公开(公告)号：WO2015169444A3

公开(公告)日：2015-12-30

申请号：PCT/EP2015000928

申请日：2015-05-07

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： EHM HANS ,  HAMMERSCHMIDT DIRK ,  VAUPEL KRISTINA

IPC: A61B5/00 ,  A61B5/0215

CPC classification number: A61B5/0215 ,  A61B5/0024 ,  A61B5/0031 ,  A61B5/0205 ,  A61B5/6876 ,  A61B2503/40 ,  A61B2503/42 ,  A61B2560/0209 ,  A61B2560/0219

Abstract: The invention relates to a system for monitoring at least one physiological parameter. The system comprises a measuring apparatus having a sensor unit (20) for detecting the at least one physiological parameter, and a transmission device (40, 50; 400, 500) and a reading device (90) for receiving data relating to the at least one physiological parameter. The transmission device is activated when the measuring apparatus is within range of the reading device (90).

Abstract translation: 本公开涉及用于监测至少一个生理参数的系统。 该系统comprisesa测量装置具有传感器单元（20），用于检测所述至少一个生理参数和一个转移装置（40，50; 400，500）和用于接收与所述至少一个生理参数的数据的读取装置（90）。 当测量装置在读取装置（90）的范围内时，传输装置被激活。

公开(公告)号：DE102021103264B4

公开(公告)日：2025-03-06

申请号：DE102021103264

申请日：2021-02-11

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK ,  HAFNER UDO ,  KOLLMITZER BENJAMIN

IPC: G01D18/00 ,  G01B7/30 ,  G01D1/18 ,  G01D3/036 ,  G01D3/08 ,  G01D5/12

Abstract: Ein Autokalibrierungssystem, umfassend:ein Sensorbauelement, umfassend zumindest ein Erfassungselement, wobei jedes des zumindest einen Erfassungselements ausgebildet ist, um ansprechend auf ein Messen einer physikalischen Größe ein Sensorsignal von zumindest einem Sensorsignal zu erzeugen;ein Kompensationsbauelement, umfassend eine erste Verarbeitungsschaltungsanordnung, die ausgebildet ist, um das zumindest eine Sensorsignal und zumindest einen Kompensationsparameter zu empfangen und das zumindest eine Sensorsignal basierend auf dem zumindest einen Kompensationsparameter zu kompensieren, um zumindest ein kompensiertes Sensorsignal zu erzeugen, wobei ein unterschiedliches kompensiertes Sensorsignal für jedes des zumindest einen Sensorsignals erzeugt wird;ein Autokalibrierungsbauelement, umfassend eine zweite Verarbeitungsschaltungsanordnung, die ausgebildet ist, um das zumindest eine Sensorsignal oder das zumindest eine kompensierte Sensorsignal zu empfangen und den zumindest einen Kompensationsparameter basierend auf dem zumindest einen Sensorsignal oder dem zumindest einen kompensierten Sensorsignal zu erzeugen; undeinen ersten Sicherheitsmechanismus, umfassend eine dritte Verarbeitungsschaltungsanordnung, die zwischen die Kompensationsschaltung und das Autokalibrierungsbauelement geschaltet ist, wobei die dritte Verarbeitungsschaltungsanordnung ausgebildet ist, um jeden des zumindest einen Kompensationsparameters mit einem jeweiligen Toleranzbereich zu vergleichen und, unter einer Bedingung, dass jeder des zumindest einen Kompensationsparameters innerhalb seines jeweiligen Toleranzbereichs ist, den zumindest einen Kompensationsparameter als zumindest einen validierten Kompensationsparameter an die Kompensationsschaltung zu übertragen, und, unter einer Bedingung, dass zumindest einer des zumindest einen Kompensationsparameters nicht innerhalb seines jeweiligen Toleranzbereichs ist, ein erstes Fehlerdetektionssignal zu erzeugen,wobei das Autokalibrierungsbauelement ausgebildet ist, um den zumindest einen Kompensationsparameter durch Anpassen von zumindest einem aktuellen Kompensationsparameter basierend auf dem zumindest einen kompensierten Sensorsignal zu erzeugen.

