公开(公告)号：LU92740A1

公开(公告)日：2016-12-12

申请号：LU92740

申请日：2015-06-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： GUGEL HILMAR ,  NEUGART FELIX ,  BÖHM INGO

IPC: G02B21/00 ,  G02B5/28

CPC classification number: G02B21/0064 ,  G02B5/28 ,  G02B21/0076

公开(公告)号：DE102017119169A1

公开(公告)日：2018-02-22

申请号：DE102017119169

申请日：2017-08-22

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： NEUGART FELIX

IPC: G02B21/06 ,  G01B9/04 ,  G02B21/00

Abstract: Die Erfindung betrifft Verfahren zur SPIM-Untersuchung einer Probe (1), bei dem mindestens eine Probenschicht (7, 15, 16, 17) der Probe (1) mit Beleuchtungslicht (3) beleuchtet wird und bei dem von der mindestens einen beleuchteten Probenschicht (7, 15, 16, 17) ausgehendes Detektionslicht (8) detektiert wird. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass das Beleuchtungslicht (3) mittels eines im Lichtweg des Beleuchtungslichtes angeordneten optischen Gitters (6) räumlich aufgespalten wird. Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung zur SPIM-Untersuchung einer Probe.

公开(公告)号：DE112016004624A5

公开(公告)日：2018-06-28

申请号：DE112016004624

申请日：2016-10-10

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： NEUGART FELIX

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/36 ,  G02B27/10 ,  G02B27/14

公开(公告)号：LU92846B1

公开(公告)日：2017-05-02

申请号：LU92846

申请日：2015-10-09

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： NEUGART FELIX

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/36 ,  G02B27/10 ,  G02B27/14

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Beleuchten einer Probenschicht mit einem Lichtblatt, das sich entlang einer Lichtblattebene ausbreitet, bei der SPIM- Mikroskopie, sowie ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe, bei dem eine Probenschicht einer Probe unter Anwendung eines solchen Verfahrens beleuchtet wird. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass das Lichtblatt mittels eines Winkelspiegels mit wenigstens einer ersten und einer zweiten Spiegelfläche umgelenkt wird, wobei die erste Spiegelfläche einen ersten Teil des Lichtblattes reflektiert und die zweite Spiegelfläche einen zweiten Teil des Lichtblattes reflektiert und wobei der erste Teil des Lichtblattes und der zweite Teil des Lichtblattes nach der Umlenkung räumlich überlagern

公开(公告)号：LU92740B1

公开(公告)日：2016-12-12

申请号：LU92740

申请日：2015-06-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： GUGEL HILMAR ,  NEUGART FELIX ,  BÖHM INGO

IPC: G02B21/00 ,  G02B5/28