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公开(公告)号:TW432579B
公开(公告)日:2001-05-01
申请号:TW088108262
申请日:1999-05-20
Applicant: ASM美國公司
IPC: H01L
CPC classification number: H01L21/67346 , H01L21/67253 , H01L21/67353 , H01L21/67379 , Y10S414/137 , Y10S414/14
Abstract: 本發明揭示一種可堆疊卡匣,供測試複數個半導體晶圓處理期間之至少一個別晶圓。此可堆疊卡匣包括一底表面,其與具有複數個晶圓之基座卡匣之頂部相符合。此外,可堆疊卡匣包括二或更多個支座,其係水平連接至該二基座。基座包括肋部,其形成溝道以容納至少一晶圓。當處理複數個晶圓時,可堆疊卡匣置於基座卡匣之頂部。一特定處理之晶圓被置於可堆疊卡匣之內。可堆疊卡匣係接著被移除以檢查測試晶圓。
Abstract in simplified Chinese: 本发明揭示一种可堆栈卡匣,供测试复数个半导体晶圆处理期间之至少一个别晶圆。此可堆栈卡匣包括一底表面,其与具有复数个晶圆之基座卡匣之顶部相符合。此外,可堆栈卡匣包括二或更多个支座,其系水平连接至该二基座。基座包括肋部,其形成沟道以容纳至少一晶圆。当处理复数个晶圆时,可堆栈卡匣置于基座卡匣之顶部。一特定处理之晶圆被置于可堆栈卡匣之内。可堆栈卡匣系接着被移除以检查测试晶圆。