Patent search ap:("한국해양과학기술원") AND inv:"최상화" Page 1

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发明授权
해저면 퇴적물층 분석을 위한 이미지 프로파일링 장치 有权

公开(公告)号：KR102080595B1

公开(公告)日：2020-02-24

申请号：KR1020180058592

申请日：2018-05-23

Applicant: 한국해양과학기술원

Inventor： 이재성 , 김성한 , 백현민 , 최상화 , 박찬홍 , 김경태

IPC: G01N1/02 , G01N21/01 , B63C11/00

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