-
公开(公告)号：KR1020110092611A
公开(公告)日：2011-08-18
申请号：KR1020100012126
申请日：2010-02-09
Applicant: 한국과학기술원
Abstract: PURPOSE: An apparatus and a method for detecting the transformation of a developable surface are provided to effectively detect the cubical transformation of a soft plane-type object that can be developed to a plane. CONSTITUTION: An apparatus for detecting the transformation of a developable surface comprises a plurality of bending sensors(120), a detection circuit(130), and a processor(140). The bending sensors are arranged at regular intervals along the edge of a developable surface(110) as being divided into two triangle regions that hold one side in common. The detection circuit detects a transformation value according to the transformation of each bending sensor. The processor estimates the transformation of the developable surface according to the transformation values outputted from the detection circuit.
Abstract translation: 目的：提供一种用于检测可显影表面变换的装置和方法，以有效地检测可显影到平面的软平面型物体的立方转换。 构成：用于检测可显影面的变形的装置包括多个弯曲传感器（120），检测电路（130）和处理器（140）。 弯曲传感器沿着可显影表面（110）的边缘以规则间隔布置，被划分为保持一侧共同的两个三角形区域。 检测电路根据每个弯曲传感器的变换来检测变换值。 处理器根据从检测电路输出的变换值估计可显影面的变换。
-
公开(公告)号：KR1020150060271A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：KR1020130144488
申请日：2013-11-26
Applicant: 한국과학기술원
IPC: G01J1/44
CPC classification number: G01J1/44 , G01J5/0853 , G01J5/20
Abstract: 본발명의적외선검출기는적외선을감지하여전류신호를출력하는마이크로볼로미터셀이 N개의로우및 M개의컬럼형태로배열된셀 어레이; 적외선에반응하지않고기준신호를출력하는기준마이크로볼로미터셀이 N개의로우및 1개의컬럼형태로배열된기준셀 어레이; 및상기 M개의컬럼각각에대해서적분기를포함하며, 상기적분기에는, 해당컬럼에포함되는상기마이크로볼로미터셀에서출력되는상기전류신호와상기마이크로볼로미터셀과동일한로우에해당하는상기기준마이크로볼로미터셀에서출력되는상기기준신호의차동전류신호가입력된다.
Abstract translation: 本发明的红外检测器包括：电池阵列，其中检测红外线和输出电流信号的微热辐射计单元以N列和M列的形式排列; 标准单元阵列，其中不响应红外线并输出标准信号的标准微测辐射计单元排列成N行和一列; 和每个M列的积分器。 在积分器中，输入从包括在相应列中的微热电池单元输出的电流信号和从与微测热单元相同的行对应的标准微测热单元输出的标准信号的差分电流信号。
-
公开(公告)号：KR101179624B1
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：KR1020100012126
申请日：2010-02-09
Applicant: 한국과학기술원
Abstract: 가전면(Developable Surface)의 변형 감지 장치 및 그 방법이 개시된다. 상기 가전면의 변형 감지 장치 및 그 방법은 하나의 변을 공유하는 두 개의 삼각형 영역들로 구획되고, 상기 두 개의 삼각형 영역들 각각의 변을 따라 일정한 간격으로 가전면에 배열된 복수의 휨 센서들, 상기 복수의 휨 센서들 각각의 변형에 따른 변형 값을 검출하기 위한 검출회로 및 상기 검출회로로부터 출력된 변형 값들에 따라 상기 가전면의 변형을 추정하기 위한 프로세서를 포함한다.
-
-
Search Results
3
records
(took 0.017 seconds)
