公开(公告)号：GB2475768A

公开(公告)日：2011-06-01

申请号：GB201018955

申请日：2010-11-09

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHULTE LUDGER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01B9/04 ,  G02B21/00

Abstract: A microscope for examining an object comprising a laser light source (22) which generates pulsed laser light for illuminating the object and a detector and a measuring system (24, 26) for detecting light from the object and generating a measurement signal (M2) in dependence on the detected detection light. A programmable integrated circuit (20) comprises a control element (32), which for controlling the detector and the measuring system (24, 26) generates a first control signal (M4) and for controlling the laser light source (22) generates a second control signal (M6), a first delay element (36) which delays the first control signal (M4) and/or a second delay element (34) which delays the second control signal (M6). The programmable IC allows the control signal delays to be adjusted to compensate tolerances of the microscope components and allows easier modification of components of the microscope.

公开(公告)号：DE102009055993A1

公开(公告)日：2011-06-01

申请号：DE102009055993

申请日：2009-11-26

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHULTE LUDGER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00

Abstract: Eine Vorrichtung nach Art eines Mikroskops zum Untersuchen eines Objekts hat eine Laserlichtquelle (22), die gepulstes Laserlicht zum Beleuchten des Objekts erzeugt, und ein Detektor- und Messsystem (24, 26), das von dem Objekt ausgehendes Detektionslicht erfasst und abhängig von dem erfassten Detektionslicht ein Messsignal (M2) erzeugt. Ein programmierbarer integrierter Schaltkreis (20) umfasst ein Steuerelement (32), das zum Steuern des Detektor- und Messsystems (24, 26) ein erstes Steuersignal (M4) und zum Steuern der Laserlichtquelle (22) ein zweites Steuersignal (M6) erzeugt, ein erstes Verzögerungselement (36), das das erste Steuersignal (M4) verzögert, und/oder ein zweites Verzögerungselement (34), das das zweite Steuersignal (M6) verzögert.

公开(公告)号：GB2475768B

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：GB201018955

申请日：2010-11-09

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHULTE LUDGER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01B9/04 ,  G02B21/00

Abstract: A microscope for examining an object includes a laser light source generating pulsed light so as to illuminate the object. A measuring system including a detector is adapted to detect detection light coming from the object and the measuring system generates a measurement signal based on the detection light. The microscope includes a programmable integrated circuit including a control element and at least one of a first delay element and a second delay element. The control element is configured to generate a first control signal adapted to control the detector and the measuring system. The control element is further configured to generate a second control signal adapted to control the laser light source. The first and second delay elements are configured to delay the first and second control signals, respectively.