Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and a device for injecting an error to functional units in a processor system for observing a non-injected error occurring in the functional units. SOLUTION: A local error handler layer performs error injection on various functional units in a local level. A global failure isolation register FIR layer connects to the local error handler layer to regulate local error processing in a plurality of functional units of the processor system. A software debugger application or system software communicates with the global FIR layer to control the error processing. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
Abstract:
An integrated circuit contains a service engine, which receives requests to execute tasks on a service processor. The tasks are assigned priorities. The state of the currently executing task indicates whether it can be interrupted without affecting its processing. When a request to execute a new task is received, the priority of the new task is compared with the priority of the currently executing task. If the currently executing task has a higher priority, it continues to execute. Otherwise, the engine waits a predetermined time. If, within that time, the executing task indicates that it can be interrupted, the executing task is terminated and the new task executed. If at the end of that time, the executing task has not indicated that it can be interrupted, it is terminated anyway and the new task is executed.
Abstract:
Disclosed is an electronic circuit 10 with latch scan chains 12, the circuit has a built-in test structure 14, generation means 16 that simultaneously generates scan-in data for each of the scan chains, and interception means 18 that intercepts test lines 20 of the scan chains. The test lines having scan-in lines 22 and/or control lines 24. The interception means are responsive to the generation means in order to feed the generated scan-in data into each of the scan chains for initializing the electronic circuit. The test structure may input the scan-in data in parallel into the scan chains. The interception means may intercept the scan-in lines and the control lines, and the generation means may fetch pre-configured data from a memory for feeding into the scan-in lines. Also disclosed is a method of initialising the electronic circuit.
Abstract:
Die Erfindung stellt einen IC-Chip (102) bereit, aufweisend ein Servicemodul (104), das so ausgelegt ist, dass eine oder mehrere Komponenten (114, 116, 118, 120) des Chips über eine oder mehrere Aufgaben (T1 bis T5) verwaltet werden, wobei das Servicemodul aufweist: – ein Verarbeitungsmodul (106); – einen Datenspeicher (112), auf dem ein gegenwärtiger Zustand (CS) einer gegenwärtig ausgeführten (T4) der Aufgaben gespeichert ist; – eine Schnittstelle (122) zum Empfangen einer Anforderung (R), um eine weitere (T1) der Aufgaben auszuführen, wobei die gegenwärtig ausgeführte Aufgabe (T4) eine erste Priorität (P4) aufweist und die andere Aufgabe (T1) eine zweite Priorität (P1) aufweist; – einen Taktgeber (108), der zum Messen eines Zeitintervalls ausgelegt ist, das zwischen dem Empfangen der Anforderung und der aktuellen Uhrzeit vergangen ist; – ein Steuermodul, das so ausgelegt ist, dass die gegenwärtig ausgeführte Aufgabe unterbrochen und die Ausführung der angeforderten Aufgabe ausgelöst wird, falls a) die zweite Priorität (P1) höher als die erste Priorität ist, und b1) der gespeicherte gegenwärtige Zustand anzeigt, dass die gegenwärtige Aufgabe ordnungsgemäß unterbrechbar ist; und/oder b2) das gemessene Zeitintervall einen Schwellenwert überschreitet, wodurch bei b2) die Unterbrechung und das Auslösen unabhängig davon ausgeführt werden, ob die gegenwärtig ausgeführte Aufgabe ordnungsgemäß beendet werden kann oder bereits ordnungsgemäß beendet wurde.