公开(公告)号：DE10108240B4

公开(公告)日：2018-06-28

申请号：DE10108240

申请日：2001-02-21

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： OLSCHEWSKI FRANK ,  NICKEL JOCHEN

IPC: G01B9/04 ,  G01B11/00 ,  G01B11/03 ,  G01C11/02 ,  G06T7/60

Abstract: Verfahren zur Abbildung und Vermessung mikroskopischer dreidimensionaler Strukturen mit folgenden Schritten:• Darstellen eines Datensatzes in 3-dimensionaler Form auf einem einem Mikroskop zugeordneten Display (27);• Vorgeben mindestens einer beliebigen Schnittposition und beliebiger Drehwinkel;• Drehen der 3-dimensionalen Darstellung auf dem Display (27) bis eine in der 3-dimensionalen Form enthaltene Struktur eine einem Benutzer geeignet erscheinende Darstellung auf dem Display wiedergibt; und• Durchführen eines Analysevorgangs an der Struktur, dadurch gekennzeichnet, dass bei der Vorgabe des Drehwinkels eine Transformationsmatrix berechnet wird und bei Vorgabe der Schnittposition entsprechende Schnittebenen berechnet werden, wobei die entsprechenden Schnittebenen auf dem Display (27) dargestellt werden und die Darstellung der Schnittgeometrie in Form eines Drahtgittermodells aus einem äußeren und inneren Quader (60, 62) realisiert wird.

公开(公告)号：DE102004004115A1

公开(公告)日：2005-08-11

申请号：DE102004004115

申请日：2004-01-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： OLSCHEWSKI FRANK ,  NICKEL JOCHEN ,  HAY WILLIAM C

IPC: G02B21/36 ,  H04N5/235 ,  G02B21/00

Abstract: A microscope system includes at least one lens that defines an illumination field and at least one light source that emits an illuminating light beam for illuminating a specimen through the lens. At least one detector is provided for, pixel-by-pixel, detecting a detection light beam coming from the specimen. An electronic circuit is connected downstream from the detector, the electronic circuit including a memory unit for storing a wavelength-dependent brightness distribution of an illumination field of the at least one lens. The electronic circuit employs, pixel-by-pixel, the stored wavelength-dependent brightness distribution so as to form a homogeneously illuminated image field. An actuatable element is provided for controlling, pixel-by-pixel, an intensity of the illuminating light beam as a function of the stored wavelength-dependent brightness distribution so as to homogeneously illuminate the illumination field.

公开(公告)号：DE102004004115B4

公开(公告)日：2016-08-18

申请号：DE102004004115

申请日：2004-01-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： OLSCHEWSKI FRANK ,  NICKEL JOCHEN ,  HAY WILLIAM C

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B21/36 ,  H04N5/235

Abstract: Ein Mikroskopsystem (1) mit mindestens einer im Mikroskopsystem (1) vorhandenen Optik (9), die ein Beleuchtungsfeld (46) definiert, mindestens einer Lichtquelle (3), die einen Beleuchtungslichtstrahl (5) emittiert, der durch die Optik (9) hindurch eine Probe (10) beleuchtet, mindestens einem Detektor (20), der einen von der Probe (10) ausgehenden Detektionslichtstrahl (12) pixelweise detektiert, einer, dem Detektor (20) nachgeschalteten, elektronischen Schaltung (14) mit einer Speichereinheit (15), in der eine wellenlängenabhängige Helligkeitsverteilung des Beleuchtungsfelds (46) der im Mikroskopsystem (1) vorhandenen Optiken (9) abgelegt ist, dadurch gekennzeichnet, dass ein ansteuerbares Element (13) vorgesehen ist, das die Intensität des Beleuchtungslichtstrahls (5) pixelweise in Abhängigkeit von der gespeicherten, wellenlängenabhängigen Helligkeitsverteilung steuert, so dass das Beleuchtungsfeld (46) homogen beleuchtet ist, und dass die elektronische Schaltung (14) pixelweise die mit dem Detektor (20) aufgenommenen Daten mit der abgelegten, wellenlängenabhängigen Helligkeitsverteilung derart verrechnet, dass ein homogen ausgeleuchtetes Bildfeld (40) entsteht.

公开(公告)号：DE10143441A1

公开(公告)日：2003-03-27

申请号：DE10143441

申请日：2001-09-05

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： OLSCHEWSKI FRANK ,  NICKEL JOCHEN

IPC: G02B21/36 ,  G06K9/00 ,  G06T7/20 ,  G06T9/00 ,  G02B21/00

Abstract: A microscope system ( 4 ) for the observation of dynamic processes comprises a microscope ( 50 ) having at least one detector ( 19 ), and a computer ( 34 ). A buffer memory ( 54 ) precedes a comparator ( 58 ) that compares image contents of at least two successive image frames ( 56 k and 56 k+1 ). Depending on the result obtained from the comparator ( 58 ), the image frames are stored in different segments of a data structure ( 66 ) that is provided.

公开(公告)号：DE10108240A1

公开(公告)日：2002-08-22

申请号：DE10108240

申请日：2001-02-21

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： OLSCHEWSKI FRANK ,  NICKEL JOCHEN

IPC: G01B9/04 ,  G01B11/03 ,  G01B11/00 ,  G01C11/02 ,  G06T7/60

Abstract: Method for imaging and measuring microscopic 3-D structures has the following steps: representation of a data set in 3-D form on a microscope display (27); entry of one or more intersection points and a chosen rotation angle; rotation of the 3-D representation of the display until a 3-D structure is displayed as desired by a user; and subsequent analysis of the structure. Windows (40, 42, 44) on the display are used for setting rotation view, coordinates, rotational angle and intersection point, while cross hairs (70) are to interactively change the position of the intersection point. An Independent claim is made for an arrangement for imaging and measurement of microscopic 3-D structures, using a microscope, microscope display (27), a PC and a PC input device.