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公开(公告)号:KR1019970015572A
公开(公告)日:1997-04-28
申请号:KR1019950030063
申请日:1995-09-14
Applicant: 한국과학기술원
IPC: C07D207/26
Abstract: 본 발명은 비닐락탐의 3위치에 여러 종류의 보호기를 도입한 하기 일반식(Ⅰ)로 표시되는 신규한 N-비닐락탐 유도체, 그의 중합체 및 이들 중합체의 포토레지스트로서의 용도에 관한 것이다. 본 발명의 중합체는 초미세가공(microlithography)에서 원자외선 노광에 적합한 고감도, 고해상성의 화상을 형성할 수 있는 포토레지스트 재료로 사용될 수 있다. 또한 본 발명에 의해 제조된 포토레지스트는 초미세회로의 형성이 가능할 뿐만 아니라, 패턴형성의 공정도 획기적으로 개선할 수 있다.
상기 식에거, R
1 은 수소, 탄소수 1 내지 10개의 알킬기, 탄소수 6 내지 12개의 아릴기 또는 탄소수 3 내지 9개의 트리알킬실릴기이고; R
2 는 -OR′, -SO
3 R′, -CO
2 R′, -PO
3 R′, -SO
2 R′ 또는 -PO
2 R′(R′는 탄소수 1 내지 10개의 알킬기; 시클로알킬기; N, O, P, S의 헤테로원자를 포함한 시클로기; 또는, 탄소수 6 내지 12개의 아릴기)이며; R
3 는 수소, 탄소수 1 내지 10개의 알킬기, 탄소수 6 내지 12개의 아릴기, 탄소수 3 내지 9개의 트리알킬실릴기 또는 R
2 와 동일한 기이고; R
4 및 R
5 는 -OH, -OR(R은 탄소수 1 내지 10개의 알킬기 또는 탄소수 6 내지 12개의 아릴기) 또는 R
1 과 동일한 기이며, 및, m은 0 내지 10의 정수이다.-
公开(公告)号:KR100178475B1
公开(公告)日:1999-03-20
申请号:KR1019950030063
申请日:1995-09-14
Applicant: 한국과학기술원
IPC: C07D207/26
CPC classification number: C07D207/273 , C07D207/277 , C07D223/10 , C07D405/12 , C08F26/06 , C08F26/10 , G03F7/0045 , G03F7/0387 , G03F7/039
Abstract: 본 발명은 비닐락탐의 3위치에 여러종류의 보호기를 도입한 하기 일반식(Ⅰ)로 표시되는 신규한 N-비닐락탐 유도체, 그의 중합체 및 이들 중합체의 포토레지스트로서의 용도에 관한 것이다. 본 발명의 중합체는 초미세가공(microlithography)에서 원자외선 노광에 적합한 고감도, 고해상성의 화상을 형성할 수 있는 포토레지스트 재료로 사용될 수 있다. 또한, 본 발명에 의해 제조된 포토레지스트는 초미세회로의 형성이 가능할 뿐만 아니라, 패턴형성의 공정도 획기적으로 개선할 수 있다.
상기 식에서, R
1 은 수소, 탄소수 1 내지 10개의 알킬기, 탄소수 6 내지 12개의 아릴기 또는 탄소수 3 내지 9개의 트리알킬실릴기이고; R
2 는 -OR-, SO
3 R', -CO
2 R', -PO
3 R', SO
2 R' 또는 -PO
2 R'(R'는 탄소수 1 내지 10개의 알킬기; 시클로알킬기; N, O, P, S의 헤테로 원자를 포함한 시클로기; 또는, 탄소수 6 내지 12개의 아릴기)이며; R
3 은 수소, 탄소수 1 내지 10개의 알킬기, 탄소수 6 내지 12개의 아릴기, 또는 탄소수 3 내지 9개의 트리알킬실릴기 또는 R
2 와 동일한 기이고; R
4 및 R
5 는 -OH, -OR(R은 탄소수 1 내지 10개의 알킬기 또는 탄소수 6 내지 12개의 아릴기) 또는 R
1 과 동일한 기이며; 및, m은 0 내지 10의 정수이다
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