Abstract:
Provided is an observation apparatus and an observation method with which it is possible to observe imaging subjects, such as cells or the like, without labeling the imaging subjects and without causing an increase in the apparatus size. Provided is an observation apparatus (1) including: a light-source unit (5) that emits illumination light upward from below a sample (X); and an image-capturing optical system (6) that has an objective lens (4) that collects transmitted light, which is the illumination light emitted from the light-source unit (5) that has passed through the sample (X) by being reflected above the sample (X) and that captures, below the sample (X), the transmitted light collected by the objective lens (4).
Abstract:
With an interference light prevented from occurring by inserting a shutter into an optical path on a reference light side prior to an observation by means of an optical scanning probe using light such as a low-coherency light source, a reference member is moved by a drive device on an observation optical path side by the optical scanning probe to set the reference member to the focal point position of a condensing optical system so as to maximize the output of a photodetector, and then the shutter is opened to move and set a mirror position on the reference light side so as to maximized the output of a light detecting means, whereby it is possible to simply and smoothly set an optical scanning type observation device so as to be kept in excellent optical characteristic conditions.
Abstract:
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Probe effizient zu beleuchten und die Probe stereoskopisch und hochpräzise durch schräge Beleuchtung zu beobachten, ohne dass die Vorrichtung größer gemacht werden muss. Eine Beobachtungsvorrichtung (1) gemäß der vorliegenden Erfindung ist ausgestattet mit: einem Lichtquellenabschnitt (5), der Beleuchtungslicht in einer Richtung nach oben von unterhalb einer auf einer Bodenfläche (2b) eines Behälters (2) platzierten Probe (X) emittiert; und ein optisches Abbildungssystem (6), welches unterhalb der Probe (X) transmittiertes Licht aufnimmt, welches das Beleuchtungslicht ist, das von dem Lichtquellenabschnitt (5) emittiert, über der Probe (X) reflektiert und durch die Probe (X) transmittiert wurde, wobei der Lichtquellenabschnitt (5) ausgestattet ist mit: einer LED-Lichtquelle (7), welche das Beleuchtungslicht erzeugt; einer Sammellinse (8), welche parallel zu der Bodenfläche (2b) des Behälters (2) angeordnet ist und das Beleuchtungslicht von der LED-Lichtquelle (7) sammelt; und eine Streuscheibe (9), welche zwischen der Sammellinse (8) und der Bodenfläche (2b) des Behälters (2) parallel zu der Bodenfläche (2b) angeordnet ist und die das von der Sammellinse (8) gesammelte Beleuchtungslicht streut, und wobei die LED-Lichtquelle (7) derart angeordnet ist, dass eine optische Achse davon von einer optischen Achse der Sammellinse (8) in einer Richtung weg von dem Abbildungssystem (6) verschoben ist.
Abstract:
Um ein deutliches Endbild zu erhalten, indem vermieden wird, dass ein Fehler, ein Fremdkörper, eine Störstelle und so weiter auf einem optischen Element ein Zwischenbild überlagert, auch wenn das Zwischenbild an einer Position erzeugt wird, die mit dem optischen Element übereinstimmt, umfasst ein Einstellsystem für ein Phasenmodulationselement (1) gemäß der vorliegenden Erfindung Folgendes: Eine Einstelleinheit für die Positionsbeziehung (3), die für eine konfokale Laser-Scanning-Beobachtungsvorrichtung (100) verwendet wird, umfassend eine Vielzahl von bilderzeugenden Linsen (55) zur Erzeugung eines Endbildes und mindestens eines Zwischenbildes und ein Wellenfront-Störelement (37) und ein Wellenfront-Wiederherstellungselement (51), das an Positionen angeordnet ist, zwischen denen ein beliebiges der Zwischenbilder, die von den bilderzeugenden Linsen (55) erzeugt werden, angeordnet ist und die einander entgegengesetzte Phasenmerkmale aufweisen und das in der Lage ist, eine relative Positionsbeziehung zwischen dem Wellenfront-Störelement (37) und dem Wellenfront-Wiederherstellungselement (51) einzustellen; eine Messeinheit der Wellenfront-Aberration (5) zur Messung einer Wellenfront-Aberration von Licht, das von einem Objekt kommt und das das Wellenfront-Störelement (37) und das Wellenfront-Wiederherstellungselement (51) passiert hat; und einen Prozessor zur Steuerung der Einstelleinheit für die Positionsbeziehung (3), so dass sich die von der Messeinheit der Wellenfront-Aberration (5) gemessene Wellenfront-Aberration verringert.
