公开(公告)号：WO2018224792A1

公开(公告)日：2018-12-13

申请号：PCT/FR2018/051337

申请日：2018-06-08

Applicant: DIAM CONCEPT

Inventor： DUIGOU, Olivier ,  BIEBER, Thomas ,  GICQUEL, Alix

IPC: C23C16/27 ,  C23C16/52 ,  C30B25/16 ,  C30B29/04

Abstract: L'invention porte sur un procédé (100) de surveillance des conditions de croissance d'un dépôt assisté par plasma microonde pour la fabrication de diamant, ledit procédé étant mis en œuvre par un dispositif (10) de surveillance comprenant au moins un moyen (11) de capture d'image numérique, un module (12) de traitement d'image numérique, et un module (13) de traitement de données, ledit procédé comportant les étapes : - de capture (110) d'une image numérique en couleur d'au moins un diamant en croissance, à l'aide du moyen (11) de capture d'images numériques, - d'extraction (120) de valeurs de caractéristiques de couleur d'au moins une zone de l'image numérique capturée, par le module (12) de traitement d'image numérique, et - d'analyse (130), par le module (13) de traitement de données, des valeurs de caractéristiques de couleur extraites pour détecter une variation lors du dépôt assisté par plasma microonde.

公开(公告)号：EP3635153A1

公开(公告)日：2020-04-15

申请号：EP18736996.2

申请日：2018-06-08

Applicant: Diam Concept

Inventor： DUIGOU, Olivier ,  BIEBER, Thomas ,  GICQUEL, Alix

IPC: C23C16/27 ,  C23C16/52 ,  C30B25/16 ,  C30B29/04