입자 빔 질량 분석기
    1.
    发明公开
    입자 빔 질량 분석기 有权
    粒子束质谱

    公开(公告)号:KR1020110034430A

    公开(公告)日:2011-04-05

    申请号:KR1020090091953

    申请日:2009-09-28

    Abstract: PURPOSE: A particle beam mass spectroscopy is provided to improve the productivity and yield by monitoring the nano particles. CONSTITUTION: An aerodynamic lens(10) forms a particle beam by accelerating the gas flow. An electron gun(30) forms charged particle beam by ionizing the particle beam and accelerating thermoelectron. A deflector(40) refracts the charged particle beam by the kinetic energy to charge ratio. A sensor(50) measures current by the charged particle beam. A magnetic field generating unit creates restriction magnet field for restricting thermoelectron.

    Abstract translation: 目的:提供粒子束质谱以通过监测纳米颗粒来提高生产率和产率。 构成:气动透镜(10)通过加速气流形成粒子束。 电子枪(30)通过电离粒子束并加速热电子形成带电粒子束。 偏转器(40)通过动能与充电比折射带电粒子束。 传感器(50)通过带电粒子束测量电流。 磁场产生单元产生用于限制热电子的限制磁场。

    입자 빔 질량 분석기
    2.
    发明授权
    입자 빔 질량 분석기 有权
    粒子束质谱

    公开(公告)号:KR101104213B1

    公开(公告)日:2012-01-09

    申请号:KR1020090091953

    申请日:2009-09-28

    Abstract: 본 발명은 입자 빔 질량 분석기를 제공한다. 이 입자 빔 질량 분석기는 가스 유동(gas flow)을 입력받아 가스 유동을 가속하여 입자 빔을 형성하는 공기 역학 렌즈, 열전자를 가속하여 입자 빔을 이온화시키어 하전 입자 빔을 형성하는 전자총, 하전 입자빔을 운동 에너지 대 전하 비(kinetic energy to charge ratio)에 따라 굴절시키는 디플렉터, 및 굴절된 하전 입자 빔에 의한 전류를 측정하는 감지부를 포함한다. 상기 전자총은 입자 빔을 통과시키는 원통 형상의 내부 그물, 상기 내부 그물의 외부에 배치된 원통 형상의 외부 그물, 내부 그물 및 내부 그물의 사이에 배치되어 열전자를 생성하는 필라멘트, 및 외부 그물의 외부에 배치되어 열전자를 구속하는 구속 자기장을 생성하는 자기장 생성부를 포함한다.
    전자총, 나노 파티클, 구속 자기장, 집속 자기장, 필라멘트, 입자 빔

    유전체 창문 오염 방지 장치, 자체 플라즈마 광 방출 스펙트럼 장치, 및 입자 측정 장치
    4.
    发明公开
    유전체 창문 오염 방지 장치, 자체 플라즈마 광 방출 스펙트럼 장치, 및 입자 측정 장치 有权
    电介质窗口污染防护装置,自动等离子体发射光谱装置和颗粒测量装置

    公开(公告)号:KR1020110034727A

    公开(公告)日:2011-04-06

    申请号:KR1020090092123

    申请日:2009-09-29

    CPC classification number: H01L21/67028 H01J37/32009 H05H1/46

    Abstract: PURPOSE: A dielectric window pollution preventing apparatus, a self plasma light emission spectrum device, and a particle measuring device are provided to prevent a dielectric window from being polluted due to process gas and process byproducts by spraying pollution preventing gas to the dielectric window through a nozzle unit. CONSTITUTION: A dielectric window is combined with a flange attached to a vacuum container. A nozzle unit(520a,520b) is arranged around the dielectric window or flange. The nozzle unit provides the pollution preventing gas to the dielectric window. The flange includes a first flange(515a) and a second flange(515b). The dielectric window includes a first dielectric window(528a) combined with the first flange and a second dielectric window(528b) combined with the second flange.

    Abstract translation: 目的:提供一种电介质窗污染防止装置,自等离子体发光光谱装置和粒子测量装置,以防止由于处理气体和加工副产物而导致介质窗被污染,通过将污染防止气体喷射到电介质窗口 喷嘴单元。 构成:电介质窗与连接到真空容器的法兰结合。 喷嘴单元(520a,520b)布置在电介质窗或凸缘周围。 喷嘴单元向电介质窗提供防污染气体。 凸缘包括第一凸缘(515a)和第二凸缘(515b)。 电介质窗包括与第一凸缘组合的第一电介质窗口(528a)和与第二凸缘组合的第二电介质窗口(528b)。

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