公开(公告)号：KR1019990084669A

公开(公告)日：1999-12-06

申请号：KR1019980016591

申请日：1998-05-09

Applicant: 한국과학기술연구원 ,  (주)파이버프로

Inventor： 김병윤 ,  황인각

IPC: G02B6/44

Abstract: 광섬유 내에 미세 굴곡을 유도하여 광섬유를 지나는 광의 모드를 다른 모드로 결합시키는 광섬유 격자 및 이를 응용한 광섬유 소자에 대해 개시하고 있다. 본 발명의 광섬유 격자는, 광섬유를 따라 전파되는 광이 서로 다른 모드 사이에 변환을 일으킬 수 있도록 하기 위해, 구부림 또는 단차에 의한 기계적 응력이 외부로부터 가해진 광섬유에, 국소적 가열에 의해 응력이 해소된 복수의 미세 굴곡부들을 그 길이방향으로 형성한 것을 특징으로 한다. 이 광섬유 격자는 광섬유 노치필터, 광섬유 편광기 등에 응용될 수 있을 뿐 아니라, 비대칭적인 모드결합특성을 이용하여 광섬유 파장가변 대역통과필터, 광섬유 주파수 변환기 등에 널리 응용될 수 있다. 또한, 기계적인 강도도 강하고 소자의 안정성도 높기 때문에, 고온에서 오랜 시간이 경과해도 격자특성의 변화에 의한 광섬유 소자의 열화를 방지할 수 있다.

公开(公告)号：KR1019960008325A

公开(公告)日：1996-03-22

申请号：KR1019940020542

申请日：1994-08-19

Applicant: 주식회사 엘에스 ,  한국과학기술연구원

Inventor： 김병윤 ,  김봉규 ,  승우성 ,  김만식

IPC: G01R23/00

Abstract: 본 발명은 보통의 광학센서들과 달리 인가물리량에 대해 위상의 변화량을 크게 설계하여 일정시간동안 간섭무늬의 변화갯수를 세는 방법을 이용하여, 온도, 변화, 진동, 전자기파 등의 외부 영향에 대해 거의 관계없이 인가물리량의 크기를 측정하는 것이다. 또한, 간섭무늬의 변화갯수를 측정함으로서 인가물리량의 주파수에 상관없이 인가 물리량의 크기와 파형을 측정할 수 있게 한 것이다.

公开(公告)号：KR1019950006224B1

公开(公告)日：1995-06-12

申请号：KR1019920006307

申请日：1992-04-15

Applicant: 한국과학기술연구원

Inventor： 김명욱 ,  조재철 ,  김병윤 ,  최상삼

IPC: G01K11/20

Abstract: The apparatus for measuring the temp. by detecting the excited frequency of the fluorescent material includes a comparator(10) comparing the integrator voltage with reference one, a light source radiating the exciting light according to the output of the comparator, a fluorescent material(22) radiating the excited fluorescent light, a light detector(23) detecting the fluorescent light and feeding it back to the comparator, and an analyser(27) measuring the frequency of the comparator to calculate the temp..

Abstract translation: 用于测量温度的设备 通过检测荧光材料的激发频率，包括比较器（10）将积分器电压与基准电压进行比较，根据比较器的输出照射激发光的光源，照射被激发的荧光的荧光材料（22） 检测荧光并将其送回比较器的光检测器（23）和测量比较器的频率以计算温度的分析器（27）。

公开(公告)号：KR100274075B1

公开(公告)日：2001-01-15

申请号：KR1019980016591

申请日：1998-05-09

Applicant: 한국과학기술연구원 ,  (주)파이버프로

Inventor： 김병윤 ,  황인각

IPC: G02B6/44

CPC classification number: G02B6/02147 ,  G02B6/02071 ,  G02B6/14 ,  G02B6/274 ,  G02F1/0134

Abstract: PURPOSE: An optical fiber grating and optical element using the same is provided to obtain an optical fiber grating with better properties and various optical fiber element with better properties using such an optical fiber grating by simple fabricating process. CONSTITUTION: An optical fiber grating provides a plurality of micro bends free of stress by a local heating for an optical fiber which is subjected to external mechanical stresses by bending or stepping so as to cause lights propagating along a fiber to be translated between different modes one another. Each of the micro bends is formed by heating the optical fiber using an electrical arc. The micro bends are periodically formed at a same interval as a beating period of modes different from one another. An optical fiber element is fabricated by preparing optical fibers with a different effective refractive rate depending on a polarized component of lights, applying external mechanical stresses by means of bending or stepping to the optical fiber, and matching intervals of the micro bends with the beating period between two mode combined to any one of the polarized components.

