公开(公告)号：CN100451895C

公开(公告)日：2009-01-14

申请号：CN200510004481.4

申请日：2005-01-12

Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司

Inventor： G·德安杰罗 ,  G·帕斯凯塔兹 ,  A·特雷诺

IPC: G05B23/00 ,  B23K26/03

CPC classification number: B23K26/032 ,  G05B2219/37217 ,  Y10S706/90 ,  Y10S706/904

Abstract: 一种用于控制工业过程的质量的方法，包括步骤：为该工业过程提供一个或多个参考信号(xref)；获取表示所述工业过程的质量的一个或多个实际信号(xreal)；和比较所述一个或多个参考信号(xref)与所述一个或多个实际信号(xreal)，以鉴别在所述工业过程中的缺陷。根据本发明，该方法还包括操作：获得从所述参考信号(xref)变换的信号(Xref_inv_norm)；获得从所述实际信号(xreal)变换的信号(Xreal_inv_norm)；和分别计算所述变换的参考信号(Xref_inv_norm)和所述变换的实际信号(Xreal-inv-norm)的能量(Eref、Ereal)，所述比较操作包括：将所述变换的参考信号(Xref_inv_norm)和所述变换的实际信号(Xreal_inv_norm)的能量(Eref、Ereal)相互进行比较，以提取所选频率值(f_e)的相对应的时频分布(Tfdref、Tfdreal)；计算所述时频分布(Tfdref、Tfdreal)的能量(Etref、Etreal)；和将所述时频分布(Tfdref、Tfdreal)的能量与阈值(max_Tfdref)进行比较，以标识与缺陷相关联的能量值。

公开(公告)号：CN1641504A

公开(公告)日：2005-07-20

申请号：CN200510004481.4

申请日：2005-01-12

Applicant: C.R.F.阿西安尼顾问公司

Inventor： G·德安杰罗 ,  G·帕斯凯塔兹 ,  A·特雷诺

IPC: G05B23/00 ,  B23K26/03

CPC classification number: B23K26/032 ,  G05B2219/37217 ,  Y10S706/90 ,  Y10S706/904

Abstract: 一种用于控制工业过程的质量的方法，包括步骤：为该工业过程提供一个或多个参考信号(xref)；获取表示所述工业过程的质量的一个或多个实际信号(xreal)；和比较所述一个或多个参考信号(xref)与所述一个或多个实际信号(xreal)，以鉴别在所述工业过程中的缺陷。根据本发明，该方法还包括操作：获得从所述参考信号(xref)变换的信号(xref_inv_norm)；获得从所述实际信号(xreal)变换的信号(Xreal_inv_norm)；和分别计算所述变换的参考信号(xref_inv_norm)和所述变换的实际信号(Xreal_inv_norm)的能量(Eref、Ereal)，所述比较操作包括：将所述变换的参考信号(xref_inv_norm)和所述变换的实际信号(Xreal_inv_norm)的能量(Eref、Ereal)相互进行比较，以提取所选频率值(f_e)的相对应的时频分布(Tfdref、Tfdreal)；计算所述时频分布(Tfdref、Tfdreal)的能量(Etref、Etreal)；和将所述时频分布(Tfdref、Tfdreal)的能量与阈值(max_Tfdref)进行比较，以标识与缺陷相关联的能量值。