Beobachtungsvorrichtung
    4.
    发明专利

    公开(公告)号:DE112016007200T5

    公开(公告)日:2019-06-06

    申请号:DE112016007200

    申请日:2016-09-06

    Applicant: OLYMPUS CORP

    Inventor: HIRATA TADASHI

    Abstract: Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Probe effizient zu beleuchten und die Probe stereoskopisch und hochpräzise durch schräge Beleuchtung zu beobachten, ohne dass die Vorrichtung größer gemacht werden muss. Eine Beobachtungsvorrichtung (1) gemäß der vorliegenden Erfindung ist ausgestattet mit: einem Lichtquellenabschnitt (5), der Beleuchtungslicht in einer Richtung nach oben von unterhalb einer auf einer Bodenfläche (2b) eines Behälters (2) platzierten Probe (X) emittiert; und ein optisches Abbildungssystem (6), welches unterhalb der Probe (X) transmittiertes Licht aufnimmt, welches das Beleuchtungslicht ist, das von dem Lichtquellenabschnitt (5) emittiert, über der Probe (X) reflektiert und durch die Probe (X) transmittiert wurde, wobei der Lichtquellenabschnitt (5) ausgestattet ist mit: einer LED-Lichtquelle (7), welche das Beleuchtungslicht erzeugt; einer Sammellinse (8), welche parallel zu der Bodenfläche (2b) des Behälters (2) angeordnet ist und das Beleuchtungslicht von der LED-Lichtquelle (7) sammelt; und eine Streuscheibe (9), welche zwischen der Sammellinse (8) und der Bodenfläche (2b) des Behälters (2) parallel zu der Bodenfläche (2b) angeordnet ist und die das von der Sammellinse (8) gesammelte Beleuchtungslicht streut, und wobei die LED-Lichtquelle (7) derart angeordnet ist, dass eine optische Achse davon von einer optischen Achse der Sammellinse (8) in einer Richtung weg von dem Abbildungssystem (6) verschoben ist.

    Einstellsystem für ein Phasenmodulationselement und Einstellverfahren für ein Phasenmodulationselement

    公开(公告)号:DE112015002582T5

    公开(公告)日:2017-05-04

    申请号:DE112015002582

    申请日:2015-07-15

    Applicant: OLYMPUS CORP

    Inventor: HIRATA TADASHI

    Abstract: Um ein deutliches Endbild zu erhalten, indem vermieden wird, dass ein Fehler, ein Fremdkörper, eine Störstelle und so weiter auf einem optischen Element ein Zwischenbild überlagert, auch wenn das Zwischenbild an einer Position erzeugt wird, die mit dem optischen Element übereinstimmt, umfasst ein Einstellsystem für ein Phasenmodulationselement (1) gemäß der vorliegenden Erfindung Folgendes: Eine Einstelleinheit für die Positionsbeziehung (3), die für eine konfokale Laser-Scanning-Beobachtungsvorrichtung (100) verwendet wird, umfassend eine Vielzahl von bilderzeugenden Linsen (55) zur Erzeugung eines Endbildes und mindestens eines Zwischenbildes und ein Wellenfront-Störelement (37) und ein Wellenfront-Wiederherstellungselement (51), das an Positionen angeordnet ist, zwischen denen ein beliebiges der Zwischenbilder, die von den bilderzeugenden Linsen (55) erzeugt werden, angeordnet ist und die einander entgegengesetzte Phasenmerkmale aufweisen und das in der Lage ist, eine relative Positionsbeziehung zwischen dem Wellenfront-Störelement (37) und dem Wellenfront-Wiederherstellungselement (51) einzustellen; eine Messeinheit der Wellenfront-Aberration (5) zur Messung einer Wellenfront-Aberration von Licht, das von einem Objekt kommt und das das Wellenfront-Störelement (37) und das Wellenfront-Wiederherstellungselement (51) passiert hat; und einen Prozessor zur Steuerung der Einstelleinheit für die Positionsbeziehung (3), so dass sich die von der Messeinheit der Wellenfront-Aberration (5) gemessene Wellenfront-Aberration verringert.

