中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

10 records (took 0.016 seconds)

    СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ И СООТВЕТСТВУЮЩЕЕ ОБОРУДОВАНИЕ
    2.
    发明专利
    СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ И СООТВЕТСТВУЮЩЕЕ ОБОРУДОВАНИЕ 未知

    公开(公告)号：RU2729376C1

    公开(公告)日：2020-08-06

    申请号：RU2019143811

    申请日：2018-05-31

    Applicant: ARCELORMITTAL

    Inventor： AMOURAK MOUNIR ,  RABELO NUNES CAMPOS THIAGO ,  PIERRET HERVE ,  KRAUTH PIERRE-JEAN ,  SERT DOMINIQUE ,  IEZZI JOSEPH ,  NOGUES MICHEL

    IPC: G01B11/16

    Abstract: Изобретениеотноситсяк способуопределениядеформацииоборудования, контактирующегос горячимматериалом, атакжек оборудованию, контактирующемус горячимматериалом, оснащеннымсредствомдляопределениядеформациивдольпервогонаправления. Заявленныйспособопределениядеформациивдольпервогонаправленияоборудования, контактирующегос горячимматериаломи содержащеговнутреннююповерхность, контактирующуюс горячимматериалом, ивнешнююповерхность, противоположнуювнутреннейповерхности, содержитэтапы, накоторыхнавнешнейповерхностиобеспечиваютналичие: поменьшеймереодногопервогооптическоговолокна, установленноговдольпервогонаправленияи содержащегопоменьшеймередвепервыебрэгговскиерешетки, имеющиеразныепериодырешеткидляотраженияфотоновс разнымибрэгговскимидлинамиволн, ипоменьшеймередвухвторыхоптическихволокон, установленныхвдольпоменьшеймереодноговторогонаправления, котороепересекаетуказанноепервоеоптическоеволокнов точкепересечения, находящейсяв окрестностиоднойизуказанныхпервыхбрэгговскихрешеток, икаждоеизкоторыхв окрестностиуказаннойточкипересечениясодержитвторуюбрэгговскуюрешетку, имеющуюпериодрешеткидляотраженияфотоновс брэгговойдлинойволны. Затемвводятфотоныс длинамиволн, принадлежащимик группедлинволн, содержащейвсеуказанныебрэгговскиедлиныволн, всоответствующиепервыеконцыуказанныхпервыхи вторыхоптическихволокон, определяютдлинуволныфотонов, отраженныхсоответствующейпервойиливторойбрэгговскойрешеткой, иопределяютдеформациюоборудованиявдольуказанногопервогонаправлениянаосновесоответствующихпар, каждаяизкоторыхсодержитизмереннуюдлинуλR волныи соответствующуюбрэгговскуюдлинуλB волны. Техническийрезультат - обеспечениевозможностиопределенияи отслеживаниядеформацийоборудования. 3 н. и 17 з.п. ф-лы, 6 ил.

    Procedimiento para determinar la deformación y equipo asociado
    8.
    发明专利
    Procedimiento para determinar la deformación y equipo asociado 未知

    公开(公告)号：ES2884158T3

    公开(公告)日：2021-12-10

    申请号：ES18732869

    申请日：2018-05-31

    Applicant: ARCELORMITTAL

    Inventor： AMOURAK MOUNIR ,  RABELO NUNES CAMPOS THIAGO ,  PIERRET HERVÉ ,  KRAUTH PIERRE-JEAN ,  SERT DOMINIQUE ,  IEZZI JOSEPH ,  NOGUES MICHEL

