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公开(公告)号:DE10350162B4
公开(公告)日:2011-07-28
申请号:DE10350162
申请日:2003-10-28
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HORN WOLFGANG
IPC: H01L23/58 , H01L21/8248 , H01L23/62 , H01L27/06 , H01L29/78
Abstract: Halbleiterbauteil (30), das mehrere Halbleiter-Funktionselemente aufweist, mit: – einer ersten und einer zweiten Halbleiterschicht (2, 3), wobei die zweite Halbleiterschicht (3) auf der ersten Halbleiterschicht aufgebracht und zu dieser invers dotiert ist, – Isolationsstrukturen (4, 5), die wenigstens in der zweiten Halbleiterschicht (3) vorgesehen sind und die zur Aufteilung der zweiten Halbleiterschicht (3) in mehrere voneinander isolierte Funktionselement-Halbleitergebiete (6, 7) dienen, wobei jedes Halbleiter-Funktionselement wenigstens zum Teil aus einem der Funktionselement-Halbleitergebiete (6, 7) gebildet wird, wobei ein parasitärer Stromfluss durch eine npn-/pnp-Struktur (Qn2), die durch jeweils einen Teil zweier Funktionselement-Halbleitergebiete (6, 7) und einen dazwischen liegenden Teil der ersten Halbleiterschicht (2) gebildet wird, verringerbar ist, indem mittels eines aktiv ansteuerbaren Schaltelements (31) ein Stromfluss erzeugt wird, der eine Basis-Emitterspannung der npn-/pnp-Struktur (Qn2) verringert, wobei das aktiv ansteuerbare Schaltelement in Form eines Transistors (31) in das Halbleiterbauteil integriert ist, derart, dass in einer der Isolationsstrukturen (4) ein...
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公开(公告)号:DE102004049906A1
公开(公告)日:2006-05-11
申请号:DE102004049906
申请日:2004-10-13
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HORN WOLFGANG
IPC: G01R31/02
Abstract: An LED (Light Emitting Diode) short circuit (K) diagnosis unit has a controller (A) using a clock signal (phi1) to switch the feeding of a diagnosis current (Idiag) to the load (L) and process the resulting load voltage drop. Independent claims are included for diagnosis procedures using the diagnosis unit.
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公开(公告)号:DE102004032912A1
公开(公告)日:2006-01-26
申请号:DE102004032912
申请日:2004-07-07
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: NELLE PETER , HORN WOLFGANG , SCHULZ HANS-JOACHIM
IPC: H01L21/761 , H01L27/06
Abstract: Linked to a connector terminal (K), a first active component zone (ACZ) (21) for a second type of wiring (STOW) starts from one side (101) of a semiconductor body (100) and fits in a first semiconductor zone (11). A second ACZ (41) for the STOW fits with a gap from the first ACZ. A protective structure has a STOW second semiconductor zone (SZ) (31) and a third SZ for a first type of wiring.
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公开(公告)号:DE10335083B3
公开(公告)日:2004-12-16
申请号:DE10335083
申请日:2003-07-31
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HORN WOLFGANG
IPC: H03K17/082 , H03K17/18
Abstract: The circuit arrangement has first and second load connection terminals (D,S), first and second current source arrangements (10,20) for supplying currents to connection terminals (K1,K2) depending on the supply potentials (V,GND) to which the load connections are connected and an evaluation circuit (30) for evaluating the currents flowing to the first and second connection terminals and providing a load state signal depending on these currents. An independent claim is included for a load diagnosis method for a switch.
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公开(公告)号:DE10231175A1
公开(公告)日:2004-01-29
申请号:DE10231175
申请日:2002-07-10
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HORN WOLFGANG
Abstract: The circuit includes a reference voltage generator (10) connected to a supply potential (Vdd) and a first terminal (K1). A first PTC (Positive Temperature Coefficient) reference voltage (U1) is produced by passing an output current (I1B) to a second terminal (K2) through a resistor (R1) to a fourth terminal (K4). An output current (I1A) is passed to a third terminal (K3). The first terminal is connected to the third and fourth terminals via resistors (R2A,R2B). The second NTC (Negative Temperature Coefficient) reference voltage (U2). The third and fourth terminals are connected to a potential regulating circuit (20).
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公开(公告)号:DE10202478A1
公开(公告)日:2003-08-14
申请号:DE10202478
申请日:2002-01-23
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HORN WOLFGANG
Abstract: A pump stage (PS1) with a first capacitor (C1) connects between input (IN1) and output (OUT) terminals and is triggered by a timing signal (TS). A first discharge circuit (S11) and a first charging circuit (lq1) connect to the capacitor. A second discharge circuit (Sout) and a second charging circuit connect to the output terminal. An Independent claim is also included for a method for evaluating a capacitive charge connected to an output terminal in a charging pump circuit.