    Beobachtungsvorrichtung
    6.
    发明专利

    公开(公告)号:DE112015007195T5

    公开(公告)日:2018-08-30

    申请号:DE112015007195

    申请日:2015-12-18

    Applicant: OLYMPUS CORP

    Abstract: Um Objekte wie Zellen markierungsfrei und ohne Vergrößerung der Gerätegröße zu beobachten, umfasst eine Beobachtungsvorrichtung (1) gemäß der vorliegenden Erfindung ein optisches Beleuchtungssystem (6), das Beleuchtungslicht schräg nach oben von unterhalb einer Probe (X) emittiert; und ein optisches Objektivsystem (5), welches transmittiertes Licht abbildet, welches das vom optischen Beleuchtungssystem (6) emittierte, über der Probe (X) reflektierte und durch die Probe (X) transmittierte Beleuchtungslicht ist, wobei das optische Objektivsystem (5) das transmittierte Licht unterhalb der Probe und in einem vom optischen Beleuchtungssystem (6) getrennten Strahlengang abbildet. Das optische Beleuchtungssystem (6) umfasst eine Lichtquelle (6a); eine Blende (6c), die Licht von der Lichtquelle (6a) auf einen bestimmten Emissionsbereich (6e) begrenzt; und ein kollimierendes optisches System (6d), das bewirkt, dass das durch die Blende (6c) begrenzte Licht im Wesentlichen parallel wird, und das optische Beleuchtungssystem (6) ist so angeordnet, dass, wenn der Emissionsbereich (6e) auf eine Pupillenebene des optischen Objektivsystems (5) projiziert wird, ein Projektionsbild des Emissionsbereichs (6e) einen Randbereich der Pupille teilweise überlappt.

    Beobachtungsvorrichtung
    7.
    发明专利

    公开(公告)号:DE112017004467T5

    公开(公告)日:2019-05-16

    申请号:DE112017004467

    申请日:2017-08-15

    Applicant: OLYMPUS CORP

    Inventor: HIRATA TADASHI

    Abstract: Eine Beobachtungsvorrichtung (1) ist ausgestattet mit: einem optischen Beleuchtungssystem (5), welches Beleuchtungslicht nach oben von unterhalb einer Probe (X) emittiert; und ein optisches Abbildungssystem (6), welches unterhalb der Probe (X) transmittiertes Licht aufnimmt, welches das Beleuchtungslicht ist, das oberhalb der Probe (X) reflektiert wurde und die Probe (X) passiert hat, wobei das optische Beleuchtungssystem (5) mit einer Streuscheibe (8) ausgestattet ist, wobei das optische Abbildungssystem (6) mit einer Objektivoptik (4) ausgestattet ist, und, wenn ein Emissionsbereich in dem optischen Beleuchtungssystem (5) auf eine Pupille des optischen Abbildungssystems (6) projiziert wird, die folgenden Bedingungen erfüllt sind, um das Beleuchtungslicht an einem Kantenabschnitt der Pupille der Objektivoptik (4) teilweise abzublocken.

    8.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE602005007403D1

    公开(公告)日:2008-07-24

    申请号:DE602005007403

    申请日:2005-03-21

    Applicant: OLYMPUS CORP

    Abstract: The invention provides an optical-scanning examination apparatus with a simple configuration, in which the resolution of acquired images can be freely changed and in which the fluorescence image intensity and examination depth can be adjusted to suit the purpose of examination. The optical-scanning examination apparatus includes a light source unit; a focusing lens for forming a first intermediate image of excitation light; an imaging lens; a first objective lens; an optical fiber bundle; a second objective lens; and an imaging unit for imaging return light that returns via the second objective lens, the optical fiber bundle, the first objective lens, and the imaging lens. In addition, a scanning mirror device, which is disposed at the first intermediate image position, is formed of a plurality of mirrors that simultaneously receive the first intermediate image and that can be selectively turned on and off.

