公开(公告)号：DE102018128693A1

公开(公告)日：2020-05-20

申请号：DE102018128693

申请日：2018-11-15

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： RENNEKE FLORIAN ,  MEJRI JAAFAR

IPC: H03K3/0231

Abstract: Es werden ein Relaxationsoszillator und ein Verfahren zum Betreiben eines derartigen Relaxationsoszillators bereitgestellt. Es wird ein Maß für eine Propagationsverzögerung einer Detektionseinrichtung (13) ermittelt und eine Ladegeschwindigkeit einer Kondensatoreinrichtung (12) für eine Zeitdauer, die auf dem Maß basiert, erhöht.

公开(公告)号：DE102020110120A1

公开(公告)日：2020-10-22

申请号：DE102020110120

申请日：2020-04-13

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： ALBEL SIEGFRIED ,  BOGUS MATTHIAS ,  HEILING CHRISTIAN ,  MEJRI JAAFAR ,  ZANNOTH MARKUS

IPC: H03M3/00 ,  H03M1/12

Abstract: Ein Verfahren beinhaltet das Anlegen eines Stroms an einen Eingangs-Pin einer integrierten Schaltung; das Wandeln eines Analogsignals an dem Eingangs-Pin ein einen digitalen Strom unter Verwendung eines Sigma-Delta-Modulators; das Wandeln des digitalen Stroms in ein erstes digitales Ausgangssignal, das in einem ersten Eingangsbereich zwischen einem ersten Analogsignalwert und einem zweiten Analogsignalwert zu dem Analogsignal proportional ist, wobei der erste Eingangsbereich einem vorgegebenen Bereich des Analogsignals, der geringer als ein Gesamt-Eingangsbereich des Analogsignals ist, entspricht; das Wandeln des digitalen Stroms in ein zweites Ausgangssignal; das Vergleichen des zweiten Ausgangssignals mit einem ersten Schwellenwert, der einen dritten Analogsignalwert an dem Eingangs-Pin, der außerhalb des ersten Eingangsbereichs liegt, entspricht; und das Bereitstellen eines Hinweises auf einen Zustand eines offenen Schaltkreises an dem Eingangs-Pin, wenn das zweite Ausgangssignal den ersten Schwellenwert kreuzt.

公开(公告)号：DE102015116786A1

公开(公告)日：2017-04-06

申请号：DE102015116786

申请日：2015-10-02

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： VAGNI DARIO ,  BOGNER PETER ,  MEJRI JAAFAR

IPC: H03M1/10

Abstract: Ein Verfahren zum Testen eines Analog-Digital Wandlers. Das Verfahren umfasst Bereitstellen einer Reihe von Fächern, Variieren einer Spannung, Nehmen von Spannungsproben, Bereitstellen eines Auswahlsignals, Zuordnen von Proben jeweils mit einem Fach der Reihe von Fächern, und Beobachten einer Anzahl von Proben, die den jeweiligen Fächern zugeordnet sind. Eine Vorrichtung umfasst einen Analog-Digital Wandler, der dazu konfiguriert ist, eine Spannung an einem Eingangsknoten in eine digitale Darstellung umzuwandeln, die an einem Ausgangsknoten bereitgestellt wird, wobei der Eingangsknoten dazu konfiguriert ist, an einen Spannungsgenerator gekoppelt zu werden; und eine Probenauswahleinheit, die dazu konfiguriert ist, festzustellen, ob eine Spannung an dem Eingangsknoten wenigstens gleich einem ersten Schwellenspannungspegel ist und einen zweiten Schwellenspannungspegel nicht überschreitet. Die Vorrichtung ist dazu konfiguriert, auf der Grundlage der Feststellung die digitale Darstellung wahlweise einem Fach der Reihe von Fächern zuzuordnen.

公开(公告)号：DE10208117A1

公开(公告)日：2003-09-11

申请号：DE10208117

申请日：2002-02-26

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： MEJRI JAAFAR

IPC: H03F3/08 ,  H03F3/45 ,  H03F1/30

公开(公告)号：DE102019128930A1

公开(公告)日：2021-04-29

申请号：DE102019128930

申请日：2019-10-25

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： NUEBLING MARCUS ,  MEJRI JAAFAR

IPC: H03K17/61 ,  G01R31/50

Abstract: Es wird eine Schaltung bereitgestellte, umfassend einen Transformator mit einer ersten Spule, die auf einem Substrat angeordnet ist, und einer zweiten Spule, die über der ersten Spule auf dem Substrat angeordnet ist, sowie ein Dielektrikum zwischen der ersten Spule und der zweiten Spule. Die Schaltung umfasst weiterhin einen Guardring um den Transformator. Ferner umfasst die Schaltung eine Diagnoseschaltung (55), die eingerichtet ist, in einer Normalbetriebsart den Guardring auf Massepotenzial zu legen und in einer Diagnosebetriebsart eine Messspannung oder einen Messstrom an einer Messimpedanz zwischen dem Guardring und dem Massepotenzial zu messen.

