用于检测物理量、特别是磁场的薄膜器件及相应检测方法

    公开(公告)号:CN1955754A

    公开(公告)日:2007-05-02

    申请号:CN200610125759.8

    申请日:2006-08-29

    CPC classification number: G01R33/09 Y10S977/96

    Abstract: 用于检测物理量、特别是磁场的薄膜器件及相应检测方法。这里描述的是一种用于检测物理量、尤其是磁场的、包括包含一个或多个敏感元件(10;20;30)的电路的类型的薄膜器件,其被设计用于改变它们自己的电阻(R)作为要被检测的物理量的函数,所述一个或多个敏感元件(10;20;30)包括至少一个纳米收缩(10;20;30),所述纳米收缩(10;20;30)包括由磁性材料制成的至少两个垫片(12,13;22,23),与其相关联的是取向于基本上彼此相反的方向并通过纳米通道(11;21;21′;21″)被连接的相应磁化(16,17;M1,M2),所述纳米通道(11;21;21′;21″)能够建立畴壁(15;25),其确定所述纳米收缩(10;20;30)的电阻(R)作为相对于形成在所述传感器件中的所述畴壁(15;25)的所述纳米通道(11;21;21′;21″)的位置的函数。配置所述纳米通道(21;21′;21″)的至少一个截面,以便沿着一个或多个轴(x)展示可变的延伸(LDW),作为要被检测的所述物理量的不同值的函数。

    用于将虚像投影在观察者视场中的系统

    公开(公告)号:CN1664652A

    公开(公告)日:2005-09-07

    申请号:CN200510051889.7

    申请日:2005-03-03

    CPC classification number: H04N5/74 G02B27/017 H04N5/7491 H04N9/31

    Abstract: 一种用于将虚像投影在观察者视场(FOV)中的系统,包括一支撑部件(50),一透明元件(30),被安装在该支撑部件(50)上,适于放在观察者眼睛的前面,该透明元件(30)包括第一面(30a,30b)和第二面(30a,30b);图像显示装置(10)和投影及聚焦装置(20),图像显示装置(10)适于形成附加的图像,投影及聚焦装置(20)用于按一定方式投影此附加的图像,以将其呈现为被叠加在外部世界图像上。该显示装置包括配置在透明元件(30)两面(30a,30b)之一上的发光装置(10);该投影及聚焦装置包括与对应发光装置(10)相关联且被配置在另一面(30a,30b)上的光学元件(20)。每个光学元件(20)产生与之相关联的发光装置(10)的虚像。这些发光装置(10)的虚像其中在一起形成附加图像。

    用于检测物理量、特别是磁场的薄膜器件及相应检测方法

    公开(公告)号:CN1955754B

    公开(公告)日:2010-09-01

    申请号:CN200610125759.8

    申请日:2006-08-29

    CPC classification number: G01R33/09 Y10S977/96

    Abstract: 这里描述的是一种用于检测物理量、尤其是磁场的、包括包含一个或多个敏感元件(10;20;30)的电路的类型的薄膜器件,其被设计用于改变它们自己的电阻(R)作为要被检测的物理量的函数,所述一个或多个敏感元件(10;20;30)包括至少一个纳米收缩(10;20;30),所述纳米收缩(10;20;30)包括由磁性材料制成的至少两个垫片(12,13;22,23),与其相关联的是取向于基本上彼此相反的方向并通过纳米通道(11;21;21′;21″)被连接的相应磁化(16,17;M1,M2),所述纳米通道(11;21;21′;21″)能够建立畴壁(15;25),其确定所述纳米收缩(10;20;30)的电阻(R)作为相对于形成在所述传感器件中的所述畴壁(15;25)的所述纳米通道(11;21;21′;21″)的位置的函数。配置所述纳米通道(21;21′;21″)的至少一个截面,以便沿着一个或多个轴(x)展示可变的延伸(LDw),作为要被检测的所述物理量的不同值的函数。

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