磁盘用玻璃基板、磁盘及磁盘的制造方法

    公开(公告)号:CN101896972B

    公开(公告)日:2013-01-30

    申请号:CN200880119945.8

    申请日:2008-12-24

    CPC classification number: G11B5/7315 G11B5/82

    Abstract: 本发明的磁盘用玻璃基板,在玻璃基板的比外周端靠中心部侧的表面任意选择两个部位的各区域中,在各区域的表面形状中,抽取形状波长为60~500μm波段的表面形状,把该表面形状的自乘平均平方根粗糙度Rq设为微小波动Rq时,所述各区域的微小波动Rq的差为0.02nm以下或所述各区域的微小波动Rq的标准偏差的差为0.04nm以下。

    磁盘用基板以及磁盘
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102077279B

    公开(公告)日:2012-06-20

    申请号:CN200980125011.X

    申请日:2009-06-29

    Abstract: 本发明的课题在于对表面缺陷的形状以及个数进行管理,而抑制在搭载了如DFH头那样浮动高度非常小的磁头的HDD装置中产生缺点。本发明的磁盘用基板的特征在于,在对以5μm的光斑直径照射了激光功率25mW的波长405nm的激光时的来自所述基板的散射光进行检测时检测为0.1μm~0.3μm以下的尺寸的缺陷针对每24cm2少于50个,并且不存在针对所述缺陷通过使用了原子力显微镜的支撑曲线描绘法得到的支撑曲线中的从所述缺陷的顶点至45%的部分与从所述缺陷的顶点连接了45%的假想线相比位于缺陷高度更高的区域的缺陷。

    磁盘用基板以及磁盘
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102077279A

    公开(公告)日:2011-05-25

    申请号:CN200980125011.X

    申请日:2009-06-29

    Abstract: 本发明的课题在于对表面缺陷的形状以及个数进行管理,而抑制在搭载了如DFH头那样浮动高度非常小的磁头的HDD装置中产生缺点。本发明的磁盘用基板的特征在于,在对以5μm的光斑直径照射了激光功率25mW的波长405nm的激光时的来自所述基板的散射光进行检测时检测为0.1μm~0.3μm以下的尺寸的缺陷针对每24cm2少于50个,并且不存在针对所述缺陷通过使用了原子力显微镜的支撑曲线描绘法得到的支撑曲线中的从所述缺陷的顶点至45%的部分与从所述缺陷的顶点连接了45%的假想线相比位于缺陷高度更高的区域的缺陷。

    磁盘用玻璃基板、磁盘及磁盘的制造方法

    公开(公告)号:CN101896972A

    公开(公告)日:2010-11-24

    申请号:CN200880119945.8

    申请日:2008-12-24

    CPC classification number: G11B5/7315 G11B5/82

    Abstract: 本发明的磁盘用玻璃基板,在玻璃基板的比外周端靠中心部侧的表面任意选择两个部位的各区域中,在各区域的表面形状中,抽取形状波长为60~500μm波段的表面形状,把该表面形状的自乘平均平方根粗糙度Rq设为微小波动Rq时,所述各区域的微小波动Rq的差为0.02nm以下或所述各区域的微小波动Rq的标准偏差的差为0.04nm以下。

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