p-페닐렌디아민 검출을 위한 폴리에틸렌글리콜-개질 은 나노입자를 이용하는 비색검출센서 및 이를 이용한 비색검출방법

    公开(公告)号:KR101711012B1

    公开(公告)日:2017-02-28

    申请号:KR1020150059151

    申请日:2015-04-27

    Abstract: 본발명은 p-페닐렌디아민(p-phenylenediamine, PPD) 검출을위한폴리에틸렌글리콜-개질은 나노입자를포함하는비색검출센서및 이를이용한비색검출방법에관한것으로, 더욱상세하게는티올기를갖는폴리에틸렌글리콜메틸에테르티올[poly(ethylene glycol) methyl ether thiol, PEG-MET] 고분자로개질된은 나노입자(silver nanoparticle)를비색검출센서에사용함으로써, 천이나모피염색의아라미드의류산업, 잉크및 인쇄출판산업, 문신, 화장품, 모발염색제등의미용산업에사용되는파라형태의페닐렌디아민을종래에비해간편하게검출할수 있으며, p-페닐렌디아민에대한선택성, 민감성및 정량성(定量性)이우수하여활용가치가매우높은비색검출센서및 이를이용한비색검출방법에관한것이다.

    X-선 형광분석 및 X-선 회절분석을 이용한 시멘트의 감식방법
    10.
    发明授权
    X-선 형광분석 및 X-선 회절분석을 이용한 시멘트의 감식방법 有权
    X-X-使用X射线荧光和X射线衍射识别化合物的方法

    公开(公告)号:KR101652913B1

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:KR1020140075113

    申请日:2014-06-19

    Abstract: 본발명의시멘트의감식방법은, (a) 시멘트를포함하는대상시료가전처리되는단계; (b) 상기전처리된대상시료에대하여, X-선형광분석(X-ray Fluorescence; XRF)과통계학적주성분분석(Principal Component Analysis; PCA)이수행되는조성분석페이즈(phase), X-선회절분석(X-ray Diffraction; XRD)이수행되는패턴분석페이즈, 및이들모두가수행되는혼합분석페이즈,로이루어진군에서선택된어느하나의분석페이즈가수행되어대상시료의데이터들이수집되는단계; 및 (c) 상기수행된페이즈에따라얻어진대상시료의데이터들과미리구축된라이브러리의데이터들사이에, 동등성조건을만족하는지여부가판단되어, 대상시료에포함된시멘트의정보가출력되는단계;를포함한다. 상기감식방법을이용하면, 보다정확하고신속하게미지의시료에어떠한시멘트가포함되어있는지를감식할수 있다.

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