131）和一个或多个屏障（132）的第一基本单元（133）。 以及第二基本单元（134），其具有逆时针（135）和一个或多个屏障（136）扭转的螺旋结构，其中两个基本单元依次安装成被螺旋流分开或重新定向，并且混沌混合 微量级由两个混沌混合机构引起，例如被屏障扩展/折叠。 屏障形成在螺旋结构上。

公开(公告)号：KR1020030058443A

公开(公告)日：2003-07-07

申请号：KR1020010088897

申请日：2001-12-31

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 조동우 ,  이인한

IPC: G01B11/00

Abstract: PURPOSE: A device for measuring the horizon of an SLA(Stereo Lithography Apparatus) and the height of a photo-resist is provided to measure the height of the photo-resist and the horizon of the SLA by using a semiconductor laser, two reflecting mirrors and an optical detector. CONSTITUTION: A laser(100) generates light. A first reflecting mirror(110) projects the generated light to a focusing lens(112) vertically. A second reflecting mirror(111) projects the projected light from a focus(114) through the focusing lens horizontally by reflecting through a photo-resist(113) and the focusing lens. An optical detector(116) outputs different electric signals according to the position of the projected light in a detecting unit by dividing more than one detecting units and measures the horizon of the SLA and the height of the photo-resist according to the positions of the projected light. A measuring unit(117) measures the horizon of the SLA and the height of the photo-resist by measuring the electric signals and the strength of the projected light. Thereby, the focusing distance and the horizon are fixed by adjusting the position of the photo-resist according to the exact measurement.

Abstract translation: 目的：提供一种用于测量SLA（立体光刻设备）的水平仪和光抗蚀剂的高度的设备，以通过使用半导体激光器测量SLA的光抗蚀剂和水平线的高度，两个反射镜 和光学检测器。 构成：激光（100）产生光。 第一反射镜（110）将生成的光垂直投影到聚焦透镜（112）。 通过反射通过光致抗蚀剂（113）和聚焦透镜，第二反射镜（111）将来自聚焦（114）的投射光水平地投影通过聚焦透镜。 光检测器（116）通过划分多个检测单元，根据投影光的位置输出不同的电信号，并根据位置测量SLA的水平和光抗蚀剂的高度 投射光。 测量单元（117）通过测量电信号和投影光的强度来测量SLA的水平和光刻胶的高度。 由此，通过根据精确的测量来调整光刻胶的位置来固定聚焦距离和水平线。

公开(公告)号：KR100638105B1

公开(公告)日：2006-10-25

申请号：KR1020040003851

申请日：2004-01-19

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 이승재 ,  이인환 ,  이진우 ,  강현욱 ,  조동우

IPC: H01L21/66

Abstract: 본 발명은 수직형 프로브(vertical type probe)에 관한 것이다.
본 발명은, 수직방향으로 세워져 상단측이 프로브카드측에 고정되고 그 하단측의 팁이 반도체 칩의 패드와 수직으로 접촉되는 수직형 프로브에 있어서, 양단의 중간부에 일정길이로 수직하중에 대해 수직상태를 유지하면서 먼저 분산 변형을 일으켜 상기 팁으로 하중이 집중되는 것을 방지하도록 다수 방향으로 대칭되는 3차원 구조로 된 하중흡수부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
따라서, 자체 및 접촉손상을 방지하면서, 반도체 칩의 패드와 전체적으로 안정적인 접촉을 실현하고, 저비용으로 대량생산이 가능하며, 고밀도 배열이 가능한 프로브가 제공되게 되어, 전반적으로 검사비용을 절감시키고 검사효율을 향상시키는 효과가 있다.
프로브, 수직형, 카드, 캔틸레버, 니들, 마이크로, 광조형, 반도체, 칩

公开(公告)号：KR100547279B1

公开(公告)日：2006-01-31

申请号：KR1020030073477

申请日：2003-10-21

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 조동우 ,  이진우 ,  이승재

IPC: G01N21/3577 ,  G01N21/35

Abstract: 본 발명은 UV 나노임프린트(nanoimprint) 공정에서 사용되는 UV경화성수지에 대한 실시간 경화도 측정시스템에 관한 것으로, 적외광을 방출하는 IR광원과, IR광원으로부터 방출된 적외광을 간섭시키는 간섭계와, 간섭후의 적외광이 투과되도록 설치된 UV경화성수지 시료와, 투과된 적외광을 검출하는 검출기와, 검출기의 검출결과를 연산처리하여 출력하는 디지털 프로세서로 구성되며, 상기 시료의 분자구조를 분석하는 FT-IR분광기; 자외광을 방출하는 UV광원과, UV광원으로부터 방출된 자외광을 FT-IR분광기내에 장착된 시료에 조사되도록 안내하는 광가이드로 구성되는 UV조사장치부;를 포함한다.
UV, 경화성, 수지, 경화도, FTIR, 나노임프린트, 리소그래피

