公开(公告)号：DE112010003645T5

公开(公告)日：2012-10-31

申请号：DE112010003645

申请日：2010-11-26

Applicant: IBM

Inventor： ELEFTHERIOU EVANGELOS S ,  HAAS ROBERT ,  ANTONAKOPOULOS THEODORE A ,  CIDEDIYAN ROY D ,  HU XIAOYU ,  ILIADIS ILIAS

IPC: G06F11/10 ,  G11C29/00

Abstract: Systeme und Verfahren werden bereitgestellt, die sich mit dem Problem von ausgefallenen integrierten Speicherschaltkreisen (ICs) in einem Festkörperlaufwerk (SSD) beschäftigen durch die Verwendung einer fehlertoleranten Architektur gemeinsam mit einem Mechanismus mit Ein-Fehler-Korrekturcode (ECC) für Korrekturen von Zufalls-/Bündelfehlern und einem Mechanismus zur L-fachen Verschachtelung. Die hier beschriebenen Systeme und Verfahren halten das SSD funktionsfähig, wenn ein oder mehrere integrierte Schaltkreise ausfallen, und ermöglichen die Wiederherstellung von zuvor gespeicherten Daten von ausgefallenen integrierten Schaltkreisen und ermöglichen, dass Zufalls-/Bündelfehler in anderen funktionsfähigen integrierten Schaltkreisen korrigiert werden. Diese Systeme und Verfahren ersetzen die ausgefallenen integrierten Schaltkreise durch voll funktionierende/betriebsfähige integrierte Schaltkreise, die hier als integrierte Ersatzschaltkreise behandelt werden. Diese Systeme und Verfahren verbessern des Weiteren die E/A-Leistung in Bezug auf die maximal erreichbare Rate zum Lesen/Schreiben von Daten.