СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ, ОПТИЧЕСКИХ УСТРОЙСТВ, МИКРОМАШИН И МЕХАНИЧЕСКИХ ВЫСОКОТОЧНЫХ УСТРОЙСТВ, ИМЕЮЩИХ СЛОИ СТРУКТУРИРОВАННОГО МАТЕРИАЛА СО СТРОЧНЫМ ИНТЕРВАЛОМ 50 НМ И МЕНЕЕ

    公开(公告)号:RU2585322C2

    公开(公告)日:2016-05-27

    申请号:RU2013146360

    申请日:2012-02-29

    Applicant: BASF SE

    Abstract: Использование: дляполученияинтегральныхсхем, оптическихустройств, микромашини механическихвысокоточныхустройств. Сущностьизобретениязаключаетсяв том, чтоспособполученияинтегральныхсхем, оптическихустройств, микромашини механическихвысокоточныхустройств, включаетстадии: полученияподложки, имеющейслоиструктурированногоматериала, имеющиестрочныйинтервал 50 нми менееи характеристическоеотношение >2; полученияповерхностислоевструктурированногоматериалас положительнымилиотрицательнымэлектрическимзарядомпосредствомконтактаполупроводниковойподложкипоменьшеймереодинразс воднымсвободнымотфторараствором S, содержащимпоменьшеймереодносвободноеотфторакатионноеповерхностно-активноевеществоА, имеющеепоменьшеймереоднукатионнуюилипотенциальнокатионнуюгруппу, поменьшеймереодносвободноеотфтораанионноеповерхностно-активноевеществоА, имеющеепоменьшеймереоднуанионнуюилипотенциальноанионнуюгруппу, илипоменьшеймереодносвободноеотфтораамфотерноеповерхностно-активноевеществоА; выведениеводногосвободногоотфторараствора S изконтактас подложкой. Техническийрезультат: обеспечениевозможностиполученияинтегральныхсхемоптическихустройств, имеющихслоиструктурированногоматериалас характеристическимотношением >2. 11 з.п. ф-лы, 3 ил.

Patent Agency Ranking