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公开(公告)号：DE102014101762B4
公开(公告)日：2021-12-23
申请号：DE102014101762
申请日：2014-02-12
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , MÜLTER ANDREA
Abstract: Verfahren zum mikroskopischen Abbilden einer Volumenprobe (16), bei demein Mikroskopobjektiv (12) nacheinander auf mindestens zwei Referenzebenen fokussiert wird, die sich innerhalb der Volumenprobe (16) längs der optischen Achse (O) des Mikroskopobjektivs (12) in unterschiedlichen Volumenprobentiefen befinden;für jede Referenzebene eine Referenzeinstellung eines Korrektionsgliedes (18) ermittelt wird, bei der ein von der Volumenprobentiefe abhängiger Abbildungsfehler durch das Korrektionsglied (18) korrigiert ist;auf Grundlage der ermittelten Referenzeinstellungen für mindestens eine Zielebene in der Volumenprobe (16) eine Zieleinstellung für das Korrektionsglied (18) bestimmt wird, in welcher der in der Volumenprobentiefe der Zielebene auftretende Abbildungsfehler durch das Korrektionsglied (18) korrigiert ist; undzum Abbilden der Volumenprobe (16) das Mikroskopobjektiv (12) auf die Zielebene fokussiert und das Korrektionsglied (18) in die Zieleinstellung gebracht wird,wobei für jede Referenzebene eine durch das Korrektionsglied (18) in der jeweiligen Referenzeinstellung verursachte Abweichung der Objektschnittweite des Mikroskopobjektivs (12) gegenüber einer Sollschnittweite als Referenzschnittweitenabweichung ermittelt wird,auf Grundlage dieser Referenzschnittweitenabweichungen für die Zielebene eine Zielschnittweitenabweichung bestimmt wird, welche die durch das Korrektionsglied (18) in der Zieleinstellung verursachte Abweichung der Objektschnittweite gegenüber der Sollschnittweite angibt; unddas Mikroskopobjektiv (12) unter Berücksichtigung der Zielschnittweitenabweichung auf die Zielebene fokussiert wird.
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公开(公告)号：DE102019116114B3
公开(公告)日：2020-07-16
申请号：DE102019116114
申请日：2019-06-13
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Ein Mikroskop umfasst ein Linsensystem mit einer Linseneinheit, die zur Korrektion eines Abbildungsfehlers längs der optischen Achse des Linsensystems verstellbar ist, eine motorisch betätigbare Verstelleinrichtung, die ausgebildet ist, die Linseneinheit längs der optischen Achse zu verstellen, eine Rastereinheit, die ausgebildet ist, einen zur Bildaufnahme genutzten Lichtstrahl abzulenken, sowie einen Prozessor. Dabei ist der Prozessor ausgebildet, die Lage eines Bildes, das nach einer Korrektionsverstellung der Linseneinheit aufgenommen worden ist, mit Referenzdaten zu vergleichen, anhand des Vergleichs eine Änderung der Lage des Bildes aufgrund der Korrektionsverstellung der Linseneinheit zu detektieren, und die Rastereinheit derart anzusteuern, dass die Änderung der Lage des Bildes zumindest teilweise kompensiert wird.
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公开(公告)号：DE102018125997A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018125997
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , BAUER TOBIAS
Abstract: Ein Verfahren zur digitalen Korrektion einer optischen Abbildung einer Probe mittels eines Mikroskops (10), wobei das Mikroskop (10) ein die Probe bedeckendes Deckglas (14) hat, wobei durch das Mikroskop (10) der Brechungsindex eines an das Deckglas (14) grenzenden optischen Mediums (20) und/oder die Dicke des Deckglases (14) bestimmt werden, auf Grundlage des Brechungsindex des optischen Mediums (20) und/oder der Dicke des Deckglases (14) ein zu korrigierender Abbildungsfehler in Form einer Pupillenfunktion ermittelt wird, die Abbildung der Probe durch das Mikroskop (10) erfolgt und durch die Abbildung der Probe erfassten Bilddaten auf Grundlage der Pupillenfunktion digital korrigiert werden.