Abstract translation: 在UV固化性树脂的实时固化本发明UV NIL（纳米压印），以在一个过程，还涉及一种测量系统，红光和IR光源，用于发射红外光，干涉仪，并与来自IR光源的干扰发射的红外光干涉被用于 以及数字处理器，用于计算并输出检测器的检测结果，其中FT-IR分析单元分析样品的分子结构， 光谱仪; 它包括;椅子和UV光源，用于发射紫外光，由来自UV光源发出的光导用于引导样品紫外光被照射到安装在FT-IR光谱仪UV照射单元。

公开(公告)号：KR1020050048944A

公开(公告)日：2005-05-25

申请号：KR1020030082695

申请日：2003-11-20

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 조동우 ,  고정훈 ,  이한울

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G05B19/4166 ,  G05B19/19 ,  G05B2219/35178 ,  G05B2219/36293 ,  G05B2219/37355

Abstract: 본 발명은 CNC 가공기술에 관한 것으로, 보다 상세하게는 CNC 가공에서 생산시간 단축과 가공 정밀도 향상을 위한 이송속도 스케줄링 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 CNC 가공공정의 이송속도 스케줄링 방법은, 구속변수(constraint variable)를 선택하고 이 구속변수에 대한 기준값을 입력하는 단계와; ME Z-map 모델링을 통하여 최대 구속변수값(CVV)이 발생되는 절삭해석정보(cutting configuration)를 추정하는 단계와; 상기 추정된 절삭해석정보를 전달받아 구속변수 모델링을 통하여 최대 구속변수값이 발생되는 특정 회전각(φ
s )을 추정하는 단계와; 상기 추정된 특정 회전각(φ
s )에서 상기 구속변수의 기준값을 만족하도록 하는 이송속도를 산출하는 단계; 및 상기 산출된 이송속도를 NC 코드에 부여하는 단계를 포함한다.
구속변수로는 가공조건에 따라 절삭력(cutting force) 또는 가공 표면 오차(machined surface error)가 선택될 수 있다.

公开(公告)号：KR1020030097325A

公开(公告)日：2003-12-31

申请号：KR1020020034643

申请日：2002-06-20

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 조동우 ,  이인환 ,  권태헌 ,  김동성

IPC: B01F5/06 ,  B01F15/00

Abstract: PURPOSE: A micro mixer having a separable and assemblable pipe structure is provided to make it easy to wash the inside of the micro mixer and improve the convenience of assembling and maintenance and repair. CONSTITUTION: The micro mixer, which mixes an incoming fluid, comprises: a twisted blade member(11) twisted at a predetermined angle for mixing the fluid; and a plurality of pipe members(101,102) each individually having the twisted blade member(11) disposed inside. Each of the pipe members(101,102) is formed at both opposite ends with a separating and assembling unit for separating and assembling the pipe members(101,102).

Abstract translation: 目的：提供一种具有可分离和可组装管道结构的微型混合机，使其易于清洗微型混合机的内部，提高组装和维护和修理的便利性。 构成：混合进入流体的微混合器包括：以预定角度扭转的扭转叶片构件（11），用于混合流体; 以及分别具有设置在内部的扭转叶片构件（11）的多个管构件（101,102）。 每个管构件（101,102）在两个相对的两端形成有用于分离和组装管构件（101,102）的分离和组装单元。

公开(公告)号：KR1020030015902A

公开(公告)日：2003-02-26

申请号：KR1020010045153

申请日：2001-07-26

Applicant: 학교법인 포항공과대학교

Inventor： 조동우 ,  윤원수 ,  고정훈

IPC: G01B5/28

Abstract: PURPOSE: A method for estimating precise cutting force and surface processing error for virtual processing simulation is provided to obtain precise cutting force estimation even in excessive cutting causing the change of cutting conditions and easily make database for various cutters and sample pieces by using predetermined cutting force coefficients. CONSTITUTION: A method for estimating precise cutting force for imaginary processing simulation includes the steps of calculation cutting force coefficients and run out parameters for a given cutter and a sample piece, calculating information required for the cutting force estimation with NC codes applied from a CAD/CAM system(100) and the shape of a processing object, and estimating the cutting force in consideration of the defection of the cutter and the run out parameters.

Abstract translation: 目的：提供一种用于虚拟加工模拟的精确切削力和表面加工误差的估计方法，即使在切削条件变化过大的情况下也能获得精确的切削力估计，并且可以通过使用预定的切削力容易地为各种刀具和样品的数据库 系数。 构成：用于估计虚拟处理模拟的精确切割力的方法包括计算给定切割器和样品片的切割力系数和耗尽参数的步骤，使用从CAD / CAD应用的NC代码计算切削力估计所需的信息， CAM系统（100）和处理对象的形状，并且考虑到切割器的缺失和耗尽参数来估计切割力。