Sn vapor EUV LLP source system for EUV lithography
    1.
    发明申请
    Sn vapor EUV LLP source system for EUV lithography 有权
    用于EUV光刻的Sn蒸气EUV LLP源系统

    公开(公告)号:US20140326904A1

    公开(公告)日:2014-11-06

    申请号:US14260306

    申请日:2014-04-24

    Abstract: A Sn vapor EUV LLP source system for EUV lithography is disclosed. The system generates a Sn vapor column from a supply of Sn liquid. The Sn column has a Sn-atom density of

    Abstract translation: 公开了一种用于EUV光刻的Sn蒸气EUV LLP源系统。 该系统从Sn液体供应产生Sn蒸气柱。 Sn柱的Sn原子密度<1019 atoms / cm3,以声速或接近声速行进。 该系统还具有一个Sn蒸汽冷凝器,其布置成接收Sn蒸气柱并冷凝Sn蒸气以形成再循环的Sn液体。 脉冲激光照射Sn蒸气柱的一部分。 每个脉冲产生电子密度<1019电子/ cm 3的低密度Sn等离子体,从而允许低密度Sn等离子体基本上各向同性地发射EUV辐射。

    Sn vapor EUV LLP source system for EUV lithography
    2.
    发明授权
    Sn vapor EUV LLP source system for EUV lithography 有权
    用于EUV光刻的Sn蒸气EUV LLP源系统

    公开(公告)号:US09585236B2

    公开(公告)日:2017-02-28

    申请号:US14260306

    申请日:2014-04-24

    Abstract: A Sn vapor EUV LLP source system for EUV lithography is disclosed. The system generates a Sn vapor column from a supply of Sn liquid. The Sn column has a Sn-atom density of

    Abstract translation: 公开了一种用于EUV光刻的Sn蒸气EUV LLP源系统。 该系统从Sn液体供应产生Sn蒸气柱。 Sn柱的Sn原子密度<1019 atoms / cm3,以声速或接近声速行进。 该系统还具有一个Sn蒸汽冷凝器,其布置成接收Sn蒸气柱并冷凝Sn蒸气以形成再循环的Sn液体。 脉冲激光照射Sn蒸气柱的一部分。 每个脉冲产生电子密度<1019电子/ cm 3的低密度Sn等离子体,从而允许低密度Sn等离子体基本上各向同性地发射EUV辐射。

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