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公开(公告)号:DE102019109607A1
公开(公告)日:2020-02-13
申请号:DE102019109607
申请日:2019-04-11
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: KNEBEL WERNER , FAHRBACH FLORIAN , REMACHA MOTTA ELENA
Abstract: Beschrieben ist eine Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop, insbesondere ein Lichtblatt- oder SPIM-Mikroskop oder ein Schiefeebenemikroskop, wie ein OPM- oder SCAPE-Mikroskop, zur Beleuchtung einer Probe, wobei die Beleuchtungsanordnung einen Beleuchtungseingang zur Einspeisung eines Beleuchtungsstrahlenbündels einer kohärenten Lichtquelle entlang einer optischen Achse der Beleuchtungsanordnung, ein Mittel zur Aufteilung des Beleuchtungsstrahlenbündels in mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel, ein fokussierendes optisches System zur Fokussierung der mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel und einen einer Probenseite zugewandten Beleuchtungsausgang zur Ausgabe der mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel zur Probenseite, aufweist. Das fokussierende optische System fokussiert die mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel und bringt sie in einem Bereich am probenseitigen Beleuchtungsausgang so zur Überlagerung, dass die Teilbeleuchtungsstrahlenbündel ein Interferenzmuster ausbilden.