Abstract translation: 目的：提供一种光纤光栅和使用其的光学元件，以通过简单的制造工艺获得具有更好性能的光纤光栅和具有更好性能的各种光纤元件。 构成：光纤光栅通过局部加热为光纤提供多个微弯曲，该弯曲受到经过弯曲或步进的外部机械应力，从而使沿光纤传播的光在不同模式之间转换 另一个。 通过使用电弧加热光纤来形成每个微弯曲部。 微弯曲以与不同的模式的跳动周期相同的间隔周期性地形成。 通过根据光的偏振分量制备具有不同有效折射率的光纤，通过弯曲或步进对光纤施加外部机械应力以及将微弯曲的间隔与跳动周期匹配来制造光纤元件 在两种模式组合到任何一种偏振分量之间。

公开(公告)号：KR100122501B1

公开(公告)日：1997-12-05

申请号：KR1019940020542

申请日：1994-08-19

Applicant: 주식회사 엘에스 ,  한국과학기술연구원

Inventor： 김병윤 ,  김봉규 ,  승우성 ,  김만식

IPC: G01R23/00

Abstract: The signal process device using measurement of the number of varied interfering patterns is embodied to design a larger amount of variation of phase for an applied physical quantity, when compared with typical optical sensors, thus to measure the size of the applied physical quantity, regardless of an external influence, by using the measurement of the number of varied interfering patterns. Furthermore, the device can measure the size and waveform of the applied physical quantity, irrespective of the frequency thereof.

Abstract translation: 使用测量变化的干扰图案的数量的信号处理装置被体现为针对所应用的物理量设计更大量的相位变化量，与典型的光学传感器相比较，从而测量施加的物理量的大小，而不管 通过使用多个干扰模式的数量的测量来实现外部影响。 此外，该装置可以测量所施加的物理量的大小和波形，而与其频率无关。

公开(公告)号：KR100088973B1

公开(公告)日：1995-09-11

申请号：KR1019920006307

申请日：1992-04-15

Applicant: 한국과학기술연구원

Inventor： 김명욱 ,  조재철 ,  김병윤 ,  최상삼

IPC: G01K11/20

公开(公告)号：KR1019930022068A

公开(公告)日：1993-11-23

申请号：KR1019920006307

申请日：1992-04-15

Applicant: 한국과학기술연구원

Inventor： 김명욱 ,  조재철 ,  김병윤 ,  최상삼

IPC: G01K11/20

Abstract: 본 발명은 주파수 발생원리에 따라 형광물질의 여기동작을 제어하여, 그 형광 물질의 여기주기에 따른 주파수를 측정함으로써 온도를 측정할 수 있게한 광학을 이용한 온도 측정장치에 관한것으로, 종래에는 형광의 빛 세기가 감쇄하기 시작한 직후의 형광의 빛 세기를 측정하고, 그 세기에 대하여 일정한 비율로 형광의 빛 세기가 줄어든 때의 시간을 측정하여 두 측정위치의 시간차를 구하고, 그 시간차로부터 온도를 산출하게 되므로, 그의 구조가 복잡하여 질뿐만 아니라 그 산출 과정이 복잡하였다.
이러한 점을 감안하여, 비교전압을 기준전압과 비교하는 비교기와, 이 비교기의 출력 신호에 따라 여기광을 발생하는 광원과, 이 광원에서 발생되는 여기광에 의해 여기되어 형광을 발생하는 형광물질과, 이 형광 물질에서 발생되는 형광을 전기적인 신호로 검출한 후 증폭하여 상기 비교기에 비교전압으로 인가하는 광검지기와, 상기 비교기의 출력신호로부터 주파수를 측정한 후 온도를 산출하는 주파수 측정 및 연산 장치로 온도측정장치를 구성함으로써 그의 구성이 간단하여지고, 그 온도 연산과정이 간단해지게 된다.