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公开(公告)号：DE102018102241A1
公开(公告)日：2019-08-01
申请号：DE102018102241
申请日：2018-02-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： LARRIEU THEO , SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zum Abbilden einer Probe mittels eines Lichtblattmikroskops (10). Dabei wird die Probe aus zwei verschiedenen Beleuchtungsrichtungen mit zwei Lichtblättern (58, 60) beleuchtet, die verschiedene Polarisationszustände haben und einander in einem Zielbereich (E) der Probe koplanar überlagert sind. Mittels einer Abbildungsoptik (14) des Lichtblattmikroskops (10) wird ein Bild des beleuchteten Zielbereichs (E) erzeugt. Mit den beiden Lichtblättern (58, 60) wird in dem beleuchteten Zielbereich (E) ein Interferenzmuster (I) erzeugt, wodurch dem Bild des Zielbereichs (E) eine dem Interferenzmuster (I) entsprechende Bildmodulation aufgeprägt wird. Es wird die Bildmodulation ausgewertet. In Abhängigkeit der ausgewerteten Bildmodulation wird der beleuchtete Zielebereich (E) relativ zu dem Schärfebereich (F) der Abbildungsoptik (14) justiert.
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公开(公告)号：DE102017218449B3
公开(公告)日：2019-02-21
申请号：DE102017218449
申请日：2017-10-16
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , WEBER MARKUS , MAINBERGER ROBERT
Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben eines Autofokus-Messsystems (120) einer Fokusstabilisierungseinrichtung eines Mikroskopsystems (100), wobei während einer Aufnahme von für die weitere Verarbeitung oder Darstellung vorgesehenen Bildern durch eine in einem Bildaufnahmestrahlengang (105) angeordnete Bildaufnahmeeinrichtung (106) des Mikroskopsystems (100) eine Autofokus-Lichtquelle (122) ausgeschaltet oder von der Autofokus-Lichtquelle (122) ausgehendes Nutzlicht aus dem Bildaufnahmestrahlengang (105) ausgeblendet wird.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102017108595B3
公开(公告)日：2018-05-09
申请号：DE102017108595
申请日：2017-04-21
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHULZ CHRISTIAN , SCHUMANN CHRISTIAN
IPC: G02B21/02
Abstract: Beschrieben ist ein Immersionsobjektiv (10) für ein Mikroskop (100), umfassend eine erste Linsengruppe (12) positiver Brechkraft, eine zweite Linsengruppe (14) positiver Brechkraft, eine dritte Linsengruppe (16) negativer Brechkraft und eine vierte Linsengruppe (18) positiver Brechkraft, die in dieser Reihenfolge von einer Objektseite her angeordnet sind, wobei die zweite Linsengruppe (14) zur Erzielung einer Korrektionswirkung hinsichtlich der sphärischen Aberration längs der optischen Achse (O) derart bewegbar ist, dass die Summe des Abstands (V1) zwischen der zweiten Linsengruppe (14) und der ersten Linsengruppe (12) und des Abstands (V2) zwischen der zweiten Linsengruppe (14) und der dritten Linsengruppe (16) konstant ist, wobei die Korrektionswirkung der zweiten Linsengruppe (14) derart vorbestimmt ist, dass die sphärische Aberration für einen Lichteinfall minimiert ist, der einer mittleren numerischen Apertur entspricht, die zwischen Null und einer Nennapertur des Immersionsobjektivs (10) liegt.