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公开(公告)号:DE10053374C2
公开(公告)日:2002-11-07
申请号:DE10053374
申请日:2000-10-27
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HORN WOLFGANG
Abstract: A bipolar comparator with an asymmetric differential amplifier stage is described. The comparator has two transistors, and the control electrodes of which are short circuited to one another. The two transistors have load paths that are connected in series in each case with one current source between one input terminal and a supply terminal. An output terminal is connected to the second current source and to a load electrode of the second transistor, at which output terminal an output signal can be picked up. A third transistor is provided with a load path disposed in parallel with the load path of the first transistor. The first current source generates a first operating current being a multiple of the second operating current generated by the second current source and the multiple corresponds to an effective area ratio of the first and third transistor with respect to the second transistor.
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公开(公告)号:DE10053374A1
公开(公告)日:2002-05-16
申请号:DE10053374
申请日:2000-10-27
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HORN WOLFGANG
Abstract: The transistor (T1,2) control terminals are mutually short circuited and their load paths are each in series with a current source (6,7), each between an input terminal (3,4) with input potential (Vin) and a supply terminal (5) with supply potential (Vdd).An output terminal (8), at which an output signal (Iout) can be tapped, is coupled to the second current source (7) and to second transistor (T2) load terminal. A third transistor (T3) has its loadpath in parallel to that of first transistor (T1) acting as a diode. The current sources generate different currents (mib,1b) related to transistor surface ratio.
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公开(公告)号:DE102014115537B4
公开(公告)日:2022-04-28
申请号:DE102014115537
申请日:2014-10-24
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HAINZ SIMON , HORN WOLFGANG , MICHELUTTI ALESSANDRO , SCHAFFER BERNHARD
IPC: G01D5/12 , G01R33/02 , G01R33/022 , G01R33/09
Abstract: Schaltung (110) zum Erhalten von Informationen über eine physikalische Größe, wobei die Schaltung Folgendes umfasst:eine Sensoranordnung (120), wobei die Sensoranordnung (120) mehrere Sensorelemente (200) umfasst, die für die physikalische Größe empfindlich sind, und wobei die Sensoranordnung (120) konfiguriert ist zum Generieren eines eine räumliche Änderung der physikalischen Größe anzeigenden Signals;mindestens ein weiteres Sensorelement (130), das für die physikalische Größe empfindlich ist;eine Speiseschaltung (140), die konfiguriert ist zum Versorgen der Sensoranordnung (120) mit einem Speisesignal (SS1), das eine Speisespannung umfasst, die von der Speiseschaltung (140) in einer Regelkreiskonfiguration gesteuert wird, wobei die Speiseschaltung (140) weiterhin konfiguriert ist zum Versorgen des mindestens einen weiteren Sensorelements (130) mit einem weiteren Speisesignal (SS2), das einen weiteren Speisestrom umfasst, so dass eine Größe des weiteren Speisestroms eine vorbestimmte Beziehung mit einer Größe eines Speisestroms des Speisesignals (SS1) erfüllt; undeine Detektionsschaltung (170), die an das mindestens eine weitere Sensorelement (130) gekoppelt ist und konfiguriert ist zum Generieren eines die Informationen über die physikalische Größe anzeigenden Ausgangssignals (OS), wobei die Detektionsschaltung (170) einen Differenzverstärker umfasst, der an das mindestens eine weitere Sensorelement (130) gekoppelt ist und konfiguriert ist zum Generieren des die Informationen über die physikalische Größe anzeigenden Ausgangssignals, wobei ein erster Eingang des Differenzverstärkers an die Speiseschaltung (140) gekoppelt ist, um ein erstes Signal zu empfangen, das die Speisespannung des Speisesignals umfasst, wobei ein zweiter Eingang des Differenzverstärkers an das mindestens eine weitere Sensorelement (130) gekoppelt ist, um ein zweites Signal zu empfangen, das eine einen Spannungsabfall an dem mindestens einen weiteren Sensorelement anzeigende Erfassungsspannung umfasst, und wobei der Differenzverstärker konfiguriert ist zum Liefern des Ausgangssignals auf der Basis einer Differenz der Speisespannung und der Erfassungsspannung an einem Ausgang des Differenzverstärkers.
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公开(公告)号:DE102006002904A1
公开(公告)日:2007-08-02
申请号:DE102006002904
申请日:2006-01-20
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: HORN WOLFGANG
Abstract: The semiconductor body (100), in a component assembly, has an integrated temperature sensor (10) to measure the temperature at a given position (20). The temperature signal is passed to a control unit with an amplifier (40) and a finite impulse response (FIR) deep pass filter (50) to give a second temperature signal (V40).
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