公开(公告)号：KR101840771B1

公开(公告)日：2018-03-21

申请号：KR1020160141818

申请日：2016-10-28

Applicant: 한국과학기술정보연구원

Inventor： 김찬호 ,  김은선 ,  최윤정 ,  김지은 ,  이명주

IPC: G06Q10/06 ,  G06F17/18 ,  G06Q10/04

CPC classification number: G06Q10/0631 ,  G06F17/18 ,  G06Q10/04 ,  G06Q10/0637

Abstract: 본발명의일 태양에따른 R&D cost-down 항목추천방법은 R&D 대상의품질특성간의상관관계및 상기품질특성과상기 R&D 대상의요소특성과의상관관계를입력받는단계, 상기입력된상기품질특성간의상관관계및 상기품질특성과상기요소특성과의상관관계를이용하여, 상기 R&D 대상의요소별 중요도를연산하는단계, 상기요소별 중요도를기초로, cost-down 대상요소를추천하는단계를포함할수 있다.

Abstract translation: 根据本发明的一个方面的研发费用降低项目推荐方法包括以下步骤：接收研发对象的质量特性与质量特性与研发对象的元件特性之间的相关性之间的相关性， 通过使用质量特征和元素特征之间的相关性来计算研发对象的每个元素的重要程度，并基于每个元素的重要性推荐成本下降元素 有。

公开(公告)号：KR101889824B1

公开(公告)日：2018-08-21

申请号：KR1020170021864

申请日：2017-02-17

Applicant: 한국과학기술정보연구원

Inventor： 김찬호 ,  김은선 ,  최윤정 ,  이명주 ,  김지은

IPC: G06Q10/06 ,  G06Q10/10 ,  G06F17/18

CPC classification number: G06Q10/06395 ,  G06F17/18 ,  G06Q10/0637 ,  G06Q10/06393 ,  G06Q10/10

Abstract: 본발명의일 태양에따른 R&D 품질평가방법은, R R&D 품질검증장치가, R&D의품질을평가하는방법에있어서, 상기 R&D 품질검증장치가, 사용자의단말로부터상품의부품사양(Components Characteristic)과품질특성(Engineering Characteristic)을입력받는단계와상기 R&D 품질검증장치가, 상기사용자의단말로부터상기상품과경쟁관계에있는경쟁상품에관한정보를입력받는단계와상기 R&D 품질검증장치가, 상기부품사양과상기품질특성을이용하여, 상기품질특성의중요도를연산하는단계와상기 R&D 품질검증장치가, 상기품질특성의중요도와상기경쟁상품에관한정보를이용하여, 상기경쟁상품에비해상기상품의품질이개선된정도를의미하는개선공헌도를연산하는단계와상기 R&D 품질검증장치가, 상기상품의현재품질에비해상기상품의목표로하는품질이개선된정도를의미하는자사대비개선공헌도를연산하는단계및 상기 R&D 품질검증장치가, 상기개선공헌도와상기자사대비개선공헌도및 상기상품의생산단가를이용하여, 상기 R&D의품질과난이도를수치화한가치평가지수(V-Index)를연산하는단계를포함할수 있다.