公开(公告)号：DE102022115456A1

公开(公告)日：2022-12-22

申请号：DE102022115456

申请日：2022-06-21

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: G01B7/30

Abstract: Bei einigen Implementierungen kann ein Winkelsensor eine Winkelposition eines Objekts basierend auf ersten Sensorwerten, die von einem ersten Satz von Erfassungselementen empfangen werden, bestimmen. Die ersten Sensorwerte umfassen eine erste x-Komponente eines Magnetfeldes und eine erste y-Komponente des Magnetfeldes. Der Winkelsensor kann die Winkelposition des Objekts basierend auf zweiten Sensorwerten, die von einem zweiten Satz von Erfassungselementen empfangen werden, bestimmen. Die zweiten Sensorwerte umfassen eine zweite x-Komponente des Magnetfeldes und eine zweite y-Komponente des Magnetfeldes. Der Winkelsensor kann einen Satz von Sicherheitsprüfungen ausführen, umfassend ein Ausführen einer x-Komponenten-Prüfung basierend auf der ersten x-Komponente und der zweiten x-Komponente und ein Ausführen einer y-Komponenten-Prüfung basierend auf der ersten y-Komponente und der zweiten y-Komponente. Der Winkelsensor kann eine Anzeige eines Ergebnisses des Satzes von Sicherheitsprüfungen bereitstellen.

公开(公告)号：DE102020134004A1

公开(公告)日：2022-06-23

申请号：DE102020134004

申请日：2020-12-17

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： PARK JOO IL ,  HAMMERSCHMIDT DIRK ,  KIM HYUN JEONG

IPC: G01B7/00 ,  G01B7/02 ,  G01B7/30

Abstract: Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf eine Vorrichtung (400) zur Positionsdetektion, umfassend einen Multipolmagneten (110; 810) mit Polpaaren, die sich entlang einer Multipol-Erstreckungsrichtung (114) erstrecken, einen magnetoresitiven Sensor (120), umfassend eine erste Sensorbrücke (122-1), die für eine erste in der Ebene liegende Magnetfeldkomponente sensitiv ist, und eine zweite Sensorbrücke (122-2), die für eine zweite in der Ebene liegende Magnetfeldkomponente sensitiv ist, wobei die erste Sensorbrücke und die zweite Sensorbrücke in der Ebene angeordnet sind und entlang einer Sensorachse (124) voneinander beabstandet sind, wobei die Multipol-Erstreckungsrichtung (114) und die Sensorachse (124) um einen Rotationswinkel größer als 20° und kleiner als 70° zueinander gedreht sind.

公开(公告)号：DE102015113480B8

公开(公告)日：2022-01-05

申请号：DE102015113480

申请日：2015-08-14

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： ZETTLER THOMAS ,  RASBORNIG FRIEDRICH ,  HAMMERSCHMIDT DIRK ,  SCHERR WOLFGANG ,  SCHEIBENZUBER WOLFGANG

IPC: H03M13/29 ,  H03M13/11 ,  H03M13/13

公开(公告)号：DE102016215038B4

公开(公告)日：2021-10-28

申请号：DE102016215038

申请日：2016-08-11

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: H04L12/10 ,  B60R16/023 ,  G07C5/08 ,  G08C19/00 ,  H04L12/40

Abstract: Sensorbussystem, das Folgendes umfasst:einen zweidrahtigen Kommunikationsbus, der einen ersten Draht und einen zweiten Draht umfasst, die mit mehreren Sensoren und einer Steuereinheit gekoppelt sind, wobei der zweidrahtige Kommunikationsbus zum Kommunizieren von Datenkommunikationssignalen in einem ersten Frequenzbereich zwischen den mehreren Sensoren und der Steuereinheit und von Versorgungssignalen von der Steuereinheit in einem zweiten Frequenzbereich, der sich von dem ersten Frequenzbereich unterscheidet, konfiguriert ist;ein Terminierungsnetz, das zum Anpassen einer Lastimpedanz und einer Leitungsimpedanz in dem ersten Frequenzbereich der Kommunikationssignale auf beiden Seiten des ersten Drahtes und des zweiten Drahtes des zweidrahtigen Kommunikationsbusses konfiguriert ist; undmehrere Stromquellen, die jeweils den mehreren Sensoren entsprechen, die zum Erzeugen der Datenkommunikationssignale in dem ersten Frequenzbereich und zum Regeln von Spannungen in dem zweiten Frequenzbereich, die an den mehreren Sensoren detektiert werden, konfiguriert sind.