Abstract:
Um Objekte wie Zellen markierungsfrei und ohne Vergrößerung der Gerätegröße zu beobachten, umfasst eine Beobachtungsvorrichtung (1) gemäß der vorliegenden Erfindung ein optisches Beleuchtungssystem (6), das Beleuchtungslicht schräg nach oben von unterhalb einer Probe (X) emittiert; und ein optisches Objektivsystem (5), welches transmittiertes Licht abbildet, welches das vom optischen Beleuchtungssystem (6) emittierte, über der Probe (X) reflektierte und durch die Probe (X) transmittierte Beleuchtungslicht ist, wobei das optische Objektivsystem (5) das transmittierte Licht unterhalb der Probe und in einem vom optischen Beleuchtungssystem (6) getrennten Strahlengang abbildet. Das optische Beleuchtungssystem (6) umfasst eine Lichtquelle (6a); eine Blende (6c), die Licht von der Lichtquelle (6a) auf einen bestimmten Emissionsbereich (6e) begrenzt; und ein kollimierendes optisches System (6d), das bewirkt, dass das durch die Blende (6c) begrenzte Licht im Wesentlichen parallel wird, und das optische Beleuchtungssystem (6) ist so angeordnet, dass, wenn der Emissionsbereich (6e) auf eine Pupillenebene des optischen Objektivsystems (5) projiziert wird, ein Projektionsbild des Emissionsbereichs (6e) einen Randbereich der Pupille teilweise überlappt.
Abstract:
Eine Beobachtungsvorrichtung (1) ist ausgestattet mit: einem optischen Beleuchtungssystem (5), welches Beleuchtungslicht nach oben von unterhalb einer Probe (X) emittiert; und ein optisches Abbildungssystem (6), welches unterhalb der Probe (X) transmittiertes Licht aufnimmt, welches das Beleuchtungslicht ist, das oberhalb der Probe (X) reflektiert wurde und die Probe (X) passiert hat, wobei das optische Beleuchtungssystem (5) mit einer Streuscheibe (8) ausgestattet ist, wobei das optische Abbildungssystem (6) mit einer Objektivoptik (4) ausgestattet ist, und, wenn ein Emissionsbereich in dem optischen Beleuchtungssystem (5) auf eine Pupille des optischen Abbildungssystems (6) projiziert wird, die folgenden Bedingungen erfüllt sind, um das Beleuchtungslicht an einem Kantenabschnitt der Pupille der Objektivoptik (4) teilweise abzublocken.
Abstract:
The invention provides an optical-scanning examination apparatus with a simple configuration, in which the resolution of acquired images can be freely changed and in which the fluorescence image intensity and examination depth can be adjusted to suit the purpose of examination. The optical-scanning examination apparatus includes a light source unit; a focusing lens for forming a first intermediate image of excitation light; an imaging lens; a first objective lens; an optical fiber bundle; a second objective lens; and an imaging unit for imaging return light that returns via the second objective lens, the optical fiber bundle, the first objective lens, and the imaging lens. In addition, a scanning mirror device, which is disposed at the first intermediate image position, is formed of a plurality of mirrors that simultaneously receive the first intermediate image and that can be selectively turned on and off.
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a favorable image by sufficiently correcting aberration.SOLUTION: A focus variable optical system 4 includes: a front group optical system 10 having positive power and a rear group optical system 12 having the same positive power; and an optical system driving unit for relatively changing a distance therebetween along an optical axis direction. The front group optical system 10 includes: a first group optical system G1 having positive power constituted of a cemented lens W2 of a lens L1 and a lens L2; a second group optical system G2 having positive power constituted of a lens L3; and a third group optical system G3 constituted of a lens L4 and a lens L5. The rear group optical system 12 includes a fourth group optical system G4 having positive power constituted of a lens L7 and a lens L6; a fifth group optical system G5 constituted of a lens L8 having positive power; and a sixth group optical system G6 having positive power constituted of a cemented lens W19 of a lens L10 and a lens L9.
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a weak light observation microscope and weak light obtaining method that are able to shorten the time for which an imager is exposed, use a low magnification lens, and allow photographing of a speedily changing observation object.SOLUTION: In the weak light observation microscope having an imaging optical system 1 including an objective lens 1a, an imaging lens 1b, and an imager 1c and configured to obtain specific weak light emitted from an observation object 10 via the imaging optical system 1, a light returning optical system 2 having a second objective lens 2a, a second imaging lens 2b, and a mirror 2c arranged in conjugation with the observation object 10 is provided opposite the imaging optical system 1 with respect to the observation object 10. Using the imaging optical system 1, specific weak light made incident on the first objective lens 1a from the observation object 10 is obtained. Also, using the light returning optical system 2, specific weak light emitted from the observation object 10 to a side different from the imaging optical system 1 side is returned to the observation object 10, and light is made incident on the first objective lens 1a from the observation object 10.