    IPC: G01B11/16 ,  G01K11/32 ,  G01L1/24 ,  G01L1/26 ,  G01M11/08

    Abstract: Procedimiento para determinar la deformación a lo largo de una primera dirección (D1) de un equipo (1) en contacto con material caliente y que comprende una cara interna (3) destinada a estar en contacto con el material caliente y una cara externa (4) opuesta a la cara interna (3), comprendiendo este procedimiento las etapas de: - proporcionar a la cara externa (4): o al menos una primera fibra óptica (5i) colocada a lo largo de la primera dirección (D1) y que comprende al menos dos primeras rejillas de Bragg (6ij) que tienen diferentes períodos de rejilla para reflejar fotones que tienen diferentes longitudes de onda de Bragg, y o al menos dos segundas fibras ópticas (7k) colocadas a lo largo de al menos una segunda dirección (D2) que cruza la al menos primera fibra óptica (5i) en un punto de cruce ubicado en las proximidades de una de las primeras rejillas de Bragg (6ij), y que comprenden cada una, en las proximidades de un punto de cruce, una segunda rejilla de Bragg (8kn) que tiene un período de rejilla para reflejar fotones que tienen una longitud de onda de Bragg, - introducir fotones que tienen longitudes de onda que pertenecen a un grupo de longitudes de onda que comprende todas las longitudes de onda de Bragg, en primeros extremos respectivos de la primera (5i) y segunda (7k) fibras ópticas, - determinar longitudes de onda de fotones reflejados por una primera (6ij) o segunda rejilla de Bragg (8kn) correspondiente, y - determinar una deformación del equipo (1) a lo largo de la primera dirección a partir de pares correspondientes que comprenden cada uno una longitud de onda determinada λR y una longitud de onda de Bragg λB correspondiente.

    УСТАНОВКА ДЛЯ ВАКУУМНОГО ОСАЖДЕНИЯ ПОКРЫТИЙ И СПОСОБ НАНЕСЕНИЯ ПОКРЫТИЙ НА ПОДЛОЖКУ
    9.
    发明专利
    УСТАНОВКА ДЛЯ ВАКУУМНОГО ОСАЖДЕНИЯ ПОКРЫТИЙ И СПОСОБ НАНЕСЕНИЯ ПОКРЫТИЙ НА ПОДЛОЖКУ 未知

    公开(公告)号：RU2755323C1

    公开(公告)日：2021-09-15

    申请号：RU2021100170

    申请日：2019-04-23

    Applicant: ARCELORMITTAL

    Inventor： SILBERBERG ERIC ,  RABELO NUNES CAMPOS THIAGO ,  GILANI NEGAR

    IPC: C23C14/16 ,  C23C14/24 ,  C23C14/34 ,  C23C14/56

    Abstract: Изобретениеотноситсяк технологиинепрерывногоосажденияпокрытий, сформированныхизодногометаллаилиметаллическогосплава. Способнепрерывногоосаждениянаперемещающуюсяподложку S покрытий, сформированныхпоменьшеймереизодногометаллавнутриустановки 1 длявакуумногоосаждения, содержащейвакуумнуюкамеру 2, включаетэтап, накоторомв указаннойвакуумнойкамереметаллическийпарвыбрасываетсячерезпоменьшеймередвапаровыхэжектора 3, 3' внаправлениик обеимсторонамперемещающейсяподложки S, ислойпоменьшеймереодногометаллаформируетсянакаждойсторонепосредствомконденсациивыбрасываемыхпаров, причемпоменьшеймередвапаровыхэжектора 3, 3', обращенныхдругк другу, позиционируютсоответственноподугламиα иα', образованнымимеждуэжекторомпараи осьюА, перпендикулярнойнаправлениюперемещенияподложки, оськоторойнаходитсяв плоскостиподложки S, причемобауглаα иα' удовлетворяютследующимуравнениям:где D1 и D2 - расстояниямеждуэжекторами 3, 3 икаждымкраемподложки S вдольоси A, Ws - ширинаподложки, упомянутыеэжекторыпараимеютпрямоугольнуюформуилитрапециевиднуюформуи содержатпрорезь, определяемуюшириной We прорези, упомянутыеэжекторыпараимеютодинаковуюосьвращения. Расположениеэжекторовтаково, чтотермическийпрофильвдольшириныподложкиявляетсяравномерным, профильупругойдеформациивдольподложкипослеосажденияметаллаявляетсясимметричным, следовательно, покрытаяподложкаобладаетвысокойплоскостностью. 3 н. и 15 з.п. ф-лы, 6 ил., 1 табл.

Patent Agency Ranking