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公开(公告)号:DE102018102241A1
公开(公告)日:2019-08-01
申请号:DE102018102241
申请日:2018-02-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: LARRIEU THEO , SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zum Abbilden einer Probe mittels eines Lichtblattmikroskops (10). Dabei wird die Probe aus zwei verschiedenen Beleuchtungsrichtungen mit zwei Lichtblättern (58, 60) beleuchtet, die verschiedene Polarisationszustände haben und einander in einem Zielbereich (E) der Probe koplanar überlagert sind. Mittels einer Abbildungsoptik (14) des Lichtblattmikroskops (10) wird ein Bild des beleuchteten Zielbereichs (E) erzeugt. Mit den beiden Lichtblättern (58, 60) wird in dem beleuchteten Zielbereich (E) ein Interferenzmuster (I) erzeugt, wodurch dem Bild des Zielbereichs (E) eine dem Interferenzmuster (I) entsprechende Bildmodulation aufgeprägt wird. Es wird die Bildmodulation ausgewertet. In Abhängigkeit der ausgewerteten Bildmodulation wird der beleuchtete Zielebereich (E) relativ zu dem Schärfebereich (F) der Abbildungsoptik (14) justiert.
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2.
公开(公告)号:DE102018102241B4
公开(公告)日:2022-02-24
申请号:DE102018102241
申请日:2018-02-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: LARRIEU THEO , SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Verfahren zum Abbilden einer Probe mittels eines Lichtblattmikroskops (10), bei demdie Probe aus zwei verschiedenen Beleuchtungsrichtungen mit zwei Lichtblättern (58, 60) beleuchtet wird, die einander in einem Zielbereich (E) der Probe koplanar überlagert sind,mittels einer Abbildungsoptik (14) des Lichtblattmikroskops (10) ein Bild des beleuchteten Zielbereichs (E) erzeugt wird, undmit den beiden Lichtblättern (58, 60) in dem beleuchteten Zielbereich (E) ein Interferenzmuster (I) erzeugt wird, wodurch dem Bild des Zielbereichs (E) eine dem Interferenzmuster (I) entsprechende Bildmodulation aufgeprägt wird,dadurch gekennzeichnet, dass die Bildmodulation ausgewertet wird, und der beleuchtete Zielbereich (E) in Abhängigkeit der ausgewerteten Bildmodulation längs der optischen Achse (O') der Abbildungsoptik (14) relativ zu dem Schärfebereich (F) der Abbildungsoptik (14) justiert wird.
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