公开(公告)号：CN102077279B

公开(公告)日：2012-06-20

申请号：CN200980125011.X

申请日：2009-06-29

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 橘内浩二 ,  武田浩 ,  仙田裕加里

IPC: G11B5/73 ,  G11B5/82 ,  G11B5/84

CPC classification number: G11B5/7315 ,  C03C3/083 ,  G11B5/82 ,  G11B20/1816 ,  G11B2220/2516 ,  Y10T428/21

Abstract: 本发明的课题在于对表面缺陷的形状以及个数进行管理，而抑制在搭载了如DFH头那样浮动高度非常小的磁头的HDD装置中产生缺点。本发明的磁盘用基板的特征在于，在对以5μm的光斑直径照射了激光功率25mW的波长405nm的激光时的来自所述基板的散射光进行检测时检测为0.1μm～0.3μm以下的尺寸的缺陷针对每24cm2少于50个，并且不存在针对所述缺陷通过使用了原子力显微镜的支撑曲线描绘法得到的支撑曲线中的从所述缺陷的顶点至45％的部分与从所述缺陷的顶点连接了45％的假想线相比位于缺陷高度更高的区域的缺陷。

公开(公告)号：CN102077279A

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：CN200980125011.X

申请日：2009-06-29

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 橘内浩二 ,  武田浩 ,  仙田裕加里

IPC: G11B5/73 ,  G11B5/82 ,  G11B5/84

CPC classification number: G11B5/7315 ,  C03C3/083 ,  G11B5/82 ,  G11B20/1816 ,  G11B2220/2516 ,  Y10T428/21

Abstract: 本发明的课题在于对表面缺陷的形状以及个数进行管理，而抑制在搭载了如DFH头那样浮动高度非常小的磁头的HDD装置中产生缺点。本发明的磁盘用基板的特征在于，在对以5μm的光斑直径照射了激光功率25mW的波长405nm的激光时的来自所述基板的散射光进行检测时检测为0.1μm～0.3μm以下的尺寸的缺陷针对每24cm2少于50个，并且不存在针对所述缺陷通过使用了原子力显微镜的支撑曲线描绘法得到的支撑曲线中的从所述缺陷的顶点至45％的部分与从所述缺陷的顶点连接了45％的假想线相比位于缺陷高度更高的区域的缺陷。