질화갈륨 박막의 품질을 향상시키는 방법
    3.
    发明公开
    질화갈륨 박막의 품질을 향상시키는 방법 失效
    改善硝酸盐层质量的方法

    公开(公告)号:KR1020040013901A

    公开(公告)日:2004-02-14

    申请号:KR1020020047025

    申请日:2002-08-09

    Abstract: PURPOSE: A method for improving quality of a gallium nitride layer is provided to enhance the quality of the gallium nitride layer by performing a nitrogen ion implantation process to change a surface of a sapphire substrate and irradiating the molecular beam. CONSTITUTION: A surface of a sapphire substrate is processed by implanting nitrogen ions into the sapphire substrate in order to change physically and chemically the substrate. A dose of nitrogen ion is 1x10¬15/cm¬2 to 1x10¬17/cm¬2. The injection energy of nitrogen ions is 10 to 100keV. The sapphire substrate includes aluminum. A gallium nitride layer is formed on the sapphire substrate by using a metal organic chemical vapor deposition method or a molecular beam epitaxy method.

    Abstract translation: 目的:提供一种提高氮化镓层质量的方法,以通过进行氮离子注入工艺来改变蓝宝石衬底的表面并照射分子束来提高氮化镓层的质量。 构成:通过将氮离子注入到蓝宝石衬底中来处理蓝宝石衬底的表面,以便物理和化学地改变衬底。 氮离子的剂量为1×10 15 / cm 2至1×10 17 / cm 2。 氮离子的注入能量为10至100keV。 蓝宝石衬底包括铝。 通过使用金属有机化学气相沉积法或分子束外延法在蓝宝石衬底上形成氮化镓层。

    질화갈륨 박막의 품질을 향상시키는 방법
    4.
    发明授权
    질화갈륨 박막의 품질을 향상시키는 방법 失效
    GaN薄膜质量增强方法

    公开(公告)号:KR100472260B1

    公开(公告)日:2005-03-10

    申请号:KR1020020047025

    申请日:2002-08-09

    Abstract: 본 발명은 사파이어 기판에 이온 도즈량 1x10
    15 /cm
    2 내지 1x10
    17 /cm
    2 , 주입에너지 10 내지 100 keV 범위의 질소이온을 주입시켜서 사파이어 기판의 표면을 처리하여 물리화학적으로 변화시키는 기판 표면 처리 단계를 포함하여 격자 불일치가 큰 질화갈륨 박막 성장시 발생하는 결함을 최소화하는 것을 특징으로 하는, 질화갈륨 반도체 박막의 제조 방법을 제공한다. 본 발명에 따르면 기판 표면에 질소-이온주입을 하여 기판의 표면 상태를 물리, 화학적으로 변화시킨 후, 유기금속 화학 기상 증착법 또는 분자선 에피탁시법으로 상기 기판 표면에 질화갈륨 박막을 성장시켜 박막의 전위 결함을 줄임으로써 질화갈륨 박막의 품질을 간단하고 재현성 있게 향상시킬 수 있다.

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