    Focus variable optical system
    9.
    发明专利
    Focus variable optical system 有权
    聚焦可变光学系统

    公开(公告)号:JP2012212128A

    公开(公告)日:2012-11-01

    申请号:JP2012052508

    申请日:2012-03-09

    Inventor: HIRATA TADASHI

    CPC classification number: G02B15/163

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a favorable image by sufficiently correcting aberration.SOLUTION: A focus variable optical system 4 includes: a front group optical system 10 having positive power and a rear group optical system 12 having the same positive power; and an optical system driving unit for relatively changing a distance therebetween along an optical axis direction. The front group optical system 10 includes: a first group optical system G1 having positive power constituted of a cemented lens W2 of a lens L1 and a lens L2; a second group optical system G2 having positive power constituted of a lens L3; and a third group optical system G3 constituted of a lens L4 and a lens L5. The rear group optical system 12 includes a fourth group optical system G4 having positive power constituted of a lens L7 and a lens L6; a fifth group optical system G5 constituted of a lens L8 having positive power; and a sixth group optical system G6 having positive power constituted of a cemented lens W19 of a lens L10 and a lens L9.

    Abstract translation: 要解决的问题:通过充分校正像差来获得有利的图像。 解决方案:聚焦可变光学系统4包括:具有正光焦度的前组光学系统10和具有相同正光焦度的后组光学系统12; 以及用于沿着光轴方向相对地改变其间的距离的光学系统驱动单元。 前组光学系统10包括:由透镜L1的胶合透镜W2和透镜L2构成的具有正光焦度的第一组光学系统G1; 具有由透镜L3构成的正电力的第二组光学系统G2; 以及由透镜L4和透镜L5构成的第三组光学系统G3。 后组光学系统12包括具有由透镜L7和透镜L6构成的正电力的第四组光学系统G4; 由具有正功率的透镜L8构成的第五组光学系统G5; 以及由透镜L10的胶合透镜W19和透镜L9构成的具有正光焦度的第六组光学系统G6。 版权所有(C)2013,JPO&INPIT

    Weak light observation microscope and weak light obtaining method
    10.
    发明专利
    Weak light observation microscope and weak light obtaining method 有权
    弱光观察显微镜和弱光获取方法

    公开(公告)号:JP2012203193A

    公开(公告)日:2012-10-22

    申请号:JP2011067688

    申请日:2011-03-25

    Inventor: HIRATA TADASHI

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a weak light observation microscope and weak light obtaining method that are able to shorten the time for which an imager is exposed, use a low magnification lens, and allow photographing of a speedily changing observation object.SOLUTION: In the weak light observation microscope having an imaging optical system 1 including an objective lens 1a, an imaging lens 1b, and an imager 1c and configured to obtain specific weak light emitted from an observation object 10 via the imaging optical system 1, a light returning optical system 2 having a second objective lens 2a, a second imaging lens 2b, and a mirror 2c arranged in conjugation with the observation object 10 is provided opposite the imaging optical system 1 with respect to the observation object 10. Using the imaging optical system 1, specific weak light made incident on the first objective lens 1a from the observation object 10 is obtained. Also, using the light returning optical system 2, specific weak light emitted from the observation object 10 to a side different from the imaging optical system 1 side is returned to the observation object 10, and light is made incident on the first objective lens 1a from the observation object 10.

    Abstract translation: 要解决的问题:为了提供能够缩短成像器曝光时间的弱光观察显微镜和弱光获取方法,使用低倍率透镜,并且允许拍摄快速变化的观察对象。 解决方案:在具有包括物镜1a,成像透镜1b和成像器1c的成像光学系统1的弱光观察显微镜中,被配置为经由成像光学系统获得从观察对象10发射的特定弱光 如图1所示,与成像光学系统1相对于观察对象10设置有具有与观察对象10共轭配置的第二物镜2a,第二摄像透镜2b和反射镜2c的光返回光学系统2.使用 成像光学系统1获得从观察对象10入射到第一物镜1a上的特定弱光。 此外,使用回光光学系统2,将从观察对象物10发射到与成像光学系统1侧不同的一侧的特定弱光返回到观察对象10,并且使光从第一物镜1a入射到 观察对象10.版权所有(C)2013,JPO&INPIT

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