公开(公告)号：DE102012009257A1

公开(公告)日：2013-11-07

申请号：DE102012009257

申请日：2012-05-02

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： HECHT FRANK ,  SIECKMANN FRANK

IPC: G02B21/00

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ausführung beim Betreiben eines Mikroskops und/oder zum Darstellen eines mit einem Mikroskop aufgenommenen Objektes oder von Teilen eines mit einem Mikroskop aufgenommenen Objektes. In einem ersten Schritt erfolgt ein Darstellen eines Stellvertreters des Objektes auf dem Display oder auf einem weiteren Display. Dann erfolgt ein Vornehmen wenigstens einer Manipulation an dem Stellvertreter und/oder an der Darstellung des Stellvertreters mit Hilfe eines Eingabemittels und ein Ableiten wenigstens eines Darstellungsparameters für die Darstellung des Objektes oder des Teils des Objektes aus der Manipulation und/oder Ableiten wenigstens eines Mikroskop-Steuerungsparameters aus der Manipulation. Schließlich erfolgt ein Darstellen des Objektes oder des Teils des Objektes unter Berücksichtigung des abgeleiteten Darstellungsparameters und/oder des abgeleiteten Mikroskop-Steuerungsparameters.

公开(公告)号：GB2517110A

公开(公告)日：2015-02-11

申请号：GB201421358

申请日：2013-04-19

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： HECHT FRANK ,  SIECKMANN FRANK

IPC: G02B21/36 ,  G02B21/00

Abstract: The invention relates to a method to be carried out when operating a microscope and/or for displaying an object captured with a microscope or parts of an object captured with a microscope. In a first step, a substitute of the object is displayed on the display screen or on a further display. Then at least one manipulation is carried out on the substitute and/or on the display of the substitute with the aid of an input means and at least one display parameter is derived for the display of the object or the part of the object from the manipulation and/or at least one microscope control parameter is derived from the manipulation. Finally, the object or the part of the object is displayed taking into account the derived display parameter and/or the derived microscope control parameter.