물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치
    1.
    发明申请
    물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치 审中-公开
    基于元素信息获取和图像选择的辐射成像装置

    公开(公告)号:WO2014035007A1

    公开(公告)日:2014-03-06

    申请号:PCT/KR2012/010552

    申请日:2012-12-06

    Abstract: 본 발명은 물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치에 관한 것으로, 본 발명의 목적은 방사선 및 물질 간 상호 작용 방식을 모두 이용하여 영상을 얻음으로써 영상 해상도 및 검출 효율을 향상하는, 물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치를 제공함에 있다. 본 발명의 다른 목적은, 특히 단일 광자 3차원 추적 기술을 이용함으로써 단일 에너지의 방사선원으로도 3차원 영상을 얻을 수 있음과 동시에 피사체의 원소를 구분할 수 있게 하는, 물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치를 제공함에 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及能够进行物质信息获取和基于图像的选择的放射线成像装置。 本发明的目的是提供一种能够通过使用辐射和物质相互作用方法获取图像从而提高图像分辨率和检测效率的物质信息获取和基于图像的选择的辐射成像装置。 本发明的另一个目的是提供一种能够通过特别使用单光子三维跟踪技术进行物质信息获取和基于图像的选择的辐射成像装置,从而即使采用单一能量来获取三维图像 辐射资源,同时区分对象的元素。

    방사선 검출소자 및 이의 제조방법

    公开(公告)号:WO2023277621A1

    公开(公告)日:2023-01-05

    申请号:PCT/KR2022/009451

    申请日:2022-06-30

    Abstract: 본 발명은 방사선 검출소자 및 이의 제조방법에 관한 것으로서, 본 발명의 방사선 검출소자는 이격된 위치에 배치되는 적어도 하나의 하부 전극 및 적어도 하나의 상부 전극, 및 상기 하부 전극 및 상부 전극의 사이에 배치되는 반도체 기판을 포함하고, 상기 반도체 기판의 상단부에는, 적어도 하나의 활성층 영역을 포함하며, 상기 활성층 영역에는 0차원의 나노 입자, 전도성 폴리머 및 1차원 또는 2차원의 전도성 나노 물질을 포함하는 나노 복합체가 충전되는 것이다.

    방사선 검출기 및 이의 제조 방법
    3.
    发明申请
    방사선 검출기 및 이의 제조 방법 审中-公开
    辐射探测器及其制造方法

    公开(公告)号:WO2017007108A1

    公开(公告)日:2017-01-12

    申请号:PCT/KR2016/002082

    申请日:2016-03-02

    CPC classification number: G01T1/2006 G01T1/20 G01T1/2002 G01T1/202 G01T1/2023

    Abstract: 본 발명은 방사선을 흡수하여 빛을 발생시키는 섬광체와 상기 섬광체에 형성되는 광검출기를 포함하고, 상기 섬광체는 연성을 부여하는 2차원 나노 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 방사선 검출기를 제공한다. 상기 섬광체는 상기 2차원 나노 물질이 적층되어 형성되는 것으로 상기 2차원 나노 물질은 그래핀 옥사이드, 환원된 그래핀 옥사이드 및 그래핀 양자점 중 적어도 하나인 것을 특징으로 한다.

    Abstract translation: 本发明提供了一种辐射检测器,包括:用于吸收辐射以产生光的闪烁体; 以及形成在闪烁器中的光检测器,其中闪烁体由用于赋予延展性的二维纳米材料构成。 闪烁体是通过层叠二维纳米材料形成的,二维纳米材料是氧化石墨烯,氧化还原型石墨烯和石墨烯量子点中的至少一种。

    방사선 검출기 및 그 제조 방법
    4.
    发明申请
    방사선 검출기 및 그 제조 방법 审中-公开
    辐射探测器及其制造方法

    公开(公告)号:WO2016204378A1

    公开(公告)日:2016-12-22

    申请号:PCT/KR2016/002080

    申请日:2016-03-02

    CPC classification number: G01T1/20 H01L31/08

    Abstract: 본 발명은 방사선을 흡수하는 섬광체와 상기 섬광체에 형성되는 광검출기를 포함하고, 상기 광검출기는 서로 이격된 위치에 배치되는 제1 접촉 전극과 제2 접촉 전극 및 상기 제1 접촉 전극과 상기 제2 접촉 전극의 사이에 연결되어 전자의 이동경로를 형성하는 활성층을 포함하며, 상기 활성층은 상기 섬광체의 형상에 대응하여 변형될 수 있도록, 연성을 부여하는 2차원 나노 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 방사선 검출기를 제공한다.

    Abstract translation: 本发明提供了一种辐射检测器,包括:用于吸收辐射的闪烁体; 以及形成在所述闪烁器中的光电检测器,其中所述光电检测器包括:第一接触电极和布置在彼此间隔开的位置处的第二接触电极; 以及连接在所述第一接触电极和所述第二接触电极之间以形成电子的移动路径的有源层,其中所述有源层由提供延展性的二维纳米材料形成,以响应于变形 到闪烁体的形状。

    비파괴 검사 시스템
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101785459B1

    公开(公告)日:2017-11-06

    申请号:KR1020160125021

    申请日:2016-09-28

    CPC classification number: G01N23/043 G01T1/08

    Abstract: 본발명의비파괴검사시스템은, 검사대상체를향해방사선을조사하도록형성되는방사선원; 및상기검사대상체를기준으로상기방사선원의반대쪽에배치되는디텍터어레이를포함하고, 상기디텍터어레이는, 상기방사선원에서상기검사대상체를향해조사된방사선을검출하도록형성되며, 방사선량을감지하도록이루어지는감지부를각각구비하는복수의검출기모듈; 및복수로구비되어상기검출기모듈마다적어도하나씩결합되고, 상기감지부에서감지된방사선량에근거하여상기검출기모듈을기울어지게하거나선형이동시키도록이루어지는구동모듈을포함한다.

