公开(公告)号：DE112020006659T5

公开(公告)日：2022-11-24

申请号：DE112020006659

申请日：2020-04-07

Applicant: HAMAMATSU PHOTONICS KK

Inventor： NAITO YASUHIDE ,  HIRAO TSUYOSHI ,  KONDO MINORU

IPC: H01J49/02 ,  G01N27/64 ,  H01J49/16 ,  H01J49/40

Abstract: Eine Abbildungseinheit umfasst eine MCP, einen fluoreszierenden Körper und einen Bildwandler. Die MCP ist in einer Flugbahn einer ionisierten Probe vorgesehen, die eine Komponente einer ionisierten Probe ist, und emittiert Elektronen in Übereinstimmung mit der ionisierten Probe. Der fluoreszierende Körper ist stromabwärts von der MCP angeordnet und emittiert Fluoreszenzlicht in Übereinstimmung mit den von der MCP emittierten Elektronen. Der Bildwandler ist stromabwärts des fluoreszierenden Körpers angeordnet und verfügt über einen Verschlussmechanismus, der so konfiguriert ist, dass er in der Lage ist, einen offenen Zustand, in dem das fluoreszierende Licht abgebildet wird, indem er das fluoreszierende Licht aus dem fluoreszierenden Körper durchlässt, und einen geschlossenen Zustand, in dem das fluoreszierende Licht nicht abgebildet wird, indem er das fluoreszierende Licht aus dem fluoreszierenden Körper blockiert, umzuschalten. Die Nachleuchtzeit des Leuchtstoffkörpers beträgt 12 ns oder weniger.

公开(公告)号：DE112020006653T5

公开(公告)日：2022-11-24

申请号：DE112020006653

申请日：2020-04-07

Applicant: HAMAMATSU PHOTONICS KK

Inventor： NAITO YASUHIDE ,  HIRAO TSUYOSHI ,  KONDO MINORU

IPC: H01J49/16 ,  G01N27/64 ,  H01J49/14 ,  H01J49/40

Abstract: Ein Massenspektrometer umfasst einen Probentisch, eine Bestrahlungsvorrichtung, eine MCP, einen fluoreszierenden Körper, einen Bildwandler und eine Steuereinheit. Die Bestrahlungsvorrichtung bestrahlt eine Probe mit einem Energiestrahl, um eine Vielzahl von Komponenten der Probe zu ionisieren, während die Positionsinformation der Vielzahl von Komponenten erhalten bleibt. Die MCP emittiert Elektronen in Übereinstimmung mit einer ionisierten Probe. Der fluoreszierende Körper emittiert Fluoreszenzlicht in Übereinstimmung mit den Elektronen. Der Bildwandler verfügt über einen Verschlussmechanismus, der so konfiguriert ist, dass er zwischen einem offenen und einem geschlossenen Zustand umschalten kann. Die Steuereinheit steuert den Öffnungs- und Schließvorgang des Verschlussmechanismus. Die Steuereinheit ermöglicht es dem Bildwandler, das Fluoreszenzlicht entsprechend jeder der mehreren Komponenten abzubilden, indem das Öffnen und Schließen des Verschlussmechanismus zu einem Zeitpunkt für jede der Komponenten durchgeführt wird.

公开(公告)号：EP3214437A4

公开(公告)日：2018-07-04

申请号：EP16841742

申请日：2016-08-26

Applicant: HAMAMATSU PHOTONICS KK

Inventor： NAITO YASUHIDE ,  KOTANI MASAHIRO ,  OHMURA TAKAYUKI

IPC: H01J49/04

CPC classification number: H01J49/0418 ,  B01L3/5027 ,  B01L2300/0819 ,  G01N27/62

Abstract: A sample support (2) according to an aspect is a sample support for a surface-assisted laser desorption/ionization method, and includes: a substrate (21) in which a plurality of through-holes (S) passing from one surface (21a) thereof to the other surface (21b) thereof are provided; and a conductive layer (23) that is formed of a conductive material and covers at least the one surface (21a). The through-holes (S) have a width (d3) of 1 to 700 nm, and the substrate (21) has a thickness (d1) of 1 to 50 µm.

公开(公告)号：EP3214436A4

公开(公告)日：2018-07-04

申请号：EP16841741

申请日：2016-08-26

Applicant: HAMAMATSU PHOTONICS KK

Inventor： NAITO YASUHIDE ,  KOTANI MASAHIRO ,  OHMURA TAKAYUKI

IPC: H01J49/04 ,  G01N27/62

CPC classification number: H01J49/0418 ,  G01N1/2806 ,  G01N1/2813 ,  G01N27/62 ,  G01N33/6851 ,  H01J49/164 ,  H01J49/26

Abstract: A surface-assisted laser desorption/ionization method according to an aspect includes: a first process of preparing a sample support (2) having a substrate (21) in which a plurality of through-holes (S) passing from one surface (21a) thereof to the other surface (21b) thereof are provided and a conductive layer (23) that covers at least the one surface (21a); a second process of placing a sample (10) on a sample stage (1) and arranging the sample support (2) on the sample (10) such that the other surface (21b) faces the sample (10); and a third process of applying a laser beam (L) to the one surface (21a) and ionizing the sample (10) moved from the other surface (21b) side to the one surface (21 a) side via the through-holes (S) due to a capillary phenomenon.