公开(公告)号：DE112020004295T5

公开(公告)日：2022-06-23

申请号：DE112020004295

申请日：2020-08-07

Applicant: IBM

Inventor： FIGULI RAZVAN ,  PAYER STEFAN ,  LICHTENAU CEDRIC ,  SCHELM KERSTIN

IPC: G06F11/07

Abstract: Ein Verfahren zum Erkennen von Defekten bei Teilzeichenfolgen-Suchoperationen aufweist Bereitstellen, unter Verwendung einer Prozessoreinheit, welche Vektorregister von jeweils M Vektorelementen aufweist, einer MxM-Matrix von Komparatoren zum Zeichen-für-Zeichen-Vergleich der Elemente einer Referenzzeichenfolge, die in einem ersten der Vektorregister gespeichert ist, mit einer Zielzeichenfolge, die in einem zweiten der Vektorregister gespeichert ist. Ein Vektorelement ist ein n-Bit-Element zum Codieren eines Zeichens. Unter Anwendung eines Vergleichs, der von der MxM-Matrix durchgeführt wird, wird ein resultierender Bitvektor erzeugt. Der resultierende Bitvektor zeigt Zeichen der Zielzeichenfolge an, welche vollständig mit der Referenzzeichenfolge übereinstimmen, und zeigt Zeichen der Zielzeichenfolge an, welche teilweise mit der Referenzzeichenfolge übereinstimmen. Unter Verwendung des resultierenden Bitvektors wird in den Teilzeichenfolgen-Suchoperationen eine Defekterkennung durchgeführt.