    방사선 검출기 및 그 제조 방법
    7.
    发明授权
    방사선 검출기 및 그 제조 방법 有权
    辐射探测器及其制造方法

    公开(公告)号:KR101723438B1

    公开(公告)日:2017-04-06

    申请号:KR1020150085347

    申请日:2015-06-16

    CPC classification number: G01T1/20 H01L31/08

    Abstract: 본발명은방사선을흡수하는섬광체와상기섬광체에형성되는광검출기를포함하고, 상기광검출기는서로이격된위치에배치되는제1 접촉전극과제2 접촉전극및 상기제1 접촉전극과상기제2 접촉전극의사이에연결되어전자의이동경로를형성하는활성층을포함하며, 상기활성층은상기섬광체의형상에대응하여변형될수 있도록, 연성을부여하는 2차원나노물질로형성되는것을특징으로하는방사선검출기를제공한다.

    Abstract translation: 本发明包括形成在所述闪烁器的光检测器,并且其吸收辐射闪烁器,和光电检测器是设置在彼此间隔的位置处的第一接触电极任务2接触电极和第一接触电极和第二接触 耦合电极和包括用于形成电子的移动路径,其中,所述活性层是辐射检测器,其特征在于形成在赋予延展性的二维性纳米材料的有源层之间进行修改,以对应于所述闪烁器的形状 提供。

    반도체 방사선 검출소자
    8.
    发明授权
    반도체 방사선 검출소자 有权
    半导体辐射检测器件

    公开(公告)号:KR101699380B1

    公开(公告)日:2017-01-24

    申请号:KR1020150072082

    申请日:2015-05-22

    Abstract: 본발명의일 실시예는, 방사선입사에의해전하가생성되는방사선감응형반도체와, 상기반도체의제1 영역에배치되어상기반도체에전압을인가하는제1 전극과, 상기반도체의제2 영역에배치되어상기생성된전하를수집하는제2 전극과, 상기제1 및제2 영역중 적어도하나의표면에배열된다수의나노구조체를포함하는반도체방사선검출소자를제공한다.

    직접 검출형 방사선 검출소자
    9.
    发明公开
    직접 검출형 방사선 검출소자 有权
    直接检测型辐射检测装置

    公开(公告)号:KR1020160147144A

    公开(公告)日:2016-12-22

    申请号:KR1020150083107

    申请日:2015-06-12

    Abstract: 본발명은, 기판과, 상기기판상에배치되며, 단일층또는복수의층의 2차원반도체(2-dimension layered semiconductor)로이루어진방사선감응형반도체와, 상기방사선감응형반도체상에배치된제1 산화물반도체막과, 상기제1 산화물반도체막상에배치되며, 금속또는준금속으로이루어진나노구조체와, 상기나노구조체를덮도록상기제1 산화물반도체막상에배치된제2 산화물반도체막과, 상기제2 산화물반도체막상에배치된제1 및제2 전극을포함하며, 상기 2차원반도체는 MX화합물반도체, CsCdInQ또는그래핀(graphene)으로이루어진직접검출형방사선검출소자를제공한다. 여기서, M은 2족, 4족, 5족및 6족원소중 적어도하나이며, X는 S, Se 및 Te, 또는할로겐원소중 적어도하나이며, Q는 Se 및 Te 중적어도하나일수 있다.

    이온 빔 집단적 특성 분석 장치
    10.
    发明授权
    이온 빔 집단적 특성 분석 장치 有权
    分析离子束特征的装置

    公开(公告)号:KR101151057B1

    公开(公告)日:2012-06-01

    申请号:KR1020100138524

    申请日:2010-12-30

    Abstract: PURPOSE: A collective ion beam property analysis apparatus is provided to reduce space restrictions by reliably measuring the collective properties of an ion beam by using a single apparatus. CONSTITUTION: A collective unit(120) is installed within a main body. An ion beam is directed into the collective unit. The focusing unit collects ions or electrons generated by colliding the ion beam with residual gas which is kept in an internal space. A charge quantity/distribution measuring unit(150) is connected to the collective unit within the main body. The charge quantity/distribution measuring unit amplifies and measures charge quantities and the distribution of the ions or the electrons. An energy measuring unit(140) is installed within the main body.

    Abstract translation: 目的:提供一种集体离子束性质分析装置,通过使用单个装置可靠地测量离子束的集体特性来减少空间限制。 构成:集体单元(120)安装在主体内。 离子束被引导到集体单元中。 聚焦单元收集通过将离子束与保留在内部空间中的残余气体碰撞而产生的离子或电子。 电荷量/分布测量单元(150)连接到主体内的集体单元。 电荷量/分布测量单元放大并测量电荷量和离子或电子的分布。 能量测量单元(140)安装在主体内。

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