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公开(公告)号：DE102017103252B3
公开(公告)日：2018-04-26
申请号：DE102017103252
申请日：2017-02-16
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zur mikroskopischen Rasterbeleuchtung unter Verwendung einer Rasterbeleuchtungseinrichtung (10) für ein Mikroskop, umfassend eine Lichtquelle (12), ein Rastersystem (14), eine Zwischenabbildungsoptik (16) und ein Beleuchtungsobjektiv (18), die in dieser Reihenfolge in einem Beleuchtungsstrahlengang (20) angeordnet sind. Das Rastersystem (14) weist zwei Rasterelemente (26, 28) auf, die ausgebildet sind, ein von der Lichtquelle (12) ausgesendetes Beleuchtungslichtbündel (34) nacheinander in zwei verschiedenen Rasterrichtungen abzulenken. Die Zwischenabbildungsoptik (16) ist ausgebildet, innerhalb des Rastersystems (14) ein Bild einer Objektivpupille (36) des Beleuchtungsobjektivs (18) zu erzeugen. Ein Pupillenverlagerungsmodul (38) ist ausgebildet, das Bild der Objektivpupille (36) innerhalb des Rastersystems (14) längs des Beleuchtungsstrahlengangs (20) wahlweise zu verlagern.
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公开(公告)号：DE102016115140A1
公开(公告)日：2018-02-22
申请号：DE102016115140
申请日：2016-08-16
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Beschrieben ist ein Wechselsystem für ein Mikroskop (10), umfassend mehrere afokale Vergrößerungswechselmodule (200a–200d, 300a–300d, 400a–400d) unterschiedlicher Vergrößerung, die wahlweise in einen längs der optischen Achse (O) des Mikroskops (10) verlaufenden Unendlichstrahlengang (16) einbringbar sind. Die Vergrößerungswechselmodule (200a–200d, 300a–300d, 400a–400d) enthalten jeweils ein Lichtumlenksystem(202, 302, 402), wobei die Lichtumlenksysteme (202, 302, 402) ausgebildet sind, die Weglänge des das jeweilige Vergrößerungswechselmodul (200a–200d, 300a–300d, 400a–400d) durchsetzenden Unendlichstrahlengangs (16) derart einzustellen, dass sämtliche Vergrößerungswechselmodule (200a–200d, 300a–300d, 400a–400d) ungeachtet ihrer unterschiedlichen Vergrößerung eine Austrittspupille eines Objektivs des Mikroskops (10) längs der optischen Achse (O) auf den gleichen Ort abbilden.
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公开(公告)号：DE102016103182A1
公开(公告)日：2017-08-24
申请号：DE102016103182
申请日：2016-02-23
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Beschrieben ist ein Lichtblattmikroskop (10), umfassend eine Beleuchtungsoptik (12) zum Erzeugen eines Lichtblatts in einem Zwischenbildraum (18), eine beidseitig telezentrisch ausgebildete Transportoptik (14) zum Abbilden des in dem Zwischenbildraum (18) erzeugten Lichtblatts in eine Probe und zum Abbilden eines mit dem Lichtblatt beleuchteten Bereichs der Probe als Zwischenbild in den Zwischenbildraum (18), und eine Detektionsoptik (16) zum Abbilden des in dem Zwischenbildraum (18) erzeugten Zwischenbildes auf einen Detektor (30). Die optischen Achsen (O1, O2, O3) der Beleuchtungsoptik (12), der Transportoptik (14) und der Detektionsoptik (16) schneiden einander in dem Zwischenbildraum (18). In der Transportoptik (14) ist ein Abtastelement (50) angeordnet, durch welches das Lichtblatt in der Probe quer zur optischen Achse (O2) der Transportoptik (14) bewegbar ist.
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公开(公告)号：DE102012219239A1
公开(公告)日：2014-04-24
申请号：DE102012219239
申请日：2012-10-22
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , KRÜGER RALF , BAUER TOBIAS , SCHULZ CHRISTIAN
IPC: G02B21/06
Abstract: Die Erfindung betrifft eine Beleuchtungseinrichtung für ein optisches Gerät, insbesondere ein Mikroskop oder Makroskop, wobei von einer Beleuchtungsquelle emittiertes Licht über einen Beleuchtungsstrahlengang auf ein zu beleuchtendes Objekt, wobei wenigstens eine in dem Beleuchtungsstrahlengang positionierbare transparente oder semitransparente, selbstleuchtende Schicht, welche mit einer Anzahl von einzeln ansteuerbaren Bereichen zur Bereitstellung einer positionsabhängigen Beleuchtungskorrektur ausgebildet ist.
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