Abstract:
An object (10) is positioned in fixed relation to a measuring axis (36) without regard to centering the object (10) on the axis (36) and at least one series of data samples (101-109) correlated to the distance between the measuring axis (36) and a series of points at angularly spaced intervals on at least one surface feature (14, 17) of the object (10) are used. To determine the center (165) of the first surface feature (14) the samples are analyzed to identify samples (102, 106, 108) corresponding to points lying on a maximum inscribed circle (169) whose center (165) corresponds to the surface feature (14). To measure a second surface feature (17) the center (165) of the first feature (14) is determined to define a vector indicating the positional offset between the measuring axis (36) and center. A second signal (74) is adjusted with that vector to provide a coordinate-corrected signal to be used as a basis for a centered measurement.
Abstract:
Un objet (10) est positionné selon un rapport fixe avec un axe de mesurage (36) sans tenir compte du centrage de l'objet (10) sur l'axe (36), et on utilise au moins une série d'échantillons de données (101-109), corrélés à la distance entre l'axe de mesurage (36) et une série de points placé à des intervalles à espacement angulaire sur au moins une caractéristique de surface (14, 17) de l'objet (10). Afin de déterminer le centre (165) de la première caractéristique (14) de surface, on analyse les échantillons de façon à identifier au moins trois échantillons (102, 106, 108) correspondant aux points situés sur un cercle maximal inscrit (169), dont le centre (165) correspond à la caractéristique (14) de surface. Afin de mesurer une seconde caractéristique (17) de surface, on détermine le centre (165) de la première caractéristique (14) de façon à définir un vecteur indiquant le décalage de position entre l'axe de mesurage (36) et le centre. Un second signal (74) est ajusté par rapport à ce vecteur pour fournir un signal à correction de coordonnées devant être utilisé comme une base de mesurage centré.