公开(公告)号：DE112016003066T5

公开(公告)日：2018-04-05

申请号：DE112016003066

申请日：2016-07-05

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： BOGNER PETER ,  KALT ANDREAS ,  MEJRI JAAFAR ,  PERNULL MARTIN

IPC: H03M1/10 ,  H03M1/12 ,  H03M1/46

Abstract: Repräsentative Implementierungen von Vorrichtungen und Techniken stellen einen eingebauten Selbsttest (BIST: Built-In Self-Test) für einen Analog-Digital-Wandler (ADC) bereit. Stimuli, die zum Testen eines ADC erforderlich sind, werden innerhalb des Chips erzeugt, der den ADC enthält. Eine Auswertungsschaltungsanordnung ist ebenfalls auf dem Chip verfügbar. Erzeugungs- und Auswertungsschaltungen und -systeme basieren auf existierenden Schaltungen und/oder Komponenten des Chips.

公开(公告)号：DE102014009823A1

公开(公告)日：2015-01-08

申请号：DE102014009823

申请日：2014-07-02

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： BOGNER PETER ,  MEJRI JAAFAR

IPC: H03M1/10 ,  H03M3/02

Abstract: Ein Halbleiter-Chip mit einer Schaltung mit integriertem Selbsttest, die einen ersten Analog-Digital-Wandler (A/D-Wandler) aufweist, der so konfiguriert ist, dass er ein an seinem Eingang empfangenes analoges Eingangsspannungssignal in ein digitales Ausgangsspannungssignal umwandelt, das den ersten A/D-Wandler charakterisiert; und einen zweiten A/D-Wandler, der mit dem Eingang des ersten A/D-Wandlers gekoppelt ist und so konfiguriert ist, dass er das an seinem Eingang empfangene analoge Eingangsspannungssignal in ein digitales Rückkopplungsspannungssignal umwandelt, wobei das analoge Eingangsspannungssignal auf der Grundlage des digitalen Rückkopplungssignals erzeugt wird.

公开(公告)号：DE102019129260B4

公开(公告)日：2021-06-10

申请号：DE102019129260

申请日：2019-10-30

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： NUEBLING MARCUS ,  MEJRI JAAFAR

IPC: G08C17/04 ,  G08C19/06

Abstract: Es wird eine Schaltung bereitgestellt, die einen Transformator mit einer ersten Spule, die auf einem Substrat angeordnet ist, einer zweiten Spule, die über der ersten Spule auf dem Substrat angeordnet ist, und einem Dielektrikum zwischen der ersten Spule und der zweiten Spule umfasst. Die Schaltung umfasst weiter eine Resonanzschaltung, die mit der ersten Spule und/oder der zweiten Spule zur Bildung eines Resonanzkreises koppelbar ist, wobei an einem Ausgang der Resonanzschaltung ein Maß für eine Eigenfrequenz des Resonanzkreises und/oder ein Maß für einen Stromverbrauch des Resonanzkreises abgreifbar ist.Ein entsprechendes Verfahren wird zudem bereitgestellt.

公开(公告)号：DE102014009823B4

公开(公告)日：2020-11-05

申请号：DE102014009823

申请日：2014-07-02

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： BOGNER PETER ,  MEJRI JAAFAR

IPC: H03M1/10 ,  G01R31/28 ,  H03M1/12 ,  H03M3/02

Abstract: Halbleiter-Chip mit einer Schaltung mit integriertem Selbsttest (180, 280), die Folgendes aufweist:einen ersten Analog-Digital-Wandler (A/D-Wandler) (110), der so konfiguriert ist, dass er ein an seinem Eingang empfangenes analoges Eingangsspannungssignal (Vin) in ein digitales Ausgangsspannungssignal umwandelt, das den ersten A/D-Wandler charakterisiert; undeinen zweiten A/D-Wandler (120), der mit dem Eingang des ersten A/D-Wandlers (110) gekoppelt ist und der so konfiguriert ist, dass er das an seinem Eingang empfangene analoge Eingangsspannungssignal (Vin) in ein digitales Rückkopplungsspannungssignal (Vfb) umwandelt,wobei das analoge Eingangsspannungssignal (Vin) zur Durchführung des integrierten Selbsttests für den ersten A/D-Wandler (110) auf der Grundlage des digitalen Rückkopplungssignals (Vfb) erzeugt wird.

公开(公告)号：DE10208117B4

公开(公告)日：2006-08-24

申请号：DE10208117

申请日：2002-02-26

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： MEJRI JAAFAR

IPC: H03F3/45 ,  H03F1/30 ,  H03F3/08