公开(公告)号：AU2002236926A1

公开(公告)日：2002-09-24

申请号：AU2002236926

申请日：2002-01-30

Applicant: AXSUN TECH INC

Inventor： CONOVER STEVEN D ,  O'CONNOR SEAN P ,  MURDZA RANDAL A ,  ATIA WALID A ,  FITCH ERIC E

IPC: G02B6/42 ,  H05K3/30

公开(公告)号：AU2002251772A1

公开(公告)日：2002-08-28

申请号：AU2002251772

申请日：2002-01-14

Applicant: AXSUN TECH INC

Inventor： MURDZA RANDAL A ,  CONOVER STEVEN D ,  STERN MARGARET B

IPC: G02B6/42 ,  G02B6/26 ,  G02B7/00 ,  G02B7/02 ,  G02B27/62

公开(公告)号：WO02065178A3

公开(公告)日：2003-03-20

申请号：PCT/US0201184

申请日：2002-01-14

Applicant: AXSUN TECH INC ,  CONOVER STEVEN D ,  MURDZA RANDAL A ,  STERN MARGARET B

Inventor： CONOVER STEVEN D ,  MURDZA RANDAL A ,  STERN MARGARET B

IPC: G02B6/42 ,  G02B6/26 ,  G02B7/00 ,  G02B7/02 ,  G02B27/62

CPC classification number: G02B6/4228 ,  G02B6/4221 ,  G02B6/4224 ,  G02B6/4225 ,  G02B6/4226 ,  G02B6/4232

Abstract: A micro-optical train manufacturing process includes a step of characterizing the position of optical components (114) on an optical bench (130), typically using a metrology system. These optical components (114) are then aligned with respect to each other in a passive alignment step (250) based on data from the metrology system and optical system design information. As a result, a subsequent active align process (260) can be avoided in some situations, or if a subsequent active alignment process (260) is performed, the time required for that active alignment process (260) can be reduced because of this initial metrology-based passive alignment step (250).

Abstract translation: 微型光学系统制造方法包括通常使用计量系统来表征光学平台（130）上的光学部件（114）的位置的步骤。 基于来自计量系统和光学系统设计信息的数据，这些光学部件（114）然后在被动对准步骤（250）中相对于彼此对准。 结果，在一些情况下可以避免随后的主动对准过程（260），或者如果执行后续的主动对准过程（260），那么由于该初始化可以减少该主动对准过程（260）所需的时间 基于计量的被动对准步骤（250）。