公开(公告)号：DE102014113297A1

公开(公告)日：2015-03-26

申请号：DE102014113297

申请日：2014-09-16

Applicant: INTEL CORP

Inventor： HAN KYUNGTAE ,  PARK YONG-JOON ,  HONG DONGHO ,  ABDELMONEUM MOHAMED A ,  MIN ALEXANDER W

IPC: G06F3/041

Abstract: Ein Gerät, Abtastregler und System für adaptives Abtastprüfen wird hier beschrieben. Das Gerät beinhaltet eine Logik zur Berechnung eines Verfahrweges zwischen zwei aufeinanderfolgenden Abtastungen und Logik zum Vergleich des Verfahrwegs mit einer Zieldistanz zur Findung des tatsächlichen Fehlers. Das Gerät beinhaltet auch Logik zur Aktualisierung der Prüffrequenz auf Basis des tatsächlichen Fehlers.