公开(公告)号：DE102012204176B4

公开(公告)日：2021-06-24

申请号：DE102012204176

申请日：2012-03-16

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK ,  DITTFELD TIMO

IPC: H04L12/26 ,  B60R21/01 ,  B60R21/16 ,  G01P15/00 ,  G06F11/07 ,  G08C25/00 ,  H03M13/09 ,  H04L1/00

Abstract: Verfahren zum Ermitteln, ob ein Ereignis basierend auf Datenblöcken, die Statusdaten aufweisen, auszulösen ist, wobei das Verfahren aufweist:Durchführen einer Datenintegritätsprüfung an den Datenblöcken, um zu bestimmen, ob ein bestimmter Datenblock einen Übertragungsfehler aufweist;Berechnen einer Empfangsfehlermetrik auf der Basis des Durchführens der Dateni nteg ritätsprüfung;Sperren eines Ereignistriggers, wenn die Empfangsfehlermetrik eine erste Fehlerschwelle überschreitet; undVergrößern einer Datenrate der Datenblöcke nach dem Sperren des Ereignistriggers von einer ersten Datenrate auf eine zweite Datenrate, um eine Zeit zu verringern, nach der der Ereignistrigger wieder freigegeben wird.

公开(公告)号：DE102019125493A1

公开(公告)日：2021-03-25

申请号：DE102019125493

申请日：2019-09-23

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： MICHENTHALER CHRISTOF ,  AICHRIEDLER LEO ,  HAFNER THOMAS ,  HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: G06F13/376 ,  G06F13/36 ,  G06F13/40

Abstract: Es werden Verfahren und Slaveeinrichtungen offenbart, bei denen eine Adresszuweisung an Slaveeinrichtungen mit Hilfe einer Kollisionserkennung erfolgt.

公开(公告)号：DE102014019983B3

公开(公告)日：2021-01-14

申请号：DE102014019983

申请日：2014-07-01

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK ,  LEVY DAVID ,  MORICI ANDREA ,  SCHERR WOLFGANG ,  WITSCHNIG HARALD

IPC: H04L12/403 ,  B60R16/023 ,  B60R16/03 ,  G06F1/26 ,  H04B3/54 ,  H04L12/10

Abstract: Busmaster (302), der mit einem Systembus (318) zu koppeln ist, umfassend:eine geregelte Spannungsquelle (306) zum Bereitstellen einer geregelten Spannung in einem ersten Frequenzband (402), wobei ein Steuergerätsignal die Spannungsquelle (306) mit einer Steuergerätbandbreite (410) steuert, wobei der Busmaster (302) eingerichtet ist, eine Datenübertragung bei einem zweiten Frequenzband (404), welches bei höheren Frequenzen liegt als das erste Frequenzband, durchzuführen, wobei das zweite Frequenzband (404) die Steuergerätbandbreite (410) im Wesentlichen nicht überlagert.

公开(公告)号：DE102020105333A1

公开(公告)日：2020-09-10

申请号：DE102020105333

申请日：2020-02-28

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: B81B7/02 ,  B81B3/00

Abstract: Eine Halbleitervorrichtung beinhaltet einen Halbleiterchip, der ein Substrat mit einer ersten Oberfläche und einer zweiten Oberfläche beinhaltet, die der ersten Oberfläche gegenüberliegend angeordnet ist; und ein mikroelektromechanisches System (MEMS)-Element, das einen empfindlichen Bereich beinhaltet, das an der ersten Oberfläche des Substrats angeordnet ist. Die Halbleitervorrichtung beinhaltet ferner mindestens eine elektrische Verbindungsstruktur, die mit der ersten Oberfläche des Substrats elektrisch verbunden ist, und einen flexiblen Träger, der mit der mindestens einen elektrischen Verbindungsstruktur elektrisch verbunden ist, wobei der flexible Träger sich um den Halbleiterchip wickelt und sich über die zweite Oberfläche des Substrats erstreckt, so dass ein gefalteter Hohlraum um den Halbleiterchip ausgebildet wird.