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公开(公告)号:CN101957327B
公开(公告)日:2016-08-10
申请号:CN201010229845.X
申请日:2010-07-13
Applicant: FEI公司
CPC classification number: G01N23/2251 , G01N2223/611 , H01J37/20 , H01J37/26 , H01J2237/2003 , H01J2237/2008
Abstract: 本发明涉及用于检查样品的方法。本发明描述一种在电子显微镜中检查样品的方法。样品支座500示出连接焊垫505、508与样品要被放置在其上的区域A的电极504、507。在把样品放置在样品支座上后,在样品上沉积导电图案,以便电压和电流可以被施加到样品的局部化的部分。在样品上施加图案可例如用束诱导沉积或喷墨印刷来完成。本发明还教导在样品中建立电子部件,诸如电阻器、电容器、电感器和有源元件诸如FET。
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公开(公告)号:CN101957327A
公开(公告)日:2011-01-26
申请号:CN201010229845.X
申请日:2010-07-13
Applicant: FEI公司
CPC classification number: G01N23/2251 , G01N2223/611 , H01J37/20 , H01J37/26 , H01J2237/2003 , H01J2237/2008
Abstract: 本发明涉及用于检查样品的方法。本发明描述一种在电子显微镜中检查样品的方法。样品支座500示出连接焊垫505、508与样品要被放置在其上的区域A的电极504、507。在把样品放置在样品支座上后,在样品上沉积导电图案,以便电压和电流可以被施加到样品的局部化的部分。在样品上施加图案可例如用束诱导沉积或喷墨印刷来完成。本发明还教导在样品中建立电子部件,诸如电阻器、电容器、电感器和有源元件诸如FET。
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