公开(公告)号：AT375510T

公开(公告)日：2007-10-15

申请号：AT99911174

申请日：1999-03-05

Applicant: ABBOTT LAB

Inventor： NIENABER VICKI ,  GREER JONATHAN ,  ABAD-ZAPATERO CELERINO ,  NORBECK DANIEL

IPC: G01N33/50 ,  G01N33/53 ,  C30B7/00 ,  G01N23/20 ,  G01N33/15 ,  G01N33/68

公开(公告)号：ES2395815T3

公开(公告)日：2013-02-15

申请号：ES00957348

申请日：2000-08-09

Applicant: ABBOTT LAB

Inventor： OLSON JEFFREY ,  JONES RONALD ,  NIENABER VICKI ,  MUCHMORE STEVEN ,  PAN JEFFREY ,  GREER JONATHAN

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/207 ,  G01N35/00

Abstract: Un procedimiento para montar una muestra que comprende un cristal para llevar a cabo un análisis por difracciónde rayos X, comprendiendo el procedimiento las etapas de: (a) proporcionar un soporte del cristal (42) que contiene al menos un cristal; (b) proporcionar una herramienta (72) capaz de recuperar dicho soporte del cristal (42); (c) desplazar dicha herramienta mediante un robot (24); (d) proporcionar un dispositivo de posicionamiento (12) para montar dicho soporte del cristal (42) de forma quedicho cristal esté en el camino de un haz de rayos X; y (e) activar dicho robot (24) de forma que dicha herramienta recupere dicho soporte del cristal (42), reciba unacantidad suficiente de un fluido para mantener dicho cristal en dicho soporte del cristal (42) a una temperaturaque no supere aproximadamente 160º K, transferir dicho soporte del cristal (42) recuperado a dicho dispositivode posicionamiento (12), y montar dicho soporte del cristal (42) transferido a dicho dispositivo deposicionamiento (12), en el que dicho cristal en dicho soporte del cristal (42) recuperado se mantiene a unatemperatura que no supere aproximadamente 160º K.

公开(公告)号：AU2003255167A1

公开(公告)日：2003-11-13

申请号：AU2003255167

申请日：2003-10-16

Applicant: ABBOTT LAB

Inventor： NORBECK DANIEL W ,  ABAD-ZAPATERO CELERINO ,  GREER JONATHAN ,  NIENABER VICKI

IPC: G01N33/50 ,  G01N23/20 ,  G01N33/15 ,  G01N33/53 ,  G01N33/68 ,  G01N33/00