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公开(公告)号:KR101848012B1
公开(公告)日:2018-04-11
申请号:KR1020160151113
申请日:2016-11-14
Applicant: 한국과학기술연구원
CPC classification number: G01N25/18 , G01K7/01 , G01N25/4826
Abstract: 본발명은열전반도체의열전도도및 열전성능지수측정에대한것으로, 보다상세하게는기존하만법에서발생하는도선에서의열 손실, 재료자체발열에의한오차를보정하는방법을제공하는데에목적이있다. 해당의오차보정방법은열전반도체의성능과물성을다양한온도에서보다정확하게평가하는데 용이하게응용될수 있고, 정확한열전반도체의물성평가는열전소자설계에유용하게쓰일수 있다는효과가있다.
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