公开(公告)号：CN111819658A

公开(公告)日：2020-10-23

申请号：CN201980017979.4

申请日：2019-03-08

Applicant: ATONARP株式会社

Inventor： 赛义德·鲍姆塞勒克 ,  高桥直树 ,  柏拉卡斯·斯里达尔·穆尔蒂

IPC: H01J49/10 ,  H01J27/02 ,  H01J37/08

Abstract: 公开了包括电离器(50)的装置(1)。电离器包括：块体(80)，其包括一种或多种发射体材料(89)并且被配置成至少部分可损耗；以及加热单元(56)，其被配置成对块体的至少一部分(81)进行加热。电离器可以包括电子发射体分配器(53)，该电子发射体分配器(53)被配置成使块体的有限部分露出。

公开(公告)号：CN110392918B

公开(公告)日：2022-06-17

申请号：CN201880013825.3

申请日：2018-04-04

Applicant: ATONARP株式会社

Inventor： 赛义德·鲍姆塞勒克 ,  柏拉卡斯·斯里达尔·穆尔蒂 ,  戴夫·安德森

IPC: H01J49/42 ,  G01N27/62

Abstract: 公开了一种用于扫描样本气体的质量分析器。质量分析器(10)包括：电离器(20)，用于从样本(29)产生离子；滤质器(30)，其具有累积器部(32)，累积器部(32)集成在滤质器中，并且在从滤质器喷射之前累积过滤离子；以及离子检测器(50)，其被配置为检测从滤质器喷射的离子。滤质器可以包括四极阵列(33a)并且累积器部包括离子阱阵列(38)。

公开(公告)号：CN110392918A

公开(公告)日：2019-10-29

申请号：CN201880013825.3

申请日：2018-04-04

Applicant: ATONARP株式会社

Inventor： 赛义德·鲍姆塞勒克 ,  柏拉卡斯·斯里达尔·穆尔蒂 ,  戴夫·安德森

IPC: H01J49/42 ,  G01N27/62

Abstract: 公开了一种用于扫描样本气体的质量分析器。质量分析器(10)包括：电离器(20)，用于从样本(29)产生离子；滤质器(30)，其具有累积器部(32)，累积器部(32)集成在滤质器中，并且在从滤质器喷射之前累积过滤离子；以及离子检测器(50)，其被配置为检测从滤质器喷射的离子。滤质器可以包括四极阵列(33a)并且累积器部包括离子